亚微米门阵列ASIC设计技术

本文主要论述亚微米CMOS门阵列的设计技术,包括建库技术,可测性设计技术、时钟设计技术、电源、地设计技术、电路结构优化、余量设计技术等,最后给出了应用实例。     

雷达伺服控制安全性和可靠性的若干技术设计

介绍了雷达伺服控制安全性和可靠性的若干技术设计,主要包括安全开关技术设计、电机报闸技术设计、电气限位技术设计、稳定平台防倾倒技术设计及跟踪引导数据外推插值预报算法。具体介绍了相关的电讯设计及数据处理方法,并给出了部分实际应用结果。     

低压低功耗模拟集成电路设计技术及展望

低压、低功耗模拟集成电路设计受到多种因素的制约。围绕这些制约因素,回顾了国内外在模拟集成电路低压、低功耗设计领域的方法和技术的发展现状,主要涉及:轨对轨设计技术、亚阈值工作区技术、阈值电压降低技术、组合晶体管技术、横向BJT技术、SOI技术等。分析并比较了各种设计方法的优劣;并对模拟电路低压低功耗设计技术的发展趋势进行了展望。     

SOC技术及系统级低功耗设计

介绍了SOC设计中的IP核可复用技术、软硬件协同设计技术、SOC验证技术、可测性设计技术以及低功耗设计技术。对SOC低功耗设计中的瞬态功耗优化、平均功耗优化以及功耗的物理来源、电容充放电功耗、短路功耗、静电漏电功耗进行了分析。并对典型SOC设计中采取降低芯片和封装电容、降低电源电压,达到降低功耗的技术进行了研究。最后对系统级功耗设计中的电源系统低功耗设计、工作系统低功耗设计进行了探讨。     

虚拟现实环境下计算机图形图像设计与视觉传达设计

随着计算机技术的不断发展以及我国总体设计水平的提升,在图形图像平面设计与视觉传达设计中,设计人员引入了更多的新技术、新手段、新理念。不论是从图形的元素来看,还是从图像的逼真性来看,都与传统设计的成品相比产生了质的差异。特别是在虚拟现实技术与计算机处理技术的有力支撑下,图形图像的设计元素更加多元化、结构造型更加现代化、设计形式更加多样化。由于虚拟现实技术集多种设计技术为一体,因此其广泛融合了传感技术以及图像、图形设计等诸多设计理念,从而为我国媒介传播奠定了重要的技术基础。对此,本文将重点以虚拟现实技术为研究视角,结合不同设计内容,对计算机图像图形设计与视觉传达设计的相关要点进行分析论述。     

一个指挥通信系统数据库的设计和实现

描述了在ＶＦＰ环境下,一个指挥通信系统数据库的设计和实现方法。介绍了数据库设计中的用户界面设计技术、应用系统工具栏设计技术、多媒体技术、数据交换技术、安全保密措施等关键技术。     

20万门CMOS门阵列设计技术

本文主要介绍0.8umCMOS门阵列的设计技术,包括建库技术,可测性设计技术、时钟设计技术、电源、地设计技术、电路结构优化、余量设计技术等,最后介绍了20万门母片及电路的主要参数。     

雷达系统测试性设计

良好的测试性设计对雷达系统而言,可以有效地提高其维修性、保障性,降低全寿命周期费用。简要回顾了测试性的发展,指出了测试性设计对雷达系统的重要性和必要性,并给出了雷达系统的测试性设计的基本原则。从网络化设计、分层次设计、外场可更换模块（LRM）设计、校正维护设计和故障诊断设计等方面详细介绍了雷达系统的机内测试（BIT）设计,对原位检测设计和自动测试设备（ATE）设计进行了简要介绍。随着雷达技术的不断发展,在BIT技术、ATE技术进行创新发展的同时,还应积极探索综合诊断技术、预测和健康管理（PHM）技术等新的诊断方法在雷达系统测试性设计中的应用。     

电子通讯设备的可靠性设计技术探讨

介绍了保障可靠性指标的设计技术、电磁兼容设计技术、热设计技术、耐环境设计技术和软件可靠性设计技术等在电子通讯设备中的应用。     

浅谈电子通讯设备的可靠性设计技术分析

将提高电子通讯设备的可靠性,提升到从产品设计源头上抓起,一方面提高了产品质量,另一方面降低了开发成本,提高了产品市场竞争力。文章针对电子设备可靠性技术内容,着重探析了保障可靠性指标的设计技术、EMC设计技术和软件可靠性设计技术。     

一种新型TTL非门电路的设计

叙述了一种新型ＴＴＬ非门电路的设计思路，电路工作原理和调试实验，人析了其集成的可行性，说明了新电路如何克服现有的ＴＴＬ非门电路自身的弱点，使其工作更加稳定可靠，这种新型ＴＴＬ门电路的应用提高了数字逻辑电路工作的稳定性。     

