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Epitaxial growth technology of group III-V semiconductors is used in manufacturing light-emitting diodes. Second-ion mass spectrometry, as a high-sensitive technology in analysis of element density-depth profile, is applied to characterize LED structure and comparison of different epitaxial processes. Characterization of multiple-quantum well by SIMS is also introduced. 相似文献
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介绍了用飞行时间二次离子质谱法对器物中的铅同位素比值的测量。在仔细地讨论了质量干扰、二次离子产额的同位素分馆效应等对测量结果的影响后,认为本工作无需标准样品,可以实现对样品无损的高质量分辨的二次离子质谱分析。铅同位素比值的测量精确度优于1%。 相似文献
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傅立叶变换-离子回旋共振质谱法在蛋白质分析中的应用 总被引:4,自引:0,他引:4
对傅立叶变换 -离子回旋共振质谱 (FT/ICRMS)的仪器特点及 FT/ICRMS在研究蛋白质结构鉴定、蛋白质翻译后修饰和蛋白组学中的应用等方面进行了综述和讨论。给出参考文献 4 5篇 相似文献
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二次离子质谱仪作为一种强大的表面分析工具,在表面分析领域有着非常广泛的应用。本文报道了一种用于二次离子质谱仪的一次离子光学系统,它可以对电子轰击电离源产生的一次离子进行有效的加速与聚焦,形成稳定的、能量在0~5kV范围内连续可调的离子束流。同时,该光学系统可以在两种聚焦模式下工作,产生两种不同性能的离子束流。实验结果表明,采用电子轰击电离源作为一次离子源的条件,该离子光学系统能够将离子束聚焦至直径为20μm的束斑,其一次离子束流密度最高可达到503.2mA/cm2,可以实现对一般样品(如材料或生物样品)的表面成分分析。 相似文献
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二次离子质谱(Secondary Ion Mass Spectroscopy简称SIMS)和离子探针(Ion Microprobe Mass Analysis简称IMA)。二次离子质谱和离子探针是用隋性气体的离子束轰击试样表面,它与试样原子碰撞经复杂的相互作用后,电离出具有标识性的二次离子,分析这些离子的质荷比来确定表面的成分。这种方法在实际上对试样是有破坏作用的。 相似文献
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等离子体质谱法在地矿分析中的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
本文简述了等离子体质谱的特点,该法能同时进行多元素测定,既能测定常量元素,又能测定痕量杂质,被测元素浓度相差8个数量级仍能获得理想结果.用于半定量分析,1~2分钟可完成75种元素的快速扫描,对PPb量级的杂质,固体试样分析误差<50%,液体试样<20%.定量分析采用同位素稀释或外标准加入,可准确测定10~(12)g/g的杂质元素.以实例介绍了该法在地质材料、矿物、土壤、煤炭及环境试样由的应用情况. 相似文献
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随着仪器性能的不断提高,飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)在材料表面化学分析中起着越来越重要的作用。TOF-SIMS的主要测试功能包括表面质谱、化学成像及深度剖析,本工作对TOF-SIMS的化学成像及深度剖析2种功能在生物材料和生命科学中的应用做了简单综述,重点介绍了TOF-SIMS成像技术在生物芯片制备工艺中的应用和TOF-SIMS成像和深度剖析技术对生物分子在细胞和生物体组织上空间分布的表征方法;另外,对生物样品的低温制备方法,样品表面添加基质以增强信号强度的实验手段,使用团簇一次离子源提高分子二次离子产额和利用对样品损伤小的C60离子源为轰击源做深度剖析等实验做了简单的介绍;最后,对TOF-SIMS在生物生命材料领域的应用做了展望。 相似文献
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飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)成为材料表面化学分析越来越重要的手段,随着分析仪器性能的不断提高,尤其是团簇离子源的发明和使用,使得TOF-SIMS在生物材料和生命科学研究中能够更接近常规性地被使用。它可以用来鉴定表面的生物分子,并且描述生物分子在单细胞表面和内部及组织切片上的二维分布。TOF-SIMS的主要测试功能包括表面质谱,化学成像及深度剖析3种。本综述(分上、下两篇)围绕这3项仪器功能,简单综述近20年内TOF-SIMS在生物材料和生命科学中的应用。本篇主要讨论应用质谱功能表征生物医学有机高分子材料表面化学特性及在表面的生物分子,包括氨基酸、多酞、蛋白质、核苷酸、DNA、磷脂膜及多糖。重点举例介绍的科学问题包括蛋白质吸附、生物材料表面化学改性以及生物降解高分子药物释放机理。 相似文献
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二次离子质谱(SIMS)分析技术及应用进展 总被引:4,自引:1,他引:4
二次离子质谱 ( SIMS)比其他表面微区分析方法更灵敏。由于应用了中性原子、液态金属离子、多原子离子和激光一次束 ,后电离技术 ,离子反射型飞行时间质量分析器 ,离子延迟探测技术和计算机图像处理技术等 ,使得新型的 SIMS的一次束能量提高到 Me V,束斑至亚μm,质量分辨率达到 1 5 0 0 0 ,横向和纵向分辨率小于 0 .5μm和 5 nm,探测限为 ng/g,能给出二维和三维图像信息。 SIMS能用于矿物、核物质、陨石和宇宙物质的半定量元素含量和同位素丰度测定 ,能鉴定出高挥发性、热不稳定性的生物大分子 ,能进行横向和纵向剖析 ,能进行单颗粒物、团蔟、聚合物、微电子晶体、生物芯片、生物细胞同位素标记和单核苷酸多肽性分型 ( SNP)测定 ,能观测出含有 2 0 0 0碱基对的脱氧核糖核酸 ( DNA)的准分子离子峰。以SIMS在同位素、颗粒物、大分子、生物等研究领域的应用为重点 ,结合实例 ,对 SIMS仪器和技术进展进行了综述 相似文献
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本文介绍用我国研制的LT-1型离子探针对四种不同SiO_4四面体结构类型和不同成份特微的硅酸盐矿物石英、橄榄石辉石和云母作了二次离子质谱分析试验。在~(16)O~-轰击的条件下测得的正二次离子质谱表明:①主原子离子能反映主元素成分;②主元素原子与氧结成一系列有规律组合的二元、三元、四元……等多元离子;③这些多元离子的强度关系表现多样复杂性,其中尤以(Si_2O)~ >(SiO_2)~ 及(Al_2O)~ >(AlO_2)~ 为有趣,值得进一步工作;④这些氧化物多元离子并不与矿物原来的结构特微相连系。根据这些多元离子的出现规律可以基本估计主元素对痕元素的质量干扰。 相似文献
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模糊控制在二次调节系统中的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
针对液压系统参数多变,难于用一般的控制算法进行控制的特点,本文设计了一种采用具有非线性和带有可调整加权因子的FUZZY控制器,并对二次调节系统进行了仿真研究,收到了良好的控制效果。 相似文献
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