印制板测试码生成

根据我国自行研制的程控交换机 DS-2000印制板的特点,从工程实用的角度出发,提出了一个面向通路的测试码自动生成算法.该算法已用于实际印制板测试系统中.     

组合电路的主值、主值故障及其测试生成

对组合电路连线上的信号值提出用主值Z和辅值F表示,并提出用主值故障和辅值故障表示组合电路中的固定型故障模型.文中阐述了对主值故障进行测试生成的原理方法.该方法使各类基本门电路具有统一形式的功能描述,适用于由多种类型基本门电路构成的组合电路.     

模拟电路多重故障诊断的双频率法

作者前一篇关于模拟电路多重故障诊断的文章所提出的方法是通过测量被试电路的端口变量,适当选择伴随网络及应用特勒根定理,解一组线性代数方程来定位各故障元件并计算其位的。其可诊断条件是故障元件数要少于端口数。本文所提出的双频率法,只要电路中有电感或电容元件,给被试网络供以两种不同频率的信号,测量端口变量,如果端口数等于或大于故障元件数,用与前法近似的过程,就可实现多重故障的诊断。     

模拟电路故障诊断中的故障分离

本文对模拟电路故障诊断中的故障分离和故障字典编制进行了一些探讨，提出了用故障编码进行故障分离和编制故障字典的方法．该法测试后不需任何计算，直接通过查字典就可对故障作出判断．可以有效地节省计算时间和减少测试点．本文给出了建立故障编码和故障字典的方法．     

模拟电路自动故障诊断的总体设计思想

本文在介绍了模拟电路故障诊断的一些重要成果后,提出了模拟电路自动诊断故障的总体设计思想及研究模拟电路故障诊断理论的最终目的——实现模拟电路自动故障诊断。     

故障分解的并行测试生成算法

并行测试技术是解决当今大规模电路测试难题的一个重要手段.故障分解又是最基本的并行测试方法.详细论述了故障分解的理论和两种故障分解算法的基本模型,并且在实现了一个基于FAN算法的并行测试生成系统的基础上详细说明了故障分解的并行测试生成算法的具体实现.在系统实现中,将故障模拟在全故障集上进行,并对C/S通信进行了多线程处理,取得了比较好的加速效果.     

故障分解的并行测试生成算法

并行测试技术是解决当今大规模电路测试难题的一个重要手段,故障分解又是基本的并行测试方法,详细论述了故障分解的作两种故障分解算法的基本模型,并且在实现了一个基于ＦＡＮ算法的并行测蔗生成系统的基础上详细说明了故障分解的并行测试生成算法的具体实现。     

自动生成特定伪码的设计与实现

针对屏幕显示设计效率较低的情况,完成了自动生成用户交互界面伪码的设计,实现了自动生成屏幕显示伪代码的系统。该系统可以让用户方便地设计出任何类型的屏幕显示界面。应用结果表明该系统可以缩短软件项目的开发周期,提高设计者的工作效率。     

电路测试生成的一种并行处理方法

基于消息传递的多指令流多数据流多机并行系统，提出一种组合电路测试图形生成的新的并行处理方法。该方法首先定义基本门电路的特征函数，通过特征函数的迭加，得到与被测电路对应的一约束网络的特征函数ＣＡＴＰＧ，用遗传算法计算ＣＡＴＰＧ的零点获得故障的测试。     

基于神经网络的组合电路测试生成算法

介绍了一种基于神经网络的组合电路测试生成算法。该算法不同于传统的方法是它既不需要回退也不需要故障传播的过程。利用Hopfield神经网络模型将组合电路表示成双向的神经网络，通过故障注入，建立被测电路的约束网络，并构造网络的能量函数，将组合电路的测试矢量对应于神经网络能量函数的最小值点，从而运用遗传算法求解能量函数的最小值点来求得测试矢量。在一些基准电路上的实验结果表明本算法具有较高的故障覆盖率和较短的测试时间。     

