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丁洪仁 《机械工人(冷加工)》1993,(11)
在平板上检测零件的位置误差(平行度、垂直度等误差)时,一般是先将被测零件的基准轴线与测量基准平板调整成平行,然后对被测要素进行测量。由于基准轴线的调整均采用试探性逐渐逼近的方法,操作比较麻烦,往往要花费很长的调整时间,影响检测效率,本文介绍一种简易的调整方法。 在平板上用千斤顶点持零件,三个千斤顶的分布 相似文献
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盘盖类零件和箱体件的同轴度问题,长期来一直是生产中难以解决的测量难题,目前也没有可用于这方面测量的专门仪器。无锡某厂根据同轴度的基本定义和测量原理,研制成能用于生产现场测量同轴度的仪器,它对提高产品质量,减少废品和返修工时损失,有积极作用和推广价值。该原理也可适用于箱体件的同轴度测量。现将有关原理和仪器介绍如下。一、基本概念 1.同轴度误差的定义被测实际要素对一具有确定位置理想要素的变动量φf,是该零件被测实际要素的同轴度误差值。如图1所示。盘盖类零件的基准要素和被测要素都有可能或是 相似文献
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位置量规是检验零件关联被测要素的实际轮廓是否超越规定理想边界的量规。当零件的尺寸公差与形位公差遵守最大实体原则或关联要素遵守包容原则时,其实际轮廓应被限制在实效边界或最大实体边界之内,都可用位置量规来检验。如图1所示,连杆小端孔(mm)的尺寸公差与平行度公差(位置公差)遵守最大实体原则,因此,应优先选用位置量规检验平行度。位置量规只能控制关联要素的作用尺寸在理想边界之内,不能测出零件的实际尺寸和形状误差的具体数值。但它能迅速准确地反映被测要素实际轮廓上定形尺寸与形位公差的综合结果,保证零件装配时的互换性。图1… 相似文献
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对于同轴度的检验,小孔零件可固定在方箱上翻转测量;孔径较大的零件(孔径<100mm)不便于翻转,可采用穿心轴的方法进行同轴度的检验;当孔径超过100mm时,心轴很难穿入且易破坏孔径表面质量,这时通常采用三坐标机测量同轴度,由于被测孔径的表面质量对三坐标机的触头影响较大,甚至影响测量精度。因此经过实践,对于大孔径零件同轴度的测量也可采用光学自准直仪。自准直仪通常用来测量平板、机床导轨等大型零件的直线度、垂直度和平面度。我厂的V8、V12、V16系列柴油机机体上的主轴承孔孔径为160H7。以V16机体为例,该机体有9个主轴承孔,同轴度… 相似文献
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本文从同轴度误差的定义出发,简述定位误差所具有的特性。据此说明轴类零件同轴误差即为被测轴线对参考基准的误差。基于这个观点证明对长轴零件采用龙门刨床的工作台面为测量基准和采用小平板改变测量基准来测量同轴度是可行的。 相似文献
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通过一套由活动板、固定板、调节块和钢套等组成的检验工装,介绍了一种使用方便、高效耐用、测量直观的工装设计过程,解决了孔类零件键槽对称度测量时调整平行时间较长的问题,大大提高了键槽对称度的测量效率。 相似文献
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轴类零件的键槽位于轴颈之上,它的对称度是指键槽的中心平面相对于轴心线发生平移或倾斜所允许的程度。在生产过程中,判断键槽对称度超差与否,既要测量键槽的中心平面相对于轴心线的平移程度,又要测量它们之间的倾斜程度。目前测量平移程度(即截面测量)常用的方法是将零件用V型铁支承于平板之上,然后利用测量器分别测得键槽塞片的两测面相对于轴心线的距离之差M。再通过公式:f=Mh/(D-h)算得对称度误差。这种方法在实际应用过程中,必须具备测量平板、V型铁、测量器等测量器具,且测量时间较长。如果是经常性小批量生产或者是专用铣床的调试,特别是大型轴类零件,这种方法就更显得缓慢而且很不方便。另外,在不具备平板、V型铁以及测量器的情况下,这种方法就根本无法使用。为此我 相似文献
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以套筒零件为例,分析了轴类零件倒角处尺寸的被测要素,利用与标准件进行对比测量的方法,间接测量了零件倒角位置的尺寸,解决了轴类零件倒角处尺寸常规方法无法测量的问题,实现了轴类零件倒角处尺寸对比测量的检具设计. 相似文献
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某零件如图1所示,需要测量轴端两个小球面的球心相对于轴的轴线的同轴度误差在Ф0.02mm以下。目前,常用的轴类零件同轴度测量方法有V形块打表测量、双顶尖测量、三坐标测量和同轴度测量仪等。但是,由于该零件短小、作为被测要素的小球面表面太小等原因, 相似文献
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轴类零件公差测量实验计算机控制技术的应用 总被引:2,自引:0,他引:2
在互换性测量技术实验中,对轴类零件的测量,大多采用百分表等仪器进行手工测量,其缺点是人的视觉误差等因素造成实验数据的不精确.本文介绍了自动测量控制系统的工作原理,采用数据采集系统对被测工件进行自动测量,从而克服了上述缺点.同时,可以对轴类零件圆周上实现多点测量,能更好地评价轴类零件的几何尺寸. 相似文献
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多表面干涉下的光学元件面形检测 总被引:2,自引:1,他引:2
为了消除平行平板类光学元件的多表面干涉效应对元件面形测量的影响,提出了基于波长移相调谐技术与傅里叶变换原理的多表面干涉条纹检测技术.首先,根据波长移相原理和被测元件的厚度,按照推算出的被测腔长与元件厚度间的比例关系正确摆放被测元件的测试位置.然后,通过波长移相技术采集一组干涉图.最后,对这组多表面干涉图进行离散傅里叶变换,提取带有被测元件前后表面面形的频率信息以及厚度变化的频率信息,通过重构算法得到准确的面形信息和厚度信息.实验结果表明:与传统的13步移相算法相比,得到的前表面PV值和RMS值分别相差0.003和0.001,而后表面PV值与RMS值分别相差0和0.001.这些结果基本满足平行平板类光学元件面形的高精度测量与洁净测量的要求. 相似文献
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如图1所示工件的线对线平行度误差可按GB1958—80中平行度误差检测方案1~10进行检测,即将被测零件放在等高支承上测量平行度误差。本文介绍一种不需使基准轴线平行于平板,主要通过数学计算求得平行度的方法。一、测量步骤1.如图2所示将心轴2与孔成无;司隙配合地插入孔中,测量被测孔模拟心轴1上长度为I。的A、B两点的高度代数差凸。。。设OO’为X轴,Y轴与X轴垂直,则上。。一y。一y。,测量基准孔模拟心轴2两端长度为Lb的C、D两点高度代数差上CD—yC一yD,如果忽略心轴制造误差可以认为西BA、凸CD为对应孔中心的高度差,但如… 相似文献