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本文针对机械探针是粗糙度测量仪的不足提出并采用基于差动像散法的光探针技术测量表面粗糙度,采用小波包分析法分离表面粗糙度信号。研究表明该系统不仅测量分辨率高,而且对工件表面无任何划伤,尤其适合对光盘等含有信息的表面及软、脆材料制作的高光洁表面进行形貌测量。对Ra为0.012μm的粗糙度样板进行测量,其测量重复性为2%。 相似文献
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用于生产过程控制的表面粗糙度在线测量H.Bodschwinna等1.前言现代工业的发展方向是不断提高产品质量并降低生产成本,为实现这一目标,迫切需要进行贴近生产过程的表面粗糙度的自动测量,这不仅是因为表面的微几何学特性是评价表面函数相关特性的最常用判... 相似文献
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为了提高加工检测效率,实现尺寸形位公差与微观轮廓的同平台测量,提出一种基于光谱共焦位移传感器在现场坐标测量平台上集成表面粗糙度测量的方法。搭建实验测量系统且在LabVIEW平台上开发系统的硬件通讯控制模块,并配套了高斯轮廓滤波处理及表面粗糙度的评价环境,建立了非接触的表面粗糙度测量能力。对标准台阶、表面粗糙度标准样块和曲面轮廓样品进行了测量,实验结果表明:该测量系统具有较高的测量精度和重复性,粗糙度参数Ra的测量重复性为0.0026μm,在优化零件检测流程和提高整体检测效率等方面具有一定的应用前景。 相似文献
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介绍了表面粗糙度干涉图像处理和该系统以静态干涉图像处理技术对表面粗糙度检测的过程。该系统通过对一帧白光干涉图像的处理,可对Ra值≤0.2μm的多刻线样板,试件表面粗糙度绝对、非接触、快速、自动地测量;该系统通过对白光和纳光二帧干涉图象的联合处理,以白光定位、纳光定度可对沟槽深度H≤5μm的标准单位刻线深度绝对,非接触,准确地测量。 相似文献
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磁盘表面粗糙度移相干涉测量仪的PZT驱动分析与设计 总被引:1,自引:0,他引:1
采用PZT振动产生移相,研制开发了可用于测量磁盘表面粗糙度的高精表面光学轮廓测量仪,本文在阐述系统工作原理之后,介绍其中的相移驱动装置的设计与实现。 相似文献
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利用人工神经网络的测量表面粗糙度和位移的光纤传感器 总被引:1,自引:0,他引:1
利用人工神经网络的测量表面粗糙度和位移的光纤传感器K.Zhang,等1.引言表面粗糙度和位移是制造业产品的两大重要特征。迄今在表面粗糙度和位移测量方面已进行了大量的工作,最经典的测量方法是机械接触法。在过去的十年中,工业应用中开始使用光学法测量表面粗... 相似文献
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设计了一种半导体激光自混频干涉法测量表面粗糙度的实验,对半导体激光自混频干涉法测量表面粗糙度中的干涉效应进行了理论分析,推导了干涉信号与表面粗糙度的数学关系式,讨论了影响测量信号的因素。实验结果表明,随着加工表面粗糙度的降低,反射光的强度逐渐增加,被测物体表面的反射率越高,越有利于测量。 相似文献
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照射在样本表面的激光束随 表面粗糙度的不同,反射光的密度分布将不同,表面粗糙度增大时,反射光的密度将被扩展。本根据这一原理,提出一种使用激光束快速测量表面粗糙度的无触点光学方法。该方法利用高斯曲线的系数,通过测量反射光的密度分布曲线的宽度,由高斯曲线系数的标准差,利用GCP测量表面粗糙度,给出了测量结果。 相似文献
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航空发动机叶片表面弯扭大,加工过程中难以保证表面粗糙度一致。针对现阶段粗糙度测量方法在测量叶片时缺少测量位置和方向的定义,导致测得的粗糙度值无法判定叶片粗糙度合格性的问题,开展了叶片粗糙度测量方法研究。基于叶片实测截面数据,利用坐标测量机上搭载的粗糙度测头,通过对不同类型的叶片进行多位置多方向的粗糙度测量实验,分析不同位置、不同方向的粗糙度测量结果差异,得到了叶片粗糙度测量方法。本方法将叶片粗糙度与叶片型面相关联,解决了叶片粗糙度的测量位置和测量方向缺乏规范的问题。研究结果对准确、有效、规范地评估叶片表面质量的合格性具有重要意义。 相似文献
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正Taylorsurf 6型表面粗糙度测量仪是英国Taylor Hobson公司于20世纪80年代生产销售的用于粗糙度表面测量的主流机型,目前仍有一些企业在继续使用。但这部分测量仪可能面临的问题是机械部分基本完好,可是仪器的控制电路、信号处理电路、测量控制和数据处理软件方面以及所使用的标准都已经落后,且仪器的操作步骤繁琐,数据处理速度很慢。若重新购置一台等精度的Taylor Hobson公司的粗糙度测量 相似文献
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浅谈农机零配件表面粗糙度的测量 总被引:1,自引:1,他引:0
阐述了表面粗糙度对零件使用性能的影响及评定表面粗糙度的基本原则,叙述了零件表面粗糙度的几种测量方法,以及使用针描法测量零件表面粗糙度应注意的问题。 相似文献
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用C语言实现表面粗糙度评定参数的计算 总被引:1,自引:0,他引:1
本文依据所建立的表面粗糙度各评定参数计算的数学模型,用C语言编制出表面粗糙度6项评定参数计算和绘制Abbot曲线的微机处理程序,并以实例加以说明其具体应用方法,从而解决了光切显微镜等专用光学仪器只能测量单项参数的具体问题.扩大了其使用范围,实现了表面粗糙度多项参数测量需求。 相似文献
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三维表面粗糙度的研究 总被引:2,自引:0,他引:2
本文介绍了三维表面粗糙度的特征参数,阐述了当今表面粗糙度的一些新的检测方法,同时编制出三维表面粗糙度特征参数的数据处理软件,为三维表面测量技术走向实用阶段奠定一定基础。 相似文献