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为实现高精度光电轴角编码器的精度,提出了咣电轴角编码器的轴系精度指标,并对影响光电轴角编码器精度的主要因素-轴系晃动量的分离测量方法进行了讨论。 相似文献
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光电轴角编码器细分信号误差及精度分析 总被引:7,自引:4,他引:7
高分辨力光电编码器通常利用码盘精码两路正交的正、余弦信号,通过细分达到高分辨力.为使细分技术更加完善,本文对细分误差进行了专题研究.分别对信号直流分量误差、幅值误差、相位误差、谐波分量误差、噪声误差和量化误差等进行了数理分析,通过对细分误差的特性分析,得出了误差规律及其计算公式,形成了比较完整的光电编码器细分误差及精度分析的数理结果.结果表明,一般情况下细分精度在1.5%左右.文章指出,利用码盘精码通过细分提高分辨力,应在码盘选择、轴系设计、信号提取、电路设计、工艺调试等各个环节充分考虑细分误差的影响.研究结果可用于在产品设计时,合理进行误差分析与分配,预估产品的精度,为减小设计误差提供参考. 相似文献
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圆光栅增量式光电轴角编码器性能自动检测方法 总被引:2,自引:0,他引:2
本文提出了一种对圆光栅增量式光电轴角编码器精度及性能参数进行快速、自动、动态检测的方法,对编码器在各转速范围内输出信号的主要参数如分度精度、频响特性、正弦性、正交性、每转信号周期数、脉冲信号占空比等的检测、评定作了介绍。 相似文献
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高分辨力光电轴角编码器分辨力和精度的检测 总被引:5,自引:0,他引:5
采用微动螺杆、斜面、正弦杠杆等四级缩小原理、产生标准的微量角,测量高分辨力光电轴角编码器的分辨力和细分误差,并用直接比较法测定编码器的测角精度和进行数据处理。 相似文献
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介绍了模数转换器AD7864芯片特性、时序和数据转换工作过程原理。模数转换器AD7864的1个转换周期只需要1.65μs,所以非常适合应用在光电轴角编码器中,采用20MH2晶振频率的16位80C196KC微处理器来提高编码器运行速度,同时介绍其与80C196KC单片机硬件接口电路和在编码器中的莫尔条纹细分的软件设计流程,最后阐述其在光电轴角编码器的应用结论和转换开始后输入信号和跟踪/保持信号的时序图的应用结论。 相似文献
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为了提高光电编码器动态检测技术的稳速精度,设计了基于永磁无刷直流电机的转台驱动系统。分析了动态检测转台工作时速度波动对编码器角度误差的影响;结合空间矢量法建立无刷电机三相绕组的力矩合成模型,使合成力矩在空间内任意位置幅值相同;最后加入PI控制器,并利用DSP+CPLD设计了驱动电路,以保证电机匀速转动,并可模拟编码器在实际应用中的各种转动方式。实验结果表明:设计的编码器动态检测转台驱动系统在高、低速转动时都能保持恒定的转矩输出,系统稳速精度高,稳态误差小于±1(°)/s。另外,转台驱动系统转动稳定,有效降低了速度波动对编码器误差检测的影响,满足光电编码器动态检测的要求。 相似文献
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为提高图形化干涉光刻质量,提出了基于闪耀光栅的图形化干涉光刻(PIIL)系统,并对该系统所采用的光学原理和实现方法进行了研究。首先,分析了图形化干涉光刻系统的光场特性,阐述了其分辨率提升的原理。讨论了光学系统带宽和图案分布对光刻图形质量的影响,给出了图形质量控制的工艺方法。其次,提出了一种新型的图形化干涉光刻方法,该方法采用闪耀光栅作为衍射分光器件,实现了位相和振幅的一体化调制。采用数值计算方法模拟了闪耀光栅的衍射特性和像面光场分布,讨论了闪耀光栅的优化设计方法,获得了高达92.3%的±1级衍射效率。最后,基于数字微镜器件(DMD)和微缩成像光路设计开发了图形化干涉光刻系统,实验获得了像素化的点阵图形和质量明显改善的光刻图像,验证了该方法对任意图形的适用性。 相似文献
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结合近几年从事基础物理的教学经验,围绕波动光学中相关知识点,提出了一种严格阐述干涉与衍射的方式和方法:即从光栅的光强度分布公式入手,讨论了光栅、多光束干涉、双缝实验的光强度分布情况,并系统地说明了其中的区别和联系,从而较深入地探讨了光波干涉与衍射的本质。以期对基础物理教学提供一些有益的借鉴,其中提出的一些观点和方法还有待在今后的物理教学实践中不断积累和完善。 相似文献
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Specific sources of the error of forming the angle measuring structure topology by raster scanning based on the thermochemical technology of latent image writing in chromium films are analyzed. Relationship between this type of error and the specific features of dynamics of chromium film heating by laser radiation is found. A structure writing correction algorithm is proposed and implemented. The algorithm ensures an accuracy of synthesizing angle measuring structures of about several seconds of arc. 相似文献
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