首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
相似文献
 共查询到10条相似文献,搜索用时 31 毫秒
1.
唐丽  邹映涛  唐昱 《电子测试》2016,(18):33-35
VCD仿真文件转为ATE测试文件,是ATE测试过程中的重要环节。本文介绍了VCD到93000 ATE测试文件的转换分析,文中采用主流转换方法,由VCD转为STIL,再由STIL转为ATE测试文件,对转换过程各重要环节进行深入分析,帮助ATE测试工程师对转换的理解,使转换后的测试文件更能满足93000 ATE测试要求。  相似文献   

2.
介绍了VCD(value change dump)文件在集成电路设计和测试相互结合的过程中所起到的重要作用,并对其特点进行了较为新颖全面的分析,在此基础上提出了一种非常实用的称为LYT(Li-Yang Translation)的中间格式,按照VCD文件的基本特点利用哈希表对关键词进行了分类压缩,把变化信息按照管脚进行了归类,并采用做差、合并的处理方法简化值变化信息的处理,实现了两者的相互转换。实际的测试表明:改进后的格式提高了VCD文件的处理速度。  相似文献   

3.
集成电路极性测试一般指选择电路一个特定管脚进行电性能量测,快速判断电路放置是否反向、错位等,实现原理和集成电路开短路测试原理一致。目前集成电路极性测试多数依赖于功能强大、应用成熟的集成电路自动测试机(Automatic Test Equipment,ATE)实现,但是测试性价比没有任何竞争力。基于集成电路极性测试原理,采用纯硬件制作一款集成电路极性测试"微整机",在极性测试上达到与ATE同样的测试能力,并能和机械手(Handler)进行信息交互,实现自动化测试,具备简单、稳定、高效和极低成本的特点。  相似文献   

4.
李杰 《电子测试》2009,(2):50-53
VCD文件是硬件描述语言仿真结果的标准输出格式,是各类电子设计自动化(EDA)工具与自动测试设备(ATE)平台之间进行沟通的桥梁文件之一。本文主要介绍了四态VCD文件格式的解析,对四态VCD文件内部语句进行了说明。  相似文献   

5.
对于集成电路测试而言,测试时间与成本直接相关,减少测试所需的时间意味着测试成本的降低。对于大型的测试矢量集,由于ATE存储器大小的限制,无法一次装载所有的测试矢量,需要多次的loadunload过程,从而浪费了大量的时间。通过测试矢量顺序的优化可以有效地减少重载次数而大大降低测试所需时间。应用模拟退火算法可以对测试矢量顺序进行全局的优化,得到该问题的近似最优解。  相似文献   

6.
文章重点介绍了一种FPGA验证与测试的方法。该测试方法的优点是不依赖于芯片设计与测试机台,低成本、开发周期短。基于PC、ATE与自制转换软件,对FPGA验证与测试开发技术进行研究。PC主要完成bin文件的生成,自制转换软件主要将bin文件转换为机器可识别的atp文件。ATE导入配置文件、完成信号输入与输出验证。基于该理论对Xilinx公司的XCV1000进行了实验,实验表明该方法可行并能快速实现测试开发与芯片验证,且具有很好的通用性,可用于其他FPGA芯片的测试、研究与验证,还可以应用于不同的ATE机台。  相似文献   

7.
卫星导航射频芯片是导航系统中的关键部分,其指标的优劣决定着导航系统的导航精度。通过分析卫星导航射频芯片的结构特点,针对主要参数进行了测试分析。在基于集成电路自动测试系统(ATE)的基础上,结合射频测试设备实现卫星导航射频芯片的性能测试。该技术对基于ATE的射频芯片测试均具有借鉴意义。  相似文献   

8.
在单颗硅芯片上设计更多系统功能(SOC)的趋势,增加了IC的开发与制造测试的复杂度。未来对于较高速度与较多管脚数的需求,将使传统的自动化测试仪器(ATE)变得非常昂贵。为了减轻开发工作的负担及降低制造测试的成本,不得不寻求知识产权(IP)的再利用与可测试性设计(DFT)技术。本文介绍一种新的多端口ATE结构,它是为基于IP的测试开发与执行而设计的。这种结构提供刚好足够的能力来测试芯片,以降低ATE的资本成本,并广泛使用平行测试来提高产能。  相似文献   

9.
面向ATE的电路板测试性分析及评估方法研究   总被引:7,自引:1,他引:6       下载免费PDF全文
为了客观地评价TPS,保证ATE在电路板测试维修中发挥更大作用,给出了面向ATE的电路板测试性评估方法.通过ATE测试资源分析选择测试点,利用电路故障仿真,建立电路板的测试性模型、生成依赖矩阵,得出电路板故障检测率和隔离率;然后结合ATE测试的可靠性及费用分析,得到电路板平均故障隔离费用和平均故障隔离步数,实现了电路板测试性的综合评估.最后以某装备电路板为例,验证了方法的有效性.  相似文献   

10.
李杰  刘林生 《电子测试》2012,(11):32-36
内部示波器是ATE测试设备上的一个调试工具模块,它的主要功能就是可以动态地显示ATE被测芯片某个输出管脚的实时波形,是ATE测试设备进入中高端市场必备的一个模块。对于测试工程师来说,在编写测试程序或者调试测试程序的时候,相对于外部示波器来说,内部示波器的优点是非常明显的。本文主要讨论了如何在数字ATE上实现内部示波器的功能,以及实现上的一些难点和波形优化的问题。  相似文献   

设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号