介质损耗因数出现负值原因分析

对现场测量电气设备tanδ出现负值的各种原因进行分析和讨论,指出试验回路中如存在接触不良、附加损耗电阻、杂散阻抗等均可导致tanδ测量结果出现负值。提出铁心损耗是电磁式电压互感器产生负介损的一个重要因素。认为短路二次绕组后可同时减小铁心损耗和电感的影响。最后提出了解决tanδ为负值的一些措施。     

空间干扰对电容式套管介质损耗因数(tanδ)测量结果影响的分析

空间干扰对现场试验中出现的电容式套管介质损耗因数tanδ可造成影响,使其偏小甚至出现负值。针对这一问题,笔者进行了分析研究,并提出了相应的建议:在现场进行电容性套管的介质损耗测量时,必须认真分析空间干扰网络的影响,以防止介质损耗因数的测量误差,保证测量结果的准确性。     

浅谈温度对油纸电容型套管介质损耗的影响

文章通过对湖北凤凰山变电站500kV凤1号、凤2号变压器(日立产)的油纸电容型套管历年试验数据的分析,研究了tanδ与环境温度的关系,讨论了温度对油纸电容型套管介质损耗的影响。     

110kV变压器油纸电容式套管介质损耗因数异常分析

<正>1现场情况2015年3月,对某110 kV变电站1号主变进行预防性试验。在进行主变110 kV油纸电容式套管介质损耗因数(tanδ)及电容量试验时测得:A相套管tanδ为0.98%,B相套管tanδ为1.12%,分别接近和超出南网预试规程上限值1%,而与上次测试值相比无明显变化,符合规程要求。经查证,公司内部同厂家、同型号、同批次的设备曾出现类似异常,国网近年也曾报道过该类设     

一起高压套管更换末屏引出装置后介质损耗因数异常分析

套管作为变压器的重要组件,其绝缘状况的优劣直接影响着变压器的安全稳定运行,套管介质损耗因数tanδ和电容量Cx能够有效反映设备绝缘的整体老化、受潮、内部集中性缺陷等一系列问题。针对一起220 kV变压器高压侧套管介质损耗因数异常增大的特殊案例,经现场缺陷排查发现,该现象是由于更换套管末屏引出装置时外部气体侵入套管内部绝缘油中形成气泡所引起的,并通过现场模拟和理论分析对此进行了验证,同时对如何预防此类缺陷提出了相关建议。     

对油纸电容式套管产品介质损耗因数超标情况的探讨

现就油纸电容式套管产品介质损耗因数超标情况进行一些探讨。 油纸电容式套管主绝缘的介质损耗因数tanδ值能灵敏地反映主绝缘的状态，是电容套管能否安全运行的重要依据。国家标准中规定的电容套管产品介质损耗因数控制值为tanδ＜0.5%。而我们在生产过程中发现有两台110kV电容套管介质损耗超过了标准值，测试数据如表1所示。     

基于虚拟仪器的变压器套管介质损耗因数在线检测的研究

介质损耗因数(tanδ)是高压套管等电容型电气设备绝缘状况的重要特性参数,但由于变压器运行环境中存在很多的干扰信号影响了套管的介质损耗因数测量,采用小波去噪的方法,研究了基于虚拟仪器的变压器套管介质损耗因数在线检测。测量结果表明,虚拟测试仪引入小波函数法,具有较高的准确度。     

110kV带抽头电容式电压互感器介质损耗角正切tanδ测试误差原因分析

通过对现场1组110 kV带抽头电容式电压互感器(CVT)介质损耗角正切tanδ测试实例,基于正接线的测量方法,采用AI600E型自动介质损耗电桥,对带抽头CVT的C1、C2介质损耗角正切tanδ测试误差的原因进行分析,得出了由于CX接触不良使得标准臂的参数发生了变化,是引起测试误差的主要原因。     

变压器末屏套管断裂的发现及解决

2004-06-01,安庆变电站2号主变压器安排综合检修。试验人员在做主变预防性试验时,怎么也测不出主变高压中性点套管的电容量。他们又是做介质损耗,又是用电容表测量,各种方法都试过了,电容量还是没有显示。据此,试验人员判断是末屏小套管存在问题,有可能是末屏引出线断裂,于是决定做解体检查。2004-06-03上午,试验人员通过吊车将2号主变压器220kV高压中性点套管吊出,拆开末屏小套管后发现,末屏引出线已断开,而且从线路断口的痕迹看断裂已有一段时间。这是一个极其严重的安全隐患,安徽电网就曾发生过由于变压器套管末屏接触不良造成套管爆炸…     

受潮状态下环氧胶浸纸套管频域介电谱研究

为研究环氧胶浸纸干式套管在受潮状态下的绝缘特性,建立了环氧胶浸纸套管电容芯体绝缘性能测试装置。基于频域介电谱(FDS)方法,测试分析了环氧胶浸纸套管电容芯体在空气中自然受潮、烘干及在绝缘气体微量水分条件下的FDS曲线变化规律,结合工频介质损耗因数和电容量测量结果,提出了环氧胶浸纸套管受潮特征参量及受潮诊断方法。研究结果表明:随着受潮程度的增加,FDS曲线向高频方向移动,且套管在低频段出现tanδ负值及负峰值,严重受潮时套管工频介质损耗因数会明显增大;环氧胶浸纸套管在绝缘气体中的受潮程度远低于空气中受潮,工频下的tanδ和C变化量很小,可通过分析0.1 Hz下的tanδ值及FDS曲线整体变化规律判别套管是否受潮,为环氧胶浸纸套管出厂检测及现场检修提供参考。     

