MATLAB和数控机床在凸轮反求中的应用

文中通过运用三轴数控铣床和寻边器,用极坐标编程,对旋切机的凸轮轮廓进行测点,利用MATLAB对所测数据进行处理,找出轨迹方程,利用CAD/CAM软件的公式曲线等工具建模,最终生产出高品质的产品,不但提高了产品的质量,降低了成本,主要为企业找到了反求的捷径.     

真诚服务 化干戈为玉帛

近期,有关工程机械用户状告企业的案件屡见报端,细数这些案件的原委,无非都是用户的设备发生了故障,得不到企业的服务或者是对企业的服务不满意,问题一直得不到圆满解决,只好通过法律途径寻求解决。在没有切实弄清原因之前,我们并不将原因归咎于任何一方,但最终走到通过法律来解决的地步,无论对用户还是企业,都会在多方面产生影响,这确实让人有些惋惜,尤其是在各个企业主打服务牌的今天,这样的纠纷屡见不鲜,更有些不可思议。     

一种值得称羡的生活方式

正在德国的大街上经常可以看到,既有白发老者,又有高挑美女,还有身着蓝色工装的技工,腋下都夹着一本书,目光祥和,举止优雅,慢悠悠行走着,公交车上、一些乘客静静地读书,有时还能见到在等候乘客的片刻,司机也在翻阅书本。自古以来,读书好学的     

拖拉机交强险及农机政策性保险问题探讨

农业机械作为服务农业的重要组成部分,通过几代人的努力,有了长足的发展,特别是随着改革开放的深入,城市化进程不断加快,农村劳动力大量实现转移,农业生产对农机的依赖程度更加凸显。由于我国农业产业基础薄弱,其弱势特征仍然比较突出。近年来,国家为稳定农业,不断提高农机补贴的财政扶持力度,作为大城市的上海,通过建立政策性农业专业保险公司,对在用农机实行财政补贴,在稳定农     

插秧机使用中存在的问题及对策

近两年来,江苏省铜山县机插秧工作取得了突飞猛进的进展.机插秧面积由2005年的不足200亩,发展至2006年的1000多公顷,跃至2007年的1533公顷;插秧机保有量也从2005年的35台,跃至2007年的236台,机插秧工作呈现出四面开花、高歌猛进的势头.但是,随着机插秧面积的增大,插秧机保有量的增多,在使用插秧机的过程中,也出现了很多问题,影响机插秧效果及插秧机推广进度.     

脱脂机组卷取张力自动优化设定技术的研究

经过大量的现场试验与理论研究,针对脱脂机组的卷取设备与工艺特点,充分考虑到后步工序的粘酷与松卷问题,在首次提出粘结与松卷综合控制目标函数的基础上,建立了一套完整的脱脂机组卷取张力自动优化设定技术,并将其应用到宝钢1220脱脂机组的生产实践中,取得了良好的使用效果,大大降低了粘结与松卷的发生率,创造了很大的经济效益,具有进一步推广应用的价值.     

对话农机手

"三夏"时节,田野麦浪滚滚,收割机机声隆隆。小麦2010年又是丰收年,农民们看着丰收景象,满脸洋溢着喜盈盈的笑,农机手们开着联合收割机,满怀着甜蜜的快乐,机欢唱,人开心,同奏着麦收的"欢乐颂"!     

正面碰撞乘员侧约束系统模型的建立与验证

利用世界上最先进的碰撞受害者模拟软件MADYMO建立正面碰撞模型(乘员侧).模型的响应与加速度滑台试验的结果基本一致,包括大腿力,腰带力,肩带力,颈部力(Fx,Fz),颈部弯矩(My),胸部位移,以及髋部,胸部,头部的加速度的响应.成功的为某款车型匹配了乘员侧气囊,大大的降低了假人身上的伤害值.     

古老的另类钟表—机械数字显示台表

上世纪七十年代末,我们国家改革开放初期,各种新潮的腕表通过各种渠道进入我国,由南向北,由沿海向内地一路席卷而来,从款式到功能,从外观到实用性,向这个古老的、守旧的、闭塞的国度发起了一轮强大的冲击波,其中液晶数字显示腕表在当时可谓出尽了风头.     