用电路的逻辑覆盖产生测试码的算法

基于逻辑电路的单固定故障模型和逻辑函数质蕴涵的特点,定义了两种交运算,并讨论了利用元件的最小0覆盖和1覆盖求交运算产生电路测试和检测集的方法。     

组合电路测试生成的PODEM算法及实现

详细讨论了在已知组合电路结构，对多输入器件，根据组合电路的等效性，附加虚拟器件，将电路的树形数据结构化为二叉树结构，采用ＰＯＤＥＭ算法，按最难／最易原则回溯，在计算机上实现电路中的单一恒定故障的测试矢量生成。     

模拟电路单故障与多故障诊断的提升小波和RBF方法

为了更高效、更准确地诊断模拟电路的单故障和多故障,提出了提升小波和RBF神经网络相结合的方法。该方法用提升小波系数表征故障电路的特征,训练RBF神经网络,将训练好的神经网络作为分类器,对故障电路进行诊断。通过对比,提出的提升小波方法诊断效果明显优于传统小波,准确率达到99.2%,用时更长。结果表明,基于提升小波和RBF神经网络的模拟电路单故障与多故障诊断方法可以有效地提取故障电路的特征并准确快速地对故障进行分类。     

扫描与边界扫描电路延迟故障的测试

本文提出了一种用于扫描通路边界扫描易测试设计电路中销存器的排序算法，通过减小锁存器的相关性来提高通路延迟故障的被测度。     

集成数据流和控制流的协议测试集自动生成方法研究

测试集自动生成方法的研究是协议一致性测试领域中比较活跃的一个分支,提出了一种基于ＥＢＥ模型,集成数据流和控制流测试的新的协议测试自动生成方法并给出了其实现ＴＵＧＥＮ。ＥＢＥ模型中对协议的外部行为进行描述,强调变迁之间的数据依赖性。在ＴＵＧＥＮ中,我们引入控制流测试中的ＵＩＯ序列算法和描述协议不确定性的ＡＩＯ树的概念,运用协议约束集来灵活地控制自动生成过程中的协议空间搜索的复杂性,并采用测试集的验证     

最小生成树SVM的模拟电路故障诊断方法

提出最小生成树的支持向量机模拟电路故障诊断方法,通过小波分解提取电路故障特征,在特征空间中以故障类的可分性测度为权值构造最小生成树,得到具有聚类属性的故障子类划分,从而优化故障决策树节点的分布。按照最小生成树的结构建立具有较大分类间隔的多分类支持向量机,能够有效地提高模拟电路故障诊断的正确率。该方法简化支持向量机的结构,在实例电路的故障诊断中获得更高的诊断精度和效率,其性能优于常用的支持向量机方法。     

基于三值神经网络的组合电路测试生成算法

针对集成电路的规模和复杂度不断增加而相应的测试却越来越困难问题,提出了一种基于三值神经网络的组合电路测试生成算法．该算法不需要传播,也不需要回退,而是利用三值神经网络把组合电路表示成双向的神经网络,并构造网络的能量函数,用遗传算法求解能量函数的最小值点来求得测试矢量,这样就把组合电路的测试生成问题转化为数学问题．在一些基准电路上的实验结果表明,本算法具有较高的故障覆盖率和较短的测试时间．     

基于搜索状态控制的组合电路测试生成算法

EST算法第一次提出了测试码搜索状态的概念,并采用E-前沿来描述测试码搜索的不同状态,通过引入状态等价的概念,缩小了测试码搜索空间．本文通过对搜索状态等价的研究,得出了基于搜索状态控制的测试生成算法．该方法应用E-前沿的控制关系可以减少搜索空间,大大减少了测试生成的时间．     

组合电路伪穷举测试的一种生成算法

提出一种基于电路结构的伪穷举测试生成算法,通过对待测电路的逐步二块划分和对各个子电路的穷举测试,形成待测电路的伪穷举测试集.本算法从实际应用出发,基于电路结构进行选优划分,算法简单,运行速度快.通过这一算法,伪穷举测试能够实现机器自动生成,并充分发挥了伪穷举测试的各项优点,因此具有一定的实用价值.