B2O3-SiO2-Na2O缓释抑菌剂的合成及性能表征

硼酸盐具有抑菌和抑藻性能, 研究采用高温熔融法合成了以硼为抑菌因子的B₂O₃-SiO₂-Na₂O缓释抑菌剂。运用X射线衍射分析(XRD)、扫描电镜(SEM)及红外光谱(FTIR)表征抑菌剂的理化性能, 采用电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-AES)测定缓释液中硼元素的浓度并分析抑菌剂的缓释特性, 分别以大肠杆菌和金黄色葡萄球菌为受试细菌, 以抑菌圈和抑菌率为指标评价药剂的抑菌效果。结果表明, 抑菌剂均呈无定形非晶形态, 内部[BO₃]和[BO₄]基团的含量不只与B₂O₃有关, 也受SiO₂的影响; 随着B₂O₃含量的降低, 抑菌剂表面结构逐渐致密, 缓释速率降低。随着缓释液中硼浓度的升高, 抑菌剂的抑菌作用增强, 且对金黄色葡萄球菌的抑制效果优于大肠杆菌。其中B₂O₃含量为55wt%的B₂O₃-SiO₂-Na₂O缓释抑菌剂的抑菌效果最佳, 这为硼系缓释抑菌剂的继续研究及工业化应用提供了参考依据。     

B2O3-Al2O3-SiO2透明玻璃陶瓷研究

玻璃陶瓷属于一类多晶陶瓷材料.通过调整玻璃基质和晶相组成可以制备出具有良好的力学、热学、电学和光学性能的玻璃陶瓷材料.采用传统的熔融和退火技术制备出含B2O3-Al2O3-SiO2-Li2O-K2O组分的硼铝硅玻璃,并通过成核和长晶工艺最终制备出透明玻璃陶瓷.配合料在铂金坩埚中于1450℃下熔融2h,然后经两步热处理制度控制晶核的生成和晶粒的长大.采用差热分析技术确定成核和长晶温度.采用X射线衍射技术对不同热处理制度下的玻璃陶瓷样品进行分析,以确定最佳成核和长晶条件.采用扫描电子显微镜分析玻璃陶瓷形态,晶粒尺寸及其在残余玻璃相中的分布.采用UV-Vis-Nir分光光度计测定玻璃陶瓷样品的透过率.     

B2O3-SiO2-Na2O缓释材料的合成工艺参数优化及其缓释机理

为优化工艺参数、减少原料损失和控制生产成本, 本研究采用单因素法研究不同升温速率、保温时间、熔制温度和起始温度对硼酸盐缓释材料(BCRM)在制备过程中B₂O₃挥发量和气泡生成情况的影响规律。运用X射线衍射分析、红外光谱和X射线光电子能谱仪表征缓释前后BCRM理化性质变化, 通过Korsmeyer-Peppas模型分析BCRM缓释机理。结果表明, 在起始温度1050 ℃、保温时间2 h和熔制温度1050 ℃的最优工艺参数下, B₂O₃挥发量可降低至1.08%, BCRM澄清透明, 无气泡生成, 缓释性能良好。此外, 温度会影响BCRM的缓释机理, 在30和35 ℃时, 释放机理为Super Case II转运; 在40 ℃时, 释放机制为non-Fickian扩散。但在不同温度下, 硼累积释放率均高于95%。     

Sol-Gel法制备B2O3-P2O5-SiO2系低介玻璃陶瓷

采用溶胶－凝胶法,以正硅酸乙酯和硼酸、磷酸为原料,制备出一种ＢＰＳ超细粉．使用这种超细粉,可在低于９５０℃空气气氛中烧结,获得性能优良的低分电常数、低损耗玻璃陶瓷．该种材料的介电常数ε≤５、介电损耗ｔａｎδ＜３×１０^－３（１ＭＨｚ）,有望用于超高频叠层片式电感领域．     

CaO-B2O3-SiO2系可析晶玻璃材料研究进展

半导体技术的持续进步使片间信号传递效率成为影响整机性能的瓶颈.多芯片组件等高密度封装作为解决方案,要求封装材料具有高频低损耗、低介电常数和良好的机械性能.CaO-B2O3-SiO2系可析晶玻璃材料能够满足这些要求,并引起了人们极大的关注与研究.综述了近年来针对CaO-B2O3-SiO2系可析晶玻璃材料的技术难点、制备工艺、掺杂剂和热分析方法等多方面研究进展.提出了该体系材料需要进一步解决的问题.     

