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研究了热处理气氛对用无电沉积方法制备的Cd2SnO4导电膜的化学态结构和导电率的影响。X射线光电子能谱和室温电阻率测量结果表明,以氢气为热处理气氛时,薄膜中的氧空位最高,导电性好,真空处理次之,以氧气为热处理气氛时,氧空位少,薄膜的导电性能差。 相似文献
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