测试和测量

DC／RF／脉冲参数测试仪；灵活的存储器测试系统；PXI和PCI任意波形发生器；数字化仪具有高动态范围；数字广播场分析仪；用于线缆测试的手持测试仪；     

软件整合——通用信号源变身专用解决方案

数字RF测试是泰克今年所提出的“新数字世界”概念中所关注的四大领域之一，目前RF测试工程师需求体现在：空间可用频谱资源有限，开始使用一些更复杂的信号调制方式和数字编码机制如MIMO技术，以及应用在更宽频段的技术如UWB，所以实时频谱仪成为信号测试的首要工具；信号源方面，希望能够使用尽可能少的仪器产生RF、IF和IQ信号，减少设置的复杂程度；此外，串行信号和无线技术标准、规范的不断演进，需要利用信号源产生基于标准的信号。     

测试和测量

具备实验室质量的手持式RF功率计；可加速移动终端生产的无线测量套件；新型N2X一致性测试套件；支持新HDMI标准的综合测试解决方案。     

测试与测量

两款DC／RF／脉冲参数测试仪；用于W-CDMA基站性能检验的手持UMTS测量设备；用于VoIP网络的纯软件版Spectra2测试产品；动态测量可变分辨率数字化仪；用于实时示波器的高性能抖动分析工具。     

制造与测试

三和电器推出数字万用表PC520M，PC510，PC500；NI发布11款全新基于PXI的RF开关模块，用于视频和通讯测试；必能信推出新一代2000X数字超声波塑料焊接设备；     

要闻

美国国家半导体开展2007／08模拟技术应用设计大赛;TIMSP430MCU与RF芯片组帮助InnerWireless实现精确定位功能;安森美半导体成立电路保护应用测试实验室；OKI选用惠瑞捷V93000PortScale射频测试解决方案     

RF测试解决方案

单一模块的RF解决方案能够准确、低成本的测试多端口的RF SoC器件。公司的T2000测试平台装配了频率高达12GHz的宽带信号发生／分析装置。设备的32位RF信号输入／输出端口能够并行测试多端口的RF器件。此外,该设备还能够并行测试四个器件或16端口宽带器件。通过高速误差矢量量测（EVM）测试算法,     

测试数字RF技术的挑战

本文简要介绍了解决数字RF测试的实时频谱分析仪技术以及数字RF测试涉及到的不同应用领域.     

展讯选择Verigy解决方案测试无线器件

惠瑞捷半导体日前宣布，展讯通信有限公司已经选择Verigy Port Scale RF解决方案，在中国苏州对其生产的器件进行测试。在评测了多个竞争对手的解决方案后，展讯最终选择了Port Scale RF，因为（它吞吐量高，拥有多站测试功能，提供了更低的测试成本、性能更高的结果及杰出的测试稳定性。自从采用了Port Scale RF后，展讯已经使其大批量RF器件测试成本较以前的解决方案降低了大约50％。     

基于数字测试系统的RF IC芯片测试扩展

本文介绍如何扩展低端IC测试系统，使其具备13.56MHz RF IC卡芯片批量测试能力，为一些IC设计或测试企业利用现有低端数字测试系统，降低RF IC卡测试成本提供一种可能的选择。     

基于SoC测试系统的RF圆晶片测试技术

以手机为代表的无线通信应用技术已向SiP化发展，因此对构成SiP芯片的各个单元（chip）进行圆晶片级别的测试就必不可少。爱德万测试（ADVANTEST）开发了基于SoC测试系统的RF圆晶片测试解决方案，提供了一系列新技术来解决串扰、电源阻抗和等长布线等课题，从而实现低成本的圆晶片测试。本文将就RF圆晶片级别测试技术及SoC测试系统来介绍该RF圆晶片测试方案。     

吉时利用于高速产品测试的RF测试方案

吉时利仪器公司近期发布的2800RF功率分析仪，主要用于无线电话、RFIC功率放大器和相关RF器件的高速测试。2800采用独特的设计结构，首次提供了可满足更高速产品测量需求的RF功率测试，并具有优秀的测试质量和比传统的产品更低廉的成本。高速的测试可以从根本上缩短测试时间，有效地降低测试成本。     