微弱光信号检测电路的设计和噪声分析

针对光信号检测电路对微弱光信号放大所带来的带宽和信噪比的问题,设计了一种微弱光信号检测电路。通过动态补偿的方法,在保证低噪声的同时使电路拥有良好的响应度。并通过电路的波特图形分析了电路的噪声,给出了减小电路噪声的方法。该电路主要用于检测快速变化的微弱光信号。     

一种实时检测芯片内部温度的电路实现

传统的基于Verster原理检测芯片内部温度的电路有着误差较大、结构相对复杂的缺点。在传统电路基础上提出了一种采用电流镜法的实现电路，此种电路能够避免由于温度对器件的影响而造成的误差，且电路结构简单。对此电路及性能指标进行了模拟仿真，结果表明了此电路灵敏度高、误差小。     

Realization of New Mutually Coupled Circuit Using CC-CBTAs

A novel circuit for the realization of the mutually coupled circuit using three current-controlled current backward transconductance amplifiers (CC-CBTAs) as active components is proposed. The active mutually coupled circuit structures are also called the synthetic transformers. The circuit is derived by using three floating simulated inductors that are connected as the T-type transformer model. The circuit has the following attractive advantages: (i) The values of a primary self-inductance, a secondary self-inductance and a mutual inductance can be independently tuned by the transconductance gain of the CC-CBTAs; (ii) The circuit uses three grounded capacitors that are suitable from the point of integrated circuit implementation; (iii) It uses only three active components; (iv) It has a good sensitivity performance with respect to the tracking errors; (v) Both positive and negative couplings are achieved and the coupling coefficient is not limited by 1 in magnitude; (vi) Symmetrical coupling is achieved without necessitating any matching condition; (vii) The proposed circuit has a floating structure.     

多位LED串行显示电路设计与应用

74HC595A芯片具有串行输入、并行输出功能,利用该集成电路可设计多位LED(发光二极管)串行显示电路。文中介绍了利用该芯片设计的12位LED串行显示电路,详细说明了该电路的工作原理及编程思路,并给出了参考程序。该电路只占用单片机3根口线,较并行显示方式极大地节省了系统资源,已在实际系统中得到应用。     

一种实用型直流电机控制电路的设计

介绍了由半桥驱动电路以及转向控制电路构成的一种新型、结构简单、调试方便、实用的直流电机控制电路的实现方法,并阐述了电路的组成以及设计过程。实践证明,该套直流电机控制电路能克服传统的H桥控制电路中结构复杂、死区时间不易控制的问题,特别在大功率电机的控制方面该系统具有比传统H桥控制电路更优良的工作性能。     

An AC-powered experimental memory circuit with a resistively loaded sense circuit

The design and fabrication of an ac-powered experimental memory circuit for Josephson cache memories are reported. The circuit contains a memory cell array and a sense circuit. The sense circuit consists of RCJL gates, symmetrical three-junction sense gates, and transmission lines. An experimental memory circuit has been fabricated by 2-µm Pb-alloy processes. A proper circuit operation, has been verified using a bipolar trapezoidal waveform current. A ±23-percent sense current margin and a ±29-percent OR gate bias current margin were obtained. A typical 130-ps sense time was estimated for a 1-kbit memory by computer simulations.     

Analysis of Millimeter Wave Varactor-Tuned Gunn Oscillator Stabilized with a Transmission Cavity

A novel circuit architecture which describes millimeter wave varactor-tuned Gunn oscillator stabilized with a transmission cavity has been proposed in this paper. A corresponding equivalent circuit model has been presented in order to study its performance characteristics. The circuit model consists of four parts which are varactor cavity, main cavity, transmission waveguide and transmission cavity. Based upon this model, electrical tuning characteristics have been studied at first. Mode jumping problems during electrical tuning process have been analyzed qualitatively. Moreover, quality factor and efficiency of the circuit model have been derived by virtue of relevant circuit parameters. The effects of some important circuit parameters affecting circuit performance parameters have been discussed. The circuit model can describe the circuit architecture accurately and effectively. This circuit architecture, which can generate signals exhibiting low frequency modulation noise, high frequency stabilization and electrical tunable characteristics, is applicable to various practical situations.     

斐波那契数列与电路分析

斐波那契数列在许多科技领域都得到了应用,但在电路中却鲜有提及.本文讨论了斐波那契数列在电路中的表现和应用.笔者在文中给出了斐波那契数列与特定矩阵的关系,在电路中研究斐波那契数列的两个派生数列;应用斐波那契数列的性质和极限思想完成特定电路分析和计算,并从电路的角度讨论并验证斐波那契数列的相关特性.     

Analog circuit fault diagnosis based on noise measurement

In this paper, an analog circuit fault diagnosis method using a noise measurement and analysis approach is suggested. Compared to the conventional circuit fault diagnosis methods, this method can discover hidden and early circuit fault caused by the device defects. Since circuit fault diagnosis is more difficult than device-defect detection, in this paper the circuit output noise calculation, the comparison between the normal and failure conditions and the circuit fault diagnosis method have been discussed. Finally, an example of an active filter circuit fault diagnosis has been given by using this method.