X－射线谱数据处理软件SPAN／XRF的开发和应用

文章介绍了ｘ－射线谱数据处理软件ＳＰＡＮ／ＸＲＦ的算法原理、主要特点和用途。设计的软件中有多种实用的功能和较理想的用户界面。此软件在微机上运行，支持ＶＧＡ彩色图形显示、多种打印机和鼠标等外设。     

一种分辨电子和X射线的多丝室系统

研制了一种能够分辨电子和Ｘ射线的多丝室系统，作为穆斯堡尔谱仪的探测器，可以同时测量样品吸收共振辐射后发射的特征Ｘ射线和内转换电子及俄歇电子的穆斯堡尔谱，从而得到样品表面不同深度的多种信息。     

基于PDA的便携式X荧光分析仪的研制

研制了一种基于PDA的便携式X荧光分析仪。它采用了高性能C8051F060单片机作为测量控制主板的核心控制器。PDA和测量控制主板采用蓝牙通信。由于C8051F060内含丰富的片上资源,使得多道分析器(MCA)、X光管的控制检测电路、峰值检测电路等的设计都显得非常简洁。PDA平台上运行WinCE操作系统。PDA上的分析软件在Visual Studio2005平台上开发,并采用C++编写软件。采用了高效等离子可充电电池供电。     

X射线荧光分析中原级谱分布的计算

X射线荧光分析中,X射线管产生的原级谱的分布对荧光分析的影响很大。尤其是在元素间吸收增强效应的校正过程中,基本参数法要求准确获得X射线原级谱的强度分布。使用MCNP程序模拟不同加速电压、不同靶材料、不同铍窗厚度等条件下电子打靶后的X射线能谱分布,为X射线荧光分析仪研制过程优化X光管靶材、管压等提供依据,实现高精度的X射线荧光分析。     

基于虚拟仪器技术的γ辐射测量系统

基于虚拟仪器的概念，设计并构建了一套数字化γ辐射测量系统。介绍了系统构建和数据处理方法，进行了γ能谱和时间谱测量，并根据结果分析了该测量系统的优缺点。     

基于PDA&MCU的便携式α测量系统

介绍一种基于PDA&MCU构架的便携式α测量系统,以SOC单片机为主MCU,将钝化离子注入硅半导体探测器(PIPS)得到的α脉冲经电荷灵敏前置放大后传给信号调理电路,并将能谱数据以数据包的形式通过蓝牙通讯传给PDA上开发的α谱测量应用软件.该软件主要实现α放射性活度实时显示、α谱显示、自动寻峰、谱线加亮、峰面积计算、能...     

同位素源X射线荧光分析仪的自稳电路设计与改进

介绍的数字控制放大器自稳电路,是针对同位素源X射线荧光分析仪中自稳调节时,希望放大器增益步长选择在较小范围变化,并且要求对放大倍数精细调节,达到仪器谱线的准确跟踪。本设计提供了这种数控放大的一种方案,其倍数的调节步长可做到0．001倍。     

基于波带片纳米聚焦装置的快速扫描X射线荧光成像实验系统

在上海光源硬X射线微聚焦光束线站BL15U1,为提高波带片纳米聚焦装置的X射线荧光成像实验效率,设计实现了一种快速扫描荧光成像实验装置。该装置包括运动控制系统、样品荧光探测系统和实验数据同步获取系统。运动控制系统设计了闭环反馈控制、样品台电机运动控制和扫描轨迹,实现了快速扫描过程中样品的准确定位。样品荧光探测系统和实验数据同步获取系统实现了硬件同步触发计数器获取荧光计数,保证了荧光成像的准确性。实验结果表明,运动控制系统三角波形跟踪误差小于20 nm,满足光斑在样品处的重复定位精度小于光斑尺寸1/10的要求。用该系统获取了标准铜网的元素分布图像,图像获取时间是“走停”扫描模式的1/5,验证了实验系统的可行性和高效性。     

基于波带片纳米聚焦装置的快速扫描X射线荧光成像实验系统

在上海光源硬X射线微聚焦光束线站BL15U1,为提高波带片纳米聚焦装置的X射线荧光成像实验效率,设计实现了一种快速扫描荧光成像实验装置。该装置包括运动控制系统、样品荧光探测系统和实验数据同步获取系统。运动控制系统设计了闭环反馈控制、样品台电机运动控制和扫描轨迹,实现了快速扫描过程中样品的准确定位。样品荧光探测系统和实验数据同步获取系统实现了硬件同步触发计数器获取荧光计数,保证了荧光成像的准确性。实验结果表明,运动控制系统三角波形跟踪误差小于20 nm,满足光斑在样品处的重复定位精度小于光斑尺寸1/10的要求。用该系统获取了标准铜网的元素分布图像,图像获取时间是"走停"扫描模式的1/5,验证了实验系统的可行性和高效性。     