美国吉时利公司推出新系列测试仪器

美国吉时利仪器公司(Keithley)日前面向中国市场推出三款测试仪器:2800RF功率分析仪、4500-MTS组件测试系统和6487型皮安表/电压源。 吉时利2800RF功率分析仪主要用于无线电话、RFIC功率放大器和相关RF器件等无线通信类产品的高速测试,提供可满足高速产品测量需求的、高质量低成本的RF功率测试,是通用频谱仪和通信综测仪的理想替代仪器。2800也可用于测量载波频率值。对于无线产品的测试,     

宽带无线通信射频收发前端设计

介绍了一种宽带无线通信系统(BWCS)。提出了一种应用于该系统TDD模式射频(RF)子系统设计方案,并对RF子系统进行了分析。研制出射频子系统电路,给出了测试结果。测试结果表明研制的RF子系统各项指标都满足宽带通信系统的设计要求。     

无线通讯芯片的RF测试在T2000上的实现方法

随着无线通讯技术的普及和发展,无线通讯芯片的需求量正在不断增长。无线通讯芯片的测试越来越重要。而RF测试是无线通讯芯片中关键的测试,本文基于本公司的射频SOC收发机芯片,详细介绍了无线通信芯片的RF测试在T2000上的实现方法。     

横河电机ATE事业介绍Innovative Test Solution Company-YOKOGAWA

作为世界著名的大规模集成电路测试设备（ATE）制造商之一的横河电机公司（YOKOGAWA）的ATE事业部门，我们ATE产品的测试功能覆盖了所有目前在市场上的集成电路器件产品。无论是模拟线性电路器件，混合信号电路器件，逻辑电路器件，高频RF通信电路器件及各种SOC器件；还是FPD驱动器件，存储器，Image Sensor器件等；无论是前道硅片级测试还是后道封装测试以及各种设计研发评估分析用测试；我们都能面对您的不同需求提供我们的最佳解决方案。     

适于毫米波应用的新型MEMS实时延时线(英文)

介绍了两种适于毫米波应用的RF MEMS实时延时线的设计。首先,在设计中采用了一种新颖的RF MEMS拓宽调节范围的变容器结构,得到了最大变容比为5.39的在片测试结果。其工艺设计基于表面微机械工艺,采用了由5个掩模版组成的工艺流程。然后,在RF MEMS变容器设计的基础上,完成了用于原理论证的Ka波段RF MEMS实时延时线的仿真设计、工艺流片和在片测试。Ka波段RF MEMS实时延时线的在片测试结果显示,在28GHz时处于下降状态的插入损耗为-2.36dB;两端口在28GHz时的回波损耗都小于-15dB,而在5～40GHz的整个测试频率范围内的回波损耗都小于-10dB。在Ka波段RF MEMS实时延时线设计基础上,60GHz RF MEMS实时延时线的仿真设计已经完成并准备投片。     

TD-SCDMA终端RF测试的参考实现方案

简要介绍了TD-SCDMA研发和产业化过程中涉及终端设备的RF测试方法,结合实践提出了TD-SCDMA终端RF测试实现方案。     

系统建模与去嵌在RF IC批量测试中的应用

生产测试中通常使用网络分析仪进行射频集成电路(RF IC)S参数测量。一些表贴封装元器件不能直接与网络分析仪连接,通常使用含夹具的测试系统进行连接测试。在无法提供有效校准件的情况下,提出了利用测试系统建模结合去嵌入的方法,解决了RF IC批量测试中的S参数测试问题,并进行了对比验证。     

Port Scale RF测试解决方案

V93000 SoC测试平台提供可靠的RF测量能力,可以对整合射频、混合信号、数字、电源管理、嵌入式或堆叠式内存的各类最新的高集成度芯片进行测量。PortScale射频测试解决方案的设计采用固态设计,RF资源都集中在测试头中。PortScaleRFSE具配置12、24或48个射频测试端口。