B2O3-Al2O3-SiO2系微晶玻璃析晶动力学研究

采用差示扫描量热（DSC）分析法对B2O3-Al2O3-SiO2系统微晶玻璃的析晶动力学参数进行了测定，研究了该系统微晶玻璃的析晶动力学。结果表明：随着B2O3/SiO2比的降低，该系统玻璃的析晶活化能E呈先升高后降低的变化趋势，当B2O3/SiO2比为11：5时，析晶活化能最小，Emin=375．4kJ／mol，晶化指数n则先减小后增大，但均〉4，表明该系统玻璃可整体析晶。     

亚微米Li2O-Al2O3-SiO2微晶玻璃制备

本文利用DTA、XRD和SEM对Li2O-Al2O3-SiO2(以下简称LAS)微晶玻璃核化晶化热处理制度及氟离子在该玻璃体系中的作用进行研究.通过分析得出:含氟LAS玻璃核化温度和晶化温度分别为620℃和710℃,比相同组份的不含氟Li2O-Al2O3-SiO2玻璃核化、晶化温度分别降低了40℃和160℃左右;引入氟离子明显降低LAS玻璃析晶温度,系统的活化能降低约54kJ/mol,当含氟LAS玻璃的核化时间为1h、晶化时间为4hrs,平均微晶颗粒尺寸在50nm左右.     

多孔玻璃制备及其与Al2O3陶瓷基板复合载体材料

在钠硼硅玻璃体系中利用分相原理制备得到纳米多孔玻璃,并运用SEM、BET测试手段表征了纳米多孔玻璃的孔径分布、孔径大小和比表面积,以及热处理温度和时间对多孔玻璃表面形貌的影响.通过对纳米孔玻璃与氧化铝陶瓷基片复合的研究,得到一种能贮存大量生物和化学样本的载体材料,对生物芯片的发展将起到推动作用.     

CaO-Al2O3-SiO2系玻璃分相的计算机模拟

据结晶学、热力学与动力学理论, 利用 Ｔ Ｅ Ｍ、图象分析仪和计算机, 模拟了 ＣaO-Ａｌ_２ Ｏ_３-Ｓｉ Ｏ_２ 系玻璃的液滴状分相过程, 研究中, 结合相变理论与实验数据, 建立了数学 逻辑复合分相模型, 模拟结果表明, 由成核 生长机理控制的玻璃液滴状分相, 形成对数分布的主要条件是： 液滴相临界半径必须在某一特定范围内波动; 液滴相生长相对线速度应是５ ％ ～１０ ％ ; 而开始分相液滴相临界半径和终止分相时液滴相半径的绝对值与分布类型无关本模拟方法为控制玻璃的纳米结构、研制特殊性能的玻璃材料提供了一种新的手段     

抗菌玻璃化学稳定性影响因素研究

采用硼硅酸盐玻璃作为载体,以银离子为有效抗菌成分,制备了载银型可溶性抗菌玻璃材料;着重研究玻璃氧化物组成、热历史、侵蚀液pH值和侵蚀时间对抗菌玻璃化学稳定性的影响。     

阳极支撑型ITSOFC密封材料SrO-La2O3-Al2O3-B2O3-SiO2微晶玻璃的研究

研究了应用于阳极支撑型的中温固体氧化物燃料电池(ITSOFC)密封的SrO-La2O3-Al2O3-B2O3-SiO2体系微晶玻璃不同组分的线膨胀率,结果表明当微晶玻璃粉组成SrCO3 28.14%(摩尔分数),La2O3 21.17%(摩尔分数),Al2O3 7.22%(摩尔分数),H2BO3 41.72%(摩尔分数),SiO2 1.76%(摩尔分数)(SLABS3) 时,最符合ITSOFC密封要求.差热分析结果表明SLABS3的玻璃转变温度在670℃～760℃之间,结晶温度在813～840℃之间,玻璃软化点约在900℃,XRD测试表明微晶玻璃与Ni-La0.3Ce0.7O1.85(Ni-LDC)阳极化学相容性好,将微晶玻璃和Ni-LDC在850℃烧结100h后,SEM观察界面粘附性好,EPMA测试界面的元素含量结果表明,虽然阳极的Ce会向微晶玻璃扩散10μm的深度,但观察不到微晶玻璃的元素向Ni-LDC扩散现象.用SLABS3密封模拟电池,测试开路电压结果表明SLABS3的密封效果和稳定性良好.     

