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报道了中能过滤X参考辐射装置的性能参数测量和评价方法。利用VICTOREEN非介入式诊断X射线质量保证仪器NEROTM6000B,一次操作可测出kV及其平均,最大和有效值,照射时间,辐射的输出和波纹等重要参数以及kV和辐射波形。测量是从X射线束取样,不需要拆装置,故提高了工作效率的安全性。该方法也适用于过滤X参考辐射装置的质量保证。 相似文献
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按国际标准ISO4037研制的K荧光X参考辐射,性能基本符合该标准的要求,其能量范围为8.64-98.4keV。用校准过的薄窗电离室测量了参考辐射的量率。该参考辐射已用于校准X,γ剂量仪并剂量率仪并测定其能量响应。 相似文献
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采用MCNP程序模拟RoHS元素荧光分析受基体材料和射线能量的影响。在低浓度RoHS分析中强度和浓度近似为线性关系,不同基体下直线斜率差别很大。对镉的计算表明,荧光强度的差异主要受吸收系数的影响,严重时达两个量级。为改善浓度测量的准确度,引入吸收系数影响因子对荧光强度进行校正,使用同一种标样刻度,可克服不同基体中浓度转换系数变化的影响。 相似文献
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X射线荧光分析中,入射激发能谱是影响元素特征荧光强度大小的直接因素。本文使用MCNP程序模拟不同条件下电子打靶后的X射线能谱分布,计算结果能够反映不同条件下特征谱线和连续谱线的特点。模拟能谱数据可用于X射线荧光分析的数据处理。 相似文献
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MCNP程序对X射线荧光分析校正曲线的模拟计算 总被引:1,自引:0,他引:1
X射线荧光分析中,由于物质成分变化对检测结果的影响,在多数情况下元素浓度含量和荧光强度间不是线性对应关系.针对0~100%浓度的Fe和基体为Cr(强吸收体)和O(弱吸收体)的二元混合物样品,使用MCNP程序模拟强吸收和弱吸收时Fe的荧光强度和Fe的浓度的对应关系.理论表明该对应关系为由参数p确定的曲线,p值由基体元素和... 相似文献
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X射线荧光光谱仪的现状 总被引:4,自引:1,他引:4
杨明太 《核电子学与探测技术》2006,26(6):1025-1029
综述了波长色散X射线荧光光谱仪和能量色散X射线荧光光谱仪的现状和发展趋势,及其X射线荧光光谱仪的拓展,介绍了部分具有代表性的X射线荧光光谱仪的主要性能. 相似文献
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建立一种不取样的分析古代青铜镜的方法,给出了52面铜镜的铜、锡、铅含量值。从所获得的含量值看,铜镜中的铜、锡比例很接近,这就证明了《考工记》里“金锡半谓之鉴燧之齐”的记载基本上是正确的。 相似文献
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采用Si(Li)X射线探测系统,以透射法测量了^241Am和^238Pu放射源的低能γ光子和X射线在透过不同厚度的Fe和Cu箔时激发的次级X射线相对强度的变化,实验结果表明,激发产生的X射线相对强度在实验样品厚度范围内随箔厚的增加而增加,在高原子序数材料中将产生更多的特征X射线,各次级X射线的强度与箔厚形成方式以及激发源的活度,能量有关,最后对实验结果的物理机制进行了初步探讨。 相似文献
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环境核辐射监测中,环境本底限制了环境剂量监测仪表的校准与检定,更决定工作人员的防护安全。论文研制由铅、镉、不锈钢、聚乙烯材料组成的低本底X、γ射线参考辐射装置及其实验系统装置。利用MCNP程序模拟验证不同能量点源下该装置对散射X射线的影响,以及在不同屏蔽条件下散射X射线注量分布,使用便携式谱仪(Na I)对户外、实验室内、该装置内进行本底计数和剂量率测量。结果表明:该装置内的剂量率和计数率分别为9.9 n Sv/h、82 gamma/s,相对于户外、实验室内剂量率降低4.6、7.28倍;计数率分别降低2.9、3.8倍,有效地降低本底水平。 相似文献
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使用X光聚束系统的X射线荧光分析研究 总被引:2,自引:0,他引:2
复合光导管组成的X光透镜可将发散的X光束聚至直径φ0.5mm,聚束后的功率密度增加10^4倍,这种新型的X光透镜已用于X射线荧光分析研究,使用X光管功率仅2W,而探测限可达10^-9-10^10g. 相似文献
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综述了全反射X射线荧光分析技术的基本原理,装置及特点,介绍了全射X射线荧光分析技术的应用及其前景。 相似文献
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文章使用基本参数法,对合金钢样品不经化学处理,不使用参考标准,样品在同位素源激发的Si(Li)X射线荧光谱仪上进行测量,将测量结果送入同多道联机的EMG 666微机上进行计算,最后打印出分析结果。文中对入射角的变化,一次荧光效应和二次荧光效应,散射效应进行了研究,并对合金钢样进行了分析。用标准样品检验,表示分析准确度的相对误差小于±3%;表示方法精密度的相对偏差小于±6%。 相似文献
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本文叙述了使用X荧光分析法直接对胆结石中金属元素进行分析的过程,提出了一个适用于轻基体厚样品的逐次趋近计算法,并在计算机上成功地计算了胆结石中金属元素的测定结果。 相似文献