激光粒度分析和筛分法测粒径分布的比较

分别采用筛分法和马尔文激光粒度分析仪两种方法对16种颗粒的粒径分布进行了测量。通过比较,发现两种测量手段得到的粒径分布结果存在较大的差异,马尔文激光粒度方法对颗粒粒径的测量结果偏小,受颗粒形状的影响很大;筛分法对微细颗粒的测量误差较大,但对大粒径颗粒的测量较为准确。通过对不同粒径段灰颗粒的显微照相,发现细颗粒的团聚是筛分法测量小颗粒结果偏小的主要原因。     

几种常见粒度分析方法的比对研究

正一、概述颗粒的粒度分析方法很多。随着科技的进步,有些方法被逐步淘汰,有些方法得到了改进和发展(如激光衍射法、动态光散射法等),并在生产和科研中得到了广泛应用(如激光衍射法、显微图像法、电阻法、光透沉降法、筛分法等)。本文选择了目前常见的激光衍射法、显微图像法、电阻法、光透沉降法4种不同测量原理的粒度分析方法,邀请国内实验室合作进行比对实验,对粒度分布范围在(1~100)μm的玻璃微珠颗粒进行粒度分析,对各类统计粒径进行数据比对,以验证这几种粒度分析方法的一致性与可比性。     

激光衍射法测试表面改性超细TiO_2粉体粒度的分散方法研究

探讨了用激光衍射法测试经PEG(400)表面改性的超细TiO_2粉体粒度的过程中,不同分散介质对经表面改性的超细TiO_2粉体粒度测试结果的影响。实验结果表明,用乙醇和六偏磷酸钠溶液(0.1g/ml)为混合分散介质(体积比1:1)时能最佳分散样品,此时的测试结果也最准确地表征了样品的粒度。     

片式电阻浆料用钌酸铅粉的制备

以超细氧化钌粉、氧化铅为原料,选用特定的焙烧工艺和球磨工艺,利用固相合成法,并通过烘干和破碎处理得到了粒度分布较窄、性能稳定的粉末,满足了片式电阻浆料的使用要求。采用湿法激光粒度仪测试钌酸铅粉的粒度分布与平均粒径,用扫描电子显微镜(SEM)分析钌酸铅粉的形貌、粒径和团聚状态,用X射线衍射仪(XRD)检测粉体的晶相。并简要讨论了影响钌酸铅粉制备过程的各类因素。     

不同方法测试粒度分布的比较研究

介绍了不同原理仪器粒度测试结果间存在差异的原因以及对测试结果准确性应如何评价。用筛分法和激光法对氧化铝样品进行测试对比,初步分析结果间的差异。结果表明,筛分法和激光法测试粒度分布在质量(体积)累积分布达到50%时,测试结果相差最小,不同的粒度组成、颗粒的形状都会造成两种方法测试结果的差异。     

激光粒度测试结果影响因素分析

针对目前市面上激光粒度仪品牌、型号众多,但激光粒度测试结果差异较大的现象,以清华大学研制的球形石英粉标准样品为测试样品,使用不同厂家的激光粒度仪,通过激光散射法,对比不同复折射率下的检测结果,探究激光粒度测试结果的影响因素。研究发现,针对同种样品、不同厂家的激光粒度仪检测结果偏差较大。折射率与吸收率对粒度检测结果有较大影响,折射率的影响比吸收率的影响大,但随着吸收率增大可以逐渐抵消折射率的变化给粒度检测结果带来的波动,使检测结果趋于稳定。通过寻找拟合残差与粒度检测结果之间的变化规律,发现残差值越小,理论散射光强与实际检测光强的偏差越小,检测结果越趋于一个较稳定的值,但对比发现目前激光粒度测试用户根据残差值判断待测样品折射率的方法并没有可靠的依据。通过比较不同样品的最小残差值,发现同种样品的不同粒度区间对应的折射率与吸收率不同,从而证明粒度检测行业内以每种物质固定的折射率和吸收率来进行粒度测试的方法缺乏实际依据。     

锰矿矿浆颗粒粒度的超声测量方法研究

为了检测锰矿矿浆中反映矿粉特性的颗粒粒度参数,通过声学理论模型的推导和数值计算,分析颗粒粒径与超声衰减谱的关系和敏感度,实验测量体积分数达45%的高浓度锰矿矿浆在频率为3~6 MHz之间的超声衰减谱,基于预测模型,结合正则化反演算法,由实验数据计算出矿浆中颗粒粒度分布。结果表明:矿浆中矿粉颗粒的粒径分布曲线均呈现单峰分布。该结果与稀释样品的激光散射法和显微镜图像法测量结果较为吻合。     

气流粉碎法制备超细硅酸钙粒子的研究

采用超音速气流粉碎法进行硅酸钙的超细粉碎 ,借助激光粒度仪和TEM进行超细粒子粒径和形貌表征。得到了平均粒径 1 1μm、粒径分布 0 4～ 3μm、粒子大小形状基本一致的超细硅酸钙样品。研究表明 ,气流粉碎后的超细粒子易于形成软团聚 ,但在应用时容易分散     

气流粉碎法制备超细硅酸钙粒子的研究

采用超音速气流粉碎法进行硅酸钙的超细粉碎，借助激光粒度仪和TEM进行超细粒子粒径和形貌表征。得到了平均粒径1.1μm、粒径分布0．4－3μm、粒子大小形状基本一致的超细硅酸钙样品。研究表明，气流粉碎后的超细粒子易于形成软团聚，但在应用时容易分散。     

剥离型高岭石纳米片的制备及其表征

以高岭石原矿为起始原料,将其超声粉碎预处理后,采用醋酸钾预插层-甲酰胺剥离的两步法制备出了剥离型高岭石纳米片。利用动态光粒径测量仪、X射线衍射(XRD)、红外光谱(FTIR)、热重分析(TG)、扫描电子显微镜(SSEM)和透射电子显微镜((TEM)表征处理前后的高岭石结构与形貌的变化。相应的结果表明:经醋酸钾插层后,高岭石的层间距由d_(001)=0.706nm增大到d_(001)=1.42nm;以该高岭石/醋酸钾插层复合物为中间体,经甲酰胺与其二次作用后,高岭石层间距得到了充分的膨胀,层间作用力进一步削弱,最终获得了分散状态良好、层结构剥离型的高岭石硅酸盐纳米片。