温暖,来自充满阳光的窗口

正"双11"的第二天刚一上班,我就接到门卫打来的电话,让我去取邮件。放下电话,同事便开始调侃,说我都奔60岁的人了也跟着赶潮流,有家有口的也在光棍节里凑热闹。我也是丈二和尚摸不着头脑,带着疑惑匆匆去了门卫。当我打开邮件时,映入眼帘的是MC《现代零部件》几个耀眼的醒目大字。第一次看到这本杂志,有种莫名的惊喜,当我回到办公室静下心阅读的时候,那些关于汽车零部件林林总总的文章吸引着我痴情的目光。此时,心情格外的愉悦,透过这小小的窗口,我仿佛沐浴在七色的阳光里,感觉好暖。     

超光谱成像仪的精细光谱定标

为了精细标定棱镜色散超光谱成像仪1024×80光谱像元的中心波长和响应带宽,建立了一套光谱定标装置,提出了实现1nm光谱定标精度的定标方法。首先,介绍了产生谱线弯曲与谱线倾斜的原因,确定了精细光谱定标的方法和数据处理算法;然后,利用光谱定标装置测定了全部光谱响应像元的离散单色光响应值,利用高斯方程拟合了相对光谱响应曲线;最后,建立了中心波长矩阵表和带宽矩阵表,采用多项式拟合算法确定了空间视场像元的色散方程和光谱通道谱线弯曲方程,实验测定了温度变化谱线漂移结果。另外,还对光谱定标精度对辐射定标精度的影响进行了分析。光谱定标结果表明:超光谱成像仪的光谱定标精度达到了±1nm,各谱段带宽平均为8.75nm;色散方程及谱线弯曲与设计结果相符,谱线弯曲值为14～19nm,平均值为17nm;1nm的定标精度对辐射定标精度的影响分别小于1%(3000K黑体)和0.25%(6000K黑体),满足超光谱成像仪1nm光谱定标精度的要求。     

大孔径面视场PG成像光谱仪的光学设计

针对成像光谱仪通过狭缝进行线视场成像时存在的孔径较小、光学透过率较低等问题,研究了一种基于棱镜-光栅型分光结构的大孔径面视场成像光谱仪。该棱镜-光栅成像光谱仪采用表面浮雕型透射光栅,极大地降低了光栅的制作难度与成本。大孔径面视场的成像光谱仪相较于线视场成像光谱仪有较高光学效率和时间效率。但是面视场成像光谱仪的色畸变与谱线弯曲较难校正。本文将前端望远系统与分光系统进行一体化设计,满足远心光路匹配和孔径匹配,较好地校正了面视场光谱成像系统中的谱线弯曲和色畸变。并且通过加入非球面反射镜及校正镜很好的校正了由于大孔径面视场所引入的非对称性离轴像差。结果表明,设计的大孔径面视场PG成像光谱仪光谱波段范围400~1 000nm,光学调制传递函数达到0.65以上,光谱分辨率达2.5nm,全谱段不同视场的谱线弯曲小于5μm,色畸变小于8μm。     

Contour Hologram Recording under the Formation of Multifrequency Pulsed Radiation Using Stimulated Brillouin Scattering

A ruby light source is described that emits a giant multifrequency pulse, in which each spectral line, except for the initiating radiation line, is a Stokes component of the stimulated Brillouin scattering of the preceding adjacent line. The results of experimental studies of the temporal, spectral, and energy characteristics of radiation are presented. It is shown that the radiation formed can be used for the holographic recording of contour maps with a narrower fringe than that obtained with a two-frequency laser.     

基于电弧光谱的钢熔化极惰性气体保护焊质量判识

通过对熔化极惰性气体保护电弧焊(MIG焊)电弧光谱分布进行采集,研究其光谱分布的基本特征,并基于光谱分布的分析,通过预设干扰因素,对不同特征谱段光谱信号随焊接过程的变化进行采集,寻求MIG焊接质量在线光谱测控的理论依据和工程实现.研究结果表明,MIG焊电弧光谱在不同谱段存在金属谱线和Ar谱线聚集区.在不同弧长下的不同熔滴过渡形态,其光谱信号在特征谱段得到明显反映,电流变化引起的焊道变宽也有很好的特征信号;不同干扰因素引起的焊接缺陷,在焊接电弧光谱信号不同谱段的分布和变化规律不同,通过对特征谱段信息的采集,可以获得关于焊接过程信息的特征信号,从而实现对MIG焊接质量的分类判识.     

凸面光栅成像光谱仪的研制与应用

考虑传统光栅成像光谱仪受光学畸变的限制难以同时实现大光学孔径和小型化要求,利用全息法设计并制作了凸面光栅,并以该凸面光栅作为核心元件研制了便携式成像光谱仪。该光谱仪以推扫方式进行目标扫描,获取成像光谱数据立方。仪器的光谱分辨率为2.4 nm,光谱谱线弯曲为0.1%,色畸变为0.6%,体积为209 mm×199 mm×110 mm。介绍了仪器的工作原理和结构设计,并进行了实验室检测和室外花卉实际光谱测量。测试结果表明:凸面光栅成像光谱仪的光谱分辨率为2.1 nm,光谱谱线弯曲为0.09%,色畸变为0.6%,均满足设计要求,实际花卉光谱测试亦取得了较为理想的结果。     

