过滤X参考辐射装置性能的非介入评价

报道了中能过滤Ｘ参考辐射装置的性能参数测量和评价方法。利用ＶＩＣＴＯＲＥＥＮ非介入式诊断Ｘ射线质量保证仪器ＮＥＲＯＴＭ６０００Ｂ，一次操作可测出ｋＶ及其平均，最大和有效值，照射时间，辐射的输出和波纹等重要参数以及ｋＶ和辐射波形。测量是从Ｘ射线束取样，不需要拆装置，故提高了工作效率的安全性。该方法也适用于过滤Ｘ参考辐射装置的质量保证。     

K荧光X参考辐射及其照射量测量

按国际标准ＩＳＯ４０３７研制的Ｋ荧光Ｘ参考辐射，性能基本符合该标准的要求，其能量范围为８．６４－９８．４ｋｅＶ。用校准过的薄窗电离室测量了参考辐射的量率。该参考辐射已用于校准Ｘ，γ剂量仪并剂量率仪并测定其能量响应。     

低能γ射线和X射线在几种金属薄膜中产生的次级辐射效应研究

对电子,低能γ射线和Ｘ射线穿透几种不同厚度的Ｆｅ,Ｃｕ和Ｔａ薄膜时所产生的次级电子及次级Ｘ射线进行了实验测量,并对影响次级电子和次级Ｘ射线强度的因素进行了分析。     

X射线RoHS荧光分析基体效应吸收校正的MCNP模拟

采用MCNP程序模拟RoHS元素荧光分析受基体材料和射线能量的影响。在低浓度RoHS分析中强度和浓度近似为线性关系,不同基体下直线斜率差别很大。对镉的计算表明,荧光强度的差异主要受吸收系数的影响,严重时达两个量级。为改善浓度测量的准确度,引入吸收系数影响因子对荧光强度进行校正,使用同一种标样刻度,可克服不同基体中浓度转换系数变化的影响。     

X射线荧光分析原级能谱分布的MCNP模拟

X射线荧光分析中,入射激发能谱是影响元素特征荧光强度大小的直接因素。本文使用MCNP程序模拟不同条件下电子打靶后的X射线能谱分布,计算结果能够反映不同条件下特征谱线和连续谱线的特点。模拟能谱数据可用于X射线荧光分析的数据处理。     

MCNP程序对X射线荧光分析校正曲线的模拟计算

X射线荧光分析中,由于物质成分变化对检测结果的影响,在多数情况下元素浓度含量和荧光强度间不是线性对应关系.针对0～100%浓度的Fe和基体为Cr(强吸收体)和O(弱吸收体)的二元混合物样品,使用MCNP程序模拟强吸收和弱吸收时Fe的荧光强度和Fe的浓度的对应关系.理论表明该对应关系为由参数p确定的曲线,p值由基体元素和...     

X射线荧光光谱仪的现状

综述了波长色散X射线荧光光谱仪和能量色散X射线荧光光谱仪的现状和发展趋势,及其X射线荧光光谱仪的拓展,介绍了部分具有代表性的X射线荧光光谱仪的主要性能.     

过滤 X-射线参考辐射

本文主要介绍复制 ISO4037中用于剂量仪表校准的四个过滤 X-射线参考辐射(宽谱,窄谱,低照射量率和高照射量率)的装置及检测结果。测试结果表明,除宽谱的110kV 能量点的分辨率超过标准规定的要求外,各个规范的参考辐射的射束质、场的均匀性和散射特性均符合了 ISO4037的要求。     

铜镜的X射线荧光分析

建立一种不取样的分析古代青铜镜的方法,给出了52面铜镜的铜、锡、铅含量值。从所获得的含量值看,铜镜中的铜、锡比例很接近,这就证明了《考工记》里“金锡半谓之鉴燧之齐”的记载基本上是正确的。     

低能γ光子及射线在透射金属箔方向激发的次级X射线

采用Ｓｉ（Ｌｉ）Ｘ射线探测系统，以透射法测量了＾２４１Ａｍ和＾２３８Ｐｕ放射源的低能γ光子和Ｘ射线在透过不同厚度的Ｆｅ和Ｃｕ箔时激发的次级Ｘ射线相对强度的变化，实验结果表明，激发产生的Ｘ射线相对强度在实验样品厚度范围内随箔厚的增加而增加，在高原子序数材料中将产生更多的特征Ｘ射线，各次级Ｘ射线的强度与箔厚形成方式以及激发源的活度，能量有关，最后对实验结果的物理机制进行了初步探讨。     

低本底X、γ射线参考辐射装置研制

环境核辐射监测中,环境本底限制了环境剂量监测仪表的校准与检定,更决定工作人员的防护安全。论文研制由铅、镉、不锈钢、聚乙烯材料组成的低本底X、γ射线参考辐射装置及其实验系统装置。利用MCNP程序模拟验证不同能量点源下该装置对散射X射线的影响,以及在不同屏蔽条件下散射X射线注量分布,使用便携式谱仪(Na I)对户外、实验室内、该装置内进行本底计数和剂量率测量。结果表明:该装置内的剂量率和计数率分别为9.9 n Sv/h、82 gamma/s,相对于户外、实验室内剂量率降低4.6、7.28倍;计数率分别降低2.9、3.8倍,有效地降低本底水平。     

X射线荧光测井仪系统研制

分析了X射线荧光测井仪的测量原理、关键技术和工程设计难点,并在此基础上,设计实现了能用于野外钻探现场的X射线荧光测井仪,最后给出实测对比数据,证明了本测量系统能用于实际的地质勘察工作.     

放射性同位素X射线荧光在医学上应用的研究

本文叙述了放射性同位素Ｘ射线荧光的机理在医学上应用的可能，以及应用方案的探讨。     

使用X光聚束系统的X射线荧光分析研究

复合光导管组成的Ｘ光透镜可将发散的Ｘ光束聚至直径φ０．５ｍｍ，聚束后的功率密度增加１０＾４倍，这种新型的Ｘ光透镜已用于Ｘ射线荧光分析研究，使用Ｘ光管功率仅２Ｗ，而探测限可达１０＾－９－１０＾１０ｇ．     

全反射X射线荧光分析

综述了全反射X射线荧光分析技术的基本原理，装置及特点，介绍了全射X射线荧光分析技术的应用及其前景。     

X射线荧光分析中基本参数法的应用

本文使用基本参数法,对合金钢样品不经化学处理,不使用参考标准,样品在~(238)Pu同位素源激发的Si(Li)探测器组成的X射线荧光谱仪上进行测量,将测量结果送入同多道分析器联机的EMG666微机上进行计算,最后打印出结果。文中对入射角的变化、一次荧光效应、二次荧光效应和散射效应进行了研究;对核电站的合金钢样进行了分析,用标准样品检验方     

X射线荧光分析中基本参数法的应用

文章使用基本参数法,对合金钢样品不经化学处理,不使用参考标准,样品在同位素源激发的Si(Li)X射线荧光谱仪上进行测量,将测量结果送入同多道联机的EMG 666微机上进行计算,最后打印出分析结果。文中对入射角的变化,一次荧光效应和二次荧光效应,散射效应进行了研究,并对合金钢样进行了分析。用标准样品检验,表示分析准确度的相对误差小于±3%;表示方法精密度的相对偏差小于±6%。     

X射线荧光分析法直接测定胆结石中金属元素

本文叙述了使用X荧光分析法直接对胆结石中金属元素进行分析的过程,提出了一个适用于轻基体厚样品的逐次趋近计算法,并在计算机上成功地计算了胆结石中金属元素的测定结果。