几种用于防晕的非线性电介质的损耗性能比较

测量和研究了碳化硅(SiC)、氧化锌(ZnO)和钛酸锶(SrTiO3)超微粉末与防电晕漆混合物制备的试样的介质损耗角正切tanδ，分析比较了不同配比对试样tanδ的影响，发现适当配比的含SiC试样的tanδ较小且比较稳定，可作为新型的高压全干式应力控制型套管的非线性电介质材料。     

主变高压套管介质损耗因数tanδ试验的新方法

介绍了主变高压套管介质损耗因数tanδ试验的必要性和重要性,指出常规试验方法需解开高压套管与GIS相连的软连接,提出了一种新方法并验证其工作原理及实际运用的可行性。试验表明:新方法提高了工作效率,排除了对GIS损坏的风险。     

变压器套管安装后C_2电容介损的一种测量方法

电容和介质损耗测量能够有效的发现电气设备的绝缘缺陷,电容式套管的末屏对地的电容C2包含套管的固体绝缘并且包含部分油纸绝缘,因此测量套管的末屏对地电容和介损确认套管的绝缘状态有重要意义。套管安装后,套管的电容C2和套管电容C1以及变压器本体电容无法隔离,本文使用带有屏蔽功能的电容介损测试仪建立新的测量电路,可以准确的测量安装在变压器上套管的末屏电容介损。     

110kV主变套管介损超标的分析与处理

正1引言套管是变压器的重要组成部分之一,套管介质损耗因数tanδ是衡量其绝缘程度的一个重要指标。按照《电力设备交接和预防性试验规程》的规定,在对35kV及以上且容量8 000kVA及以上的变压器进行大修或有必要时,应对其介损进行测量。全国变压器运行事故分析报告统计表明:110kV及以上电     

断路器并联电容器离子性缺陷介损特性分析

对JWF150-1500型和JWF150-0.0015GHW型断路器并联电容器进行高压介质损耗试验,发现部分断路器并联电容器随电压升高介损值变化明显,存在离子性缺陷。通过数据和理论分析,解释了断路器并联电容器介质损耗随电压变化的原因及离子性缺陷对断路器并联电容器影响,并提出有效解决措施。结果表明:例行试验与投运前试验时10 kV下tanδ测量值偏差较大,且高压介损随电压变化下降明显的断路器并联电容器,可认定存在离子性缺陷。     

应用粗糙集分析电容型设备介损监测影响因素

为研究环境温度、湿度及电压等因素对电容型设备介质损耗因数(tanδ)在线监测数据的影响情况,在人工气候室内进行了变压器套管介质损耗因数的测量试验,将粗糙集简约理论引入到电容型设备tanδ在线监测影响因素的分析中,根据人工气候试验结果并结合粗糙集理论的分析方法,建立了分析电容型设备tanδ影响因素的决策表,通过决策表简约分析了环境温度、湿度以及电网电压对电容型设备的tanδ测量值的影响。分析结果表明:环境温度对电容型设备tanδ在线监测数据的影响最大,环境的湿度的影响也是比较明显的,而电压的影响则可以忽略。     

强电场干扰下开关均压电容器tanδ及C_x测量方法研究

对500kV变电所部分设备停电,在测量开关均压电容器介质损耗因数tanδ及电容量Cx时,受强电场干扰,电桥检流计大幅度、无规律的摆动,无法调平衡问题进行了研究,通过现场测量及试验室模拟试验研究,找出了造成检流计摆动的原因。用提高试验电压、降低标准电容器的电容量的方法,有效地降低了干扰的影响,准确测出了开关均压电容器tanδ及Cx值。     

用介质损耗分析变频电机匝间绝缘老化特性

变频电机匝间绝缘承受来自逆变器的连续高压脉冲方波的作用,为探讨工频正弦电压作用下具有很大差异的老化机理,通过采用工频正弦和高压脉冲方波两种电压源对模拟变频电机匝间绝缘的绞线对试样进行了电热联合老化对比试验,测量损耗角正切tanδ随老化时间的变化趋势,并结合热刺激电流测量结果,分析了电压形式对匝间绝缘介质损耗产生和发展的作用机理。试验结果表明:绝缘内部有放电发生时,放电与空间电荷协同作用使绝缘缺陷迅速增多;无放电时空间电荷反复注入和抽出造成绝缘损伤。两者都导致高压方波脉冲老化下绝缘材料的tanδ高于工频正弦老化下的tanδ;高压方波脉冲下空间电荷可能是导致绝缘材料最后击穿的原因。     

不均匀受潮油纸绝缘套管频域介电谱仿真研究

电容型高压套管作为变电站内极为重要的电力设备之一,其绝缘状态对于电力系统的安全稳定运行至关重要。套管在生产和运行过程中,可能因干燥、浸渍不充分或外部水分入侵而导致受潮,对其绝缘的可靠性带来威胁。由于套管电容芯子绝缘结构的特殊性,水分在其中通常是非均匀分布的,尤其是在外界水分侵入的情况下。本文建立了油纸绝缘双单元叠层和110kV电容型套管数值仿真模型,对其在不均匀受潮状态下的频域介电谱特性进行仿真研究。结果表明：不均匀受潮时,tanδ-f曲线呈现出明显的介质损耗峰,水分分布不均匀程度增大,损耗峰对应的频率随之增大;频域介电谱对套管厚度和末屏局部的含水量变化表现敏感,而基本不受套管轴向不均匀受潮的影响。     

电容型电气设备末屏故障原因分析与处理

阐述电容型设备末屏结构、分类、特点及常见故障形式。结合220 kV EAA-252/1600Z-4型高压穿墙套管及220 kV LCWB7-220WZH1型电流互感器设备末屏故障案例,分析设备末屏故障原因,介绍故障处理及设备末屏接地改造应用情况。