基于采集卡的高分辨X射线检测系统

针对印刷电路板中BGA器件焊点缺陷检测数字化成像问题,设计了一套应用Matrox公司的MeteorII-CameraLink型号采集卡及HAWK-160XI型X-射线源和UNIQ-1800 CCD相机组成的高分辨率X-射线缺陷检测系统。经试验测试最佳放大率下系统分辨率17 lp/mm,缺陷分析精度最小分辨率达到0.03 mm,并给出测试采集效果图。     

基于X射线荧光的扩散渗铝层厚度测量研究

渗铝常作为航空发动机涡轮叶片的防护涂层,但目前常用的无损检测设备无法实现该类涂层厚度的精确测量。渗铝层厚度的均匀性影响了涡轮叶片的使用性能以及发动机使用的安全稳定。为了实现扩散渗铝层厚度的测量,本文采取了一种基于X射线荧光吸收法的无损测厚方法。首先根据X射线荧光吸收法的理论计算公式,推导得到荧光强度比的对数值(ln R)与荧光所穿透物质厚度(x)之间呈线性关系。然后建立了K403合金中与主要元素相关的一元线性回归计算模型以及基于向前选择变量法的多元回归计算模型。最后开展两种模型预测结果的对比研究,结果表明:与一元回归计算模型相比,多元回归计算模型相对稳定;不同厚度下的测量结果平均相对误差仅为3.2%。通过以上研究,为解决扩散渗铝层厚度测量问题提供了一种方便可行的指导思路。     

特征荧光X射线吸收法精确测定基于铍膜的235U裂变靶厚度

研究发展了一种基于特征荧光X射线吸收谱的、可精确测量裂变物质质量厚度的方法,系统分析了测量不确定度。实验结果表明,该方法可有效测定基于铍膜的²³⁵U裂变靶质量厚度,测量不确定度小于5%,其不确定度主要来源于测量的统计性。     

基于PC/104计算机的X荧光分析软件的研制

研制了以PC/104嵌入式微机为数据处理设备、在DOS环境下运行的X荧光分析软件.该软件除能完成文件管理、峰面积计算、定时测量等原有功能外,还能完成谱线光滑、自动能量刻度、谱线识别、自动寻峰、元素的自动定性分析等功能.通过串口通讯,能够将DOS环境下的X射线荧光分析系统程序下载到X荧光分析仪中.应用该分析软件,能够更方便地对核谱数据进行处理与分析.     

基于微机的X射线分析自动测量系统

本文介绍了一个基于微机的X射线分析自动测量系统。该系统有三个基本功能:自动获取数据、自动换样和处理谱数据。     

基于掌上型电脑的便携式X荧光测量系统

主要介绍了基于掌上型电脑的便携式X荧光测量系统,包括测量系统的设计方案、硬件和软件等。     

微束X射线荧光分析系统的建立及其在考古学中的应用

文章报道一种新型基于X光透镜的微束X射线荧光分析系统的结构、性能和特点及其在考古学中的应用。X光透镜将旋转阳极X射线发生器产生的X射线束聚成直径为几十微米的光束，可用于考古样品的无损微区分析。为检验微束分析系统的可行性，分析了1片明代青花瓷残片中青花部位的元素分布。分析结果表明：青花中Mn和Co元素的含量与青花颜色的深浅相一致。相关性分析表明：Mn和Co呈现良好线性相关；Mn和Co的含量或比值对青花的产地和真伪的辨别有重要意义。     

基于EPICS的X射线小角散射实验站控制和数据采集系统

上海光源（Shanghai Synchrotron Radiation Facility, SSRF）X射线小角散射（small angle X-ray scattering, SAXS）光束线站的常规样品台、掠入射样品台、变温热台的控制程序及数据采集程序均是在LabVIEW环境下开发的,而基于步进电机的狭缝控制系统等则是在分布式控制的EPICS (Experimental Physics and Industrial Control System)环境下开发的。由于开发和运行环境不同,这些设备在联动控制时不可避免地存在网络延时的缺陷。本工作在EPICS环境下对运动控制、探测器数据采集和光强检测等控制进行集成,形成了统一的用户操作界面,操作简单,能极大提高实验效率,并在SAXS实验站得到了稳定应用。     

基于AFE0064和FPGA的千兆网X射线图像采集系统

X射线实时检测系统应用于多个行业。针对目前快递物流、输送带、集装箱、乘用车等检测中,对高性能X射线图像采集系统的需求,基于光电二极管阵列(含闪烁体)和高速电流输入模拟前端,采用高速串行ADC、千兆以太网控制器MAC、千兆以太网PHY,结合FPGA主控制器,设计了高速度、高性能、双能量线阵列X射线图像采集系统,像素尺寸为5.0、2.5、1.6、0.8、0.4 mm、50μm,采集速度最高可达6 m/s,经调试后样机可以正常运行,图像清晰,性能稳定,完全满足上述需求。     

一种基于FPGA的高能X射线工业CT数据采集系统

结合高能X射线工业CT的数据采集原理和特点,分析了基于FPGA的高能X射线数据采集系统的体系结构以及系统中积分电路IVC1022和多片A/D转换芯片AD7679基于FPGA的控制算法.