谱线弯曲对成像光谱仪辐射信号采集的影响

为了研究谱线弯曲对棱镜色散成像光谱仪光谱辐射信号采集的影响。首先,给出探测器像元采集到的辐射能量的表达式。然后,结合复合棱镜的色散特性,在可见近红外光谱范围（400～1000nm）内,计算当光谱偏离量为0.01d、0.1d和0.5d（d为探测器像元尺寸）时系统采集到的辐射能量与没有谱线弯曲情况下系统采集到的辐射能量的归一化差值,衡量谱线弯曲下系统辐射测量的变化。结果表明：谱线弯曲引起的探测器上的光谱偏离导致系统辐射信号采集发生变化,与没有谱线弯曲的情况相比,采集到的景物辐射信号在大气吸收带的边缘出现明显的偏差,且信号的差值随光谱偏离量的增大而增大,当光谱分辨率提高时,一些较弱的吸收峰附近也会出现明显的信号偏差。对于光谱分辨率平均为10nm的成像光谱仪,谱线弯曲量应控制在0.3nm以内。     

Vibration analysis of the plates subject to distributed dynamic loads by using spectral element method

A spectral element method (SEM) is introduced for the vibration analysis of rectangular plates under distributed dynamic loads. In this paper, the spectral plate element matrix (often called the dynamic stiffness matrix) is formulated from the relation between the forces and displacement along the opposite two parallel edges. The distributed dynamic load is discretized into a sequence of equivalent line loads. The plate is then considered as a connection of two spectral plate element with the joint node line along which the equivalent line load acts. The spatial coordinate dependence of each equivalent line load is then removed through the spatial Fourier transformation so that the plate (2-D) problem becomes a simplified equivalent beam like (1-D) problem. The remaining solution procedures is therefore the same as that used for beam problems. Numerical tests show that the present SEM provides very accurate solutions when compared to finite element solutions.     

干扰因素下钢TIG焊电弧光谱的研究

通过对干扰因素下TIG焊电弧的光谱信息进行采集,研究了气流量变化、焊接试件表面存在锈等干扰因素对焊接过程电弧光谱分布的影响,并基于光谱分布的分析,进一步探讨了不同光谱谱段对干扰因素的反映,寻求实现焊接过程质量在线光谱测控的理论依据。研究结果表明：干扰因素在焊接电弧光谱信号不同谱段（220~300nm、300~430nm、430~520nm、530~680nm、700~900nm、900~1000nm）的分布和变化规律不同,其中 220~300nm对应谱段以FeⅡ谱线的影响为主,在700~900nm对应谱段以ArⅠ谱线的影响为主,在此两个谱段干扰因素响应较明显。历史通道采集结果表明,干扰在250~350nm、700~830nm谱段,信号特征非常明显,具有很好的信噪比,并且不同干扰因素在特征谱段的反映具有自身特点,可据此对干扰因素进行分类判识。
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椭圆型晶体谱仪谱测量的解谱研究

对椭圆型晶体谱仪配X射线CCD相机的X射线谱测量系统（EBCS-XCCD）进行了简要描述,研究了CCD相机记录信号的解谱处理方法,推出了对实测原始谱曲线辨认或标识值的计算公式及激光等离子体X射线源在某一波长光谱强度的公式,使之应用在激光打靶产生的等离子体源辐射X射线谱的回推,辨认出了激光等离子体X射线源能谱,并与文献[1]的结果进行了比较,结果基本一致。这一事实有力地佐证了解谱方法的可行性,也表明X射线CCD相机是适宜于椭圆型晶体谱仪的光谱测量记录。在已知晶体的积分反射率、滤片透射率和CCD探测效率的条件下,还可以获得X射线源光谱强度,可为下一步诊断激光等离子体的电子温度和离子密度的空间分布轮廓和进一步细化X激光研究奠定了更深厚的基础。     

Quantitative extraction of spectral line intensities and widths from x-ray spectra recorded with gated microchannel plate detectors

Plasma spectroscopy requires determination of spectral line intensities and widths. At Sandia National Laboratories Z facility we use elliptical crystal spectrometers equipped with gated microchannel plate detectors to record time and space resolved spectra. We collect a large volume of data typically consisting of five to six snapshots in time and five to ten spectral lines with 30 spatial elements per frame, totaling to more than 900 measurements per experiment. This large volume of data requires efficiency in processing. We have addressed this challenge by using a line fitting routine to automatically fit each spectrum using assumed line profiles and taking into account photoelectron statistics to efficiently extract line intensities and widths with uncertainties. We verified that the random data noise obeys Poisson statistics. Rescale factors for converting film exposure to effective counts required for understanding the photoelectron statistics are presented. An example of the application of these results to the analysis of spectra recorded in Z experiments is presented.