基于加速退化的电子设备可靠性分析

提出了电子设备在退化状态下的可靠性分析问题,通过建立电子设备退化失效模型与失效阈值,解决了有正常退化数据的电子设备可靠性问题。在此基础上,研究了加速退化时的电子设备退化问题,利用加速试验来分析电子设备在非加速状态下的退化失效,从而解决了非加速状态时退化数据不足以进行可靠性分析的问题。最后,给出了计算实例。     

基于板级电路加速退化数据的可靠性分析

基于板级电路加速性能退化数据来研究电子产品可靠性评估问题。对电源整板进行80℃、100℃、120℃下加速退化试验．监测到输出电压随温度变化的退化过程。由试验数据对加速性予以定量验证,并基于Weibull分布采用最小二乘法进行可靠性统计推断。     

基于加速性能退化试验的板级可靠性评估

传统的可靠性评估方法一般基于失效寿命数据,而目前对于高可靠长寿命的电子产品,很难通过加速试验获得其失效寿命时间。为解决这一矛盾,将性能退化理论引入到传统可靠性评估中,提出了基于失效数据及加速性能退化的可靠性评估的新方法。应用某型雷达24V/2A稳压电源板加速性能退化试验进行验证,结果表明该方法用于高可靠长寿命电子装备的可靠性评估是正确有效的。     

基于紧缩阈值加速退化试验的长寿命产品可靠性评估

对于退化失效型产品,当产品的特性参数超过给定阈值时即发生失效,失效阈值定义越严格则对产品功能要求越高,则产品越容易发生因不满足该功能要求而失效,可见产品的寿命数据与失效阈值的定义密切相关.对于长寿命产品,通过紧缩失效阚值的方法,可以在低应力水平下得到更多的失效数据.论文建立了寿命分布与试验应力和失效阈值的关系模型,并提...     

基于加速退化试验的航天液体摆可靠性研究

随着国防装备的快速发展,对型号的可靠性和寿命提出了更高的要求。为满足型号的高可靠、长寿命要求,可靠性试验成为目前研究的重点。以火箭发射平台所用的液体摆水平传感器为研究对象,分析液体摆在环境温度应力作用下的失效原因;选择适用的加速退化模型,建立一种基于加速性能退化的可靠性模型,并通过试验评估进行论证。     

基于加速退化数据的BS分布的统计推断

BS分布是可靠性分析中的一个重要的失效分布模型,它可以用于很多产品的退化失效分析中。对基于加速退化试验数据的BS分布的统计推断方法进行了研究,给出了BS模型的加速退化方程及其适用性。     

基于步进加速退化试验的某型电连接器可靠性评估

某导弹电连接器属于高可靠性、长寿命产品,在短时间内很难获取其失效数据。为了评估其可靠性,在分析其失效机理的基础上设计了步进应力加速退化试验,通过分析加速退化数据外推出产品在正常工作应力水平下的可靠度函数。试验中,以电连接器的接触电阻作为性能参量,选取温度作为加速应力。数据分析时利用Wiener随机过程对样品退化进行建模,为了提高模型参数的估计精度,采用极大似然法对所有性能退化数据进行整体统计推断。结果表明,提出的基于加速退化数据分析的方法实用、有效,实现了某导弹电连接器的可靠性评估并可为其他高可靠性产品的可靠性评估工作提供参考。     

基于加速环境的可靠性指标验证试验

首先进行了电子产品失效模型的理论研究,并利用加速退化试验技术而研究了某通信产品失效机理一致的应力范围,通过对试验数据进行的统计分析,计算出失效机理一致情况下的激活能。在可靠性指标验证的试验研究中,将试验样品分成若干组分别进行恒温加速验证试验,并将试验结果与现场统计数据进行比较,最终确定产品的MTBF。     

基于加速退化试验的模拟IC寿命评估研究

为解决高可靠性、长寿命模拟集成电路的寿命评估问题,结合半导体器件退化失效的特点,提出了基于加速退化试验的模拟集成电路寿命评估方法。在此基础上,以某型电压基准模拟IC为研究对象,通过对退化数据的分析研究,获得了其在正常工作应力下的寿命数据。     

基于最小误差准则的加速退化数据优化处理方法

针对加速退化数据处理过程中存在的拟合误差问题,提出了基于最小误差准则的伪失效寿命预测方法和寿命统计过程中的多寿命分布优选方法,分别针对常用的退化模型和威布尔、指数分布、对数正态分布3种寿命分布模型.提出了退化数据优化处理方法.并用实例对该优化方法的有效性进行了分析.     

光纤通信系统中光电探测器可靠性理论

本文详细而系统地论述了用于光纤通信系统中光电探测器的可靠性。其主要内容包括:从可靠性考虑器件的设计和制造;器件关键性参数和潜在的失效模式;探测器退化和接收机灵敏度的关系;可靠性基本概念和参数;加速老化试验;寿命试验结果与计算。     

半导体激光器的可靠性

本文总结了关于半导体激光器可靠性研究的主要结果，讨论了主要退化模式，对实现高可靠性器件需要把握的主要因素进行了阐述.。     

P波段功率管的射频脉冲加速寿命试验

概述了Ｐ波段功率管在射频脉冲条件下进行加速寿命试验的方法，对Ｐ波段功率管可靠性进行了初步预测，并分析了器件失效的原因。     

Analysis of Performance-Degradation Data from Accelerated Tests

The performance of many products degrades as the product ages. Such degradation is usually slow but can be accelerated by a high `stress'. For example, the breakdown strength of electrical insulation depends on age and temperature. In some tests, the performance of a test unit is measured only once at a chosen age. For example, an insulation specimen yields only one breakdown measurement. A model and analyses for such data are described in this tutorial article. Also described is a method for estimating the distribution of time to failure, defined to be the age when performance degrades below a specified level.     

通信卫星用GaAs微波场效应晶体管可靠性快速评价技术

叙述了一种快速评价ＧａＡｓ微波功率场效应晶体管可靠性的方法, 利用该方法对ＧａＡｓ微波功率场效应晶体管ＣＸ５６２ 进行可靠性评估     

半导体器件贮存可靠性快速评价方法

为解决复杂环境下半导体器件的贮存可靠性评估问题,结合半导体器件的贮存失效机理及其寿命-应力模型,提出了基于多贮存应力加速寿命试验的半导体器件贮存可靠性评估方法。在此基础上,以某款中频对数放大电路为研究对象,通过对加速寿命试验结果的分析,获得了电路在规定贮存时间下的可靠度。