氧化锆/锌硼硅微晶玻璃的制备与研究

在锌硼硅玻璃中添加0％～20％（wt）的超细部分稳定氧化锆粉体，分别采用熔融法和烧结法制备氧化锆／锌硼硅微晶玻璃。通过对实验现象的观测与分析，发现采用烧结法可以较好地制备氧化锆／锌硼硅微晶玻璃。采用X射线衍射仪观测玻璃样品中的晶相组成，用烧结点试验仪测试微晶玻璃的半球温度，通过维氏硬度计在玻璃表面的压痕尺寸计算微晶玻璃的韧性。结果表明，在ZnO-B2O3-SiO2玻璃中添加部分稳定超细ZrO2后，微晶玻璃的烧结温度升高，韧性得到很大的改善。     

掺杂Ag微粒的CdS-P2O5-Na2S系统玻璃的制备及其光吸收特性

采用玻璃熔融法,通过紫外灯光照并辅以热处理诱导玻璃内部Ag微粒的析出,在CdS-P2O5-Na2S体系中制备了含CdS/Ag的微晶玻璃.XRD测试表明在玻璃样品中分布着CdS/Ag微粒,通过高分辨扫描电镜可以看出在玻璃中均匀分布着直径约为3μm的颗粒.吸收光谱测试表明掺杂CdS/Ag颗粒后样品的吸收强度明显增加,同时在420nm处存在一个尖的吸收峰,可以认为是由于Ag颗粒的析出所造成的.探讨了紫外光光还原金属Ag的机制,即辐照产生的电子作为还原剂来还原金属银.讨论了Ag颗粒的稳定性,可以通过控制热处理条件和光照来调节银颗粒的大小及分布,使其更加均匀.     

A structural study of metastable tetragonal zirconia in an Al2O3-ZrO2-SiO2-Na2O glass ceramic system

The structural and microstructural properties (crystalline system at the beginning of crystallization, lattice disorder and crystallite size) of metastable zirconia have been studied by an X-ray line broadening analysis using simplified methods based on suitably assumed functions describing the diffraction profiles. Metastable tetragonal zirconia has been crystallized at 970, 1000 and 1050° C, respectively, starting from an Al₂O₃-ZrO₂-SiO₂Na₂O glassy system with a chemical composition very close to that of well known electromelted refractory materials. In the present work we have definitely shown the presence, inside the crystallized zirconia phase, of internal microstrains having values ranging approximately between 2 and 4×10^–3. Moreover, we have confirmed the peculiar smallness in size of precipitated zirconia crystallites ( 200 Å). Therefore, in the present system, the stabilization of the tetragonal form of ZrO₂ with respect to the stable monoclinic one can be explained in terms of a contribution to the amount of free energy due to strain energy, in addition to the previously hypothesized surface energy. The observed strong line broadening for some samples treated at lower temperatures (970 and 1000° C) gives rise to an apparent cubic lattice pattern; but the asymmetry of each apparent single line masks unequivocally a tetragonal doublet. This latter conclusion disagrees with some hypotheses on the existence of a cubic metastable form of ZrO₂ which could originate at the beginning of zirconia crystallization.     

Microstructural and dielectric behaviour of glass ceramics in the system PbO-BaO-TiO2-B2O3-SiO2

Glasses in the system PbO-BaO-TiO₂-B₂O₃-SiO₂ with and without P₂O₅ as nucleant have been prepared. The glass samples were ceramized based ondta studies. The ferroelectric phase crystallizing out has been found to be BaTiO₃ fromxrd. The optical and scanning electron micrographs show the presence of BaTiO₃ as major phase. In these glass ceramic samples, dielectric constant and dissipation factor are approximately constant with temperature and frequency upto the glass transition temperatureT _g and thereafter increase sharply with temperature and finally level off. The addition of P₂O₅ as nucleant and molar ratio of (PbO + BaO) to TiO₂ has marked influence on the dielectric behaviour and composition of ferroelectric phase crystallizing out.