高加速应力试验(HALT&HASS)

阐述了高加速应力试验的本质是通过施加远超过产品设计规范规定的各种应力,快速地将产品内部的薄弱环节和缺陷激发出来,为改进设计和剔除早期故障提供信息.高加速应力试验的优点是可以得到高可靠的产品,且大大缩短产品研制进度和降低成本.这里列举了部分在IT、电子、机电等设备上成功应用HALTHASS取得效果的国际企业。     

高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术综述

高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术是近几年不断发展起来的可靠性新技术。就HALT＆HASS技术与传统的可靠性试验进行比较,重点阐述HALT＆HASS的概念、特点以及测试步骤和注意事项。     

高加速寿命试验和高加速应力筛选技术

文中简单介绍高加速寿命试验和高加速应力筛选（HALT＆HASS）技术,重点从其原理、试验方法阐述该技术如何缩减研发时间与成本,达到提高产品可靠性和增强市场竞争力的目的。     

高加速寿命试验和高加速应力筛选技术综述

介绍高加速寿命试验和高加速应力筛师技术的概念、测试步骤,并举例说明HALT和HASS试验箱的性能指标和详细参数、HALT和HASS试验系统的校准方法及注意事项。     

中茂电子推广高加速寿命测试及应力筛选

日前,中茂电子(深圳)有限公司举办了“HALT & HASS测试技术研讨会”。该公司量测仪器事业部负责人吴建德先生介绍了HALT和HASS的发展和应用等方面的问题。HALT测试HALT加速寿命试验包括四个主要过程:温度应力(temp step stress)、高速温度传导(rapid thermal transitions)、随机振动(random vibration)和温度及振动合并应力(combine environment oftemperature and vibration)。1.温度阶段应力:这项试验分为低温及高温两个阶段应力,首先执行低温阶段应力(Low Temp Step Stress),将待测物放在综合环境试验机(OVS CombinedStres…     

高加速寿命试验(HALT)与高加速环境应力筛选(HASS)

将高加速寿命试验与高加速环境应力筛选引入产品的设计、研制和生产中，可在产品批量生产前消除设计缺陷，缩减开发时间和成本，快速提高产品的可靠性并增强市场竞争力。     

高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术研究

高加速寿命试验（HALT,highly accelerated life test）和高加速应力筛选试验（HASS,highly accelerated stress test）技术是近年来不断发展起来的可靠性新技术,其工作原理、试验目的、应力要求等与传统的可靠性试验有所不同,是考核与提高产品质量与可靠性的强有力的工具。本文将就HALT＆HASS技术与传统的可靠性试验进行比较,重点阐述HALT＆HASS的特点、关键保证,以及如何利用现有可靠性试验设备逐步开展该试验,以达到缩减研发时间与成本,提高产品可靠性和增强市场竞争力的目的。     

高加速应力筛选(HASS)概述

高加速应力筛选（HASS）是一种新兴的试验技术，用于产品的生产阶段。在暴露和剔除产品的制造和工艺缺陷，提高可靠性，降低野外失败和返修率等方面非常有效。从研究开发HASS的背景出发，介绍了HASS的目的及作用，重点探讨了高加速的基本原理，典型的HASS过程。     

高加速应力试验及极限应力试验综述

介绍了高加速应力试验(HAST)及极限应力试验(limit test)的基本概念和相关背景,列举了当前国内外一些常用的技术方法、工程应用状况、试验模型及分析方法、试验剖面的建立及失效机理的确定等。指出了高加速应力试验及极限应力试验要注意的问题,并对它们的发展动向作了简单的预测。     

电子设备可靠性的加速试验

简要介绍了可靠性加速试验基本原理和一般流程,以及可靠性试验技术形成和发展。提出了可靠性加速试验的实施规划,并重点阐述了可靠性加速试验中的高加速寿命试验（HALT）和高加速应力筛选试验（HASS）的相关内容,详细介绍了两者的区别和实施方法。针对试验应力类型选择、试验层次和试验条件的确定等方面进行了说明,给出了基本应用原则...     

加速极限试验方法综述

介绍了高加速极限试验(HALT)与传统的可靠性试验的差异性,以及HALT和高加速应力筛选(HASS)技术及其应用;并对HALT/HASS技术的实施方案,HALT/HASS试验中应注意的问题,以及如何正确地看待HALT/HASS技术在产品研发与生产中的作用等内容进行了综述。     

高加速应力筛选定量评价的应用探讨

以某航空电子产品为对象,尝试通过HASS等效转化为传统筛选的方法进行筛选定量评价,探讨一套基于GJB/Z 34-1993,而且易以工程实施的HASS筛选定量评估方法,为军工电子产品批产可靠性控制应用新技术提供借鉴。     

定数截尾Weibull分布下恒定应力加速寿命试验统计分析

设产品寿命服从Weibull分布，尺度参数为η＞0，形状参数为m＞0，在加速应力水平Si下，加速方程为Inηi=a＋bφ（Si）（i=1，2，…，k）本文绘出了定数截尾Weibull分布各应力下形状参数mi的极大似然估计的一种改进迭代算法，利用[1]类似的方法对各应力下所得估计进行修正，后对各应力下mi的估计值进行加权平均得m的近似无偏估计；利用定数截尾Weibull分布尺度参数ηi的极大似然估计，通过Weibull分布与指数分布之间不关系以及指数分布的性质，求得各应力下尺度参数的自然对数Inηi的近似无偏估计，利用Inηi的估计值与加速方程，建立线性模型，利用Gauss－Markov定理得加速方程系数a和b的近似最佳线性无偏估计值．通过模型由此可求出正常应力S0下各种可靠性特征量的估计．模拟结果表明本方法是具有较高的精度，且本方法计算比较简单，在工程上比较适用．     

电子产品高加速寿命试验的实践及案例分析

为了快速地暴露产品的薄弱环节,在高加速寿命试验（HALT）过程中会施加远超过产品规定极限的应力,也就是说高加速寿命试验属于“过试验”,其结果存在不确定性。最好的情况是在短时间内激发出在预期应用环境下长期使用时可能出现的故障模式,凸显其对提高产品可靠性的不可替代的作用。最坏的情况是激发出较多的非关联故障模式,分析处置这些故障耗时费力,影响进度,而且对这样的故障模式进行改进将造成产品“过设计”,对提高可靠性无实际意义。HALT的不确定性在于其效果在很大程度上取决于试验团队所具备的经验、历史数据和对实施细节的考虑。根据实际工作经验,详细地分析了HALT试验准备、试验实施、故障分析和产品改进的过程和方法,分享了实际案例,具有工程参考价值。     

产品全寿命周期管理中的加速环境试验技术

加速环境试验技术已应用于电子、军工、航空、航天等领域内的可靠性工程中。将加速环境试验融入产品的设计、研制和生产中,对于提高产品的可靠性水平,增强其市场竞争能力具有现实意义。     

电子产品整机高加速寿命试验技术应用分析

通过对在所设计的高加速寿命试验中不同试验阶段出现的故障进行实例列举与分析,以期有助于生产厂家在达到较高的试验效费比的同时,设计出更成熟的产品,并对同类生产厂家后续相关试验起到实际的借鉴与指导作用。