模拟集成电路二维Stack生成及模块合并算法

在模拟集成电路设计中,关于X轴和y轴同时对称的Stack,以及模块之间的合并,对于增加器件之间的匹配和控制寄生是至关重要的.描述了模拟集成电路二轴对称Stack生成算法和模块合并算法.通过对于对称欧拉图和对称欧拉路径的研究,得出了多项理论结果.在此基础上,提出了时间复杂度为O(n)的伪器件插入算法、对称欧拉路径构造算法和二轴对称Stack生成算法.生成的Stack,不但关于X轴和y轴对称,而且具有公共质心(commoncentroid)的结构.还描述了模块合并算法,给出了计算最大合并距离的公式.该算法本质上是独立于任何拓扑表示的.实验结果验证了算法的有效性.     

蔡氏电路方程的离散化与数字电路实现*

本文提出了一种蔡氏电路方程的数字电路实现方法。利用欧拉算法、改进型欧拉算法和四阶龙格-库塔算法进行离散化近似处理,分别得到了一般混沌系统的离散迭代模型,由此导出了蔡氏电路方程在不同近似精度下的离散迭代模型。基于微控制器实现的混沌系统嵌入式数字集成平台,生成了所期望的蔡氏混沌信号,并比较了基于不同算法的蔡氏电路方程的数字电路实现的性能。数值仿真和数字电路实验结果与蔡氏混沌电路结果一致,验证了本文数字电路实现方法的可行性。     

基于IRST的谱图相似性查找方法研究

光谱图相似性匹配是推测化合物结构的重要研究方法之一,而如何在标准谱图数据库中进行相似性查找是关键步骤。传统的谱图匹配方法在数据量较大时,检索效率较低。本文首次将互关联后继树(TRST)算法思想应用于光谱图数据领域,从光谱图特征数据点出发,通过对算法的改进,提出了1种基于斜率序列的互关联后继树算法(SSIRST)实现光谱图相似性匹配查找,旨在通过减少匹配过程中的数据量缩短查找时间。实验结果表明,算法可以有效提高光谱图相似性匹配查找效率1倍以上。     

组合电路测试生成的任意路径敏化法

本文阐述了基于布尔函数的组合电路测试生成方法,给出了测试生成的基本运算规则及测试生成的算法－任意路径敏化法,该算法适用于布尔函数的任何表示形式,与基于布尔函数的其它算法相比,该算法不用复杂的布尔运算。只须按给出的规则作简单的判断和计算就可以生成给定邦联伯测试码,因而计算工作要小得多,该算法用于大型组合电路的测试生成,可以增加扇出分支处的一敏化条件。减少信号冲突和回溯次数。大大加快了大规模组合电路以及印制电路板的测试生成速度。     

ATN中信任证链查找算法的研究

针对自动信任协商中分布式存储的信任证查找算法效率低下的问题,本文提出一种贪婪算法和双向查找算法相结合的信任证链查找算法,并通过控制信任证图生成的方向和限制信任证链查找时生成信任证图的大小来进一步提高查找的效率.仿真结果表明该算法生成的信任证图比其它算法生成的信任证图平均要小3％左右,在查找相同的信任证的情况下,改进算法的效率和其它算法相比提高了5％左右.     

基于二分图完善匹配的布尔匹配算法

提出了一种改进的基于二分图完善匹配的布尔匹配算法。该算法通过把布尔变量之间的匹配问题转换为二分图的完善匹配问题,避免了原算法中因乘积项过多而导致计算时间过长的缺点。对MCNC标准测试电路的实验结果表明;与原算法相比,改进后的算法可以减少21％左右的计算时间。同时,文中提出了布尔变量强匹配的概念,它是对传统布尔匹配概念的引申。     

模拟电路行为级建模的SGWD逼近算法

提出采用一种规范化的香农小波(distributed approximation function, SGWD)逼近算法建立模拟电路单元模块的行为级模型.为降低逼近的边界误差,同时提出了周期性展开和偶对称映射2种预处理算法.周期性展开算法需要对电路模块的原始I/O函数做一定变形,构造出周期函数后再进行逼近;偶对称映射算法则是将I/O函数在边界点处进行偶对称翻转,然后采用SGWD逼近算法建模.与传统的建模方法,如多项式逼近等算法相比,该方法结合了边界误差降低技术的SGWD逼近算法具有更低的计算复杂度,并能达到更高的建模精度.     

CSPack:采用CSP图匹配的新型装箱算法

现代FPGA芯片可编程单元的日益复杂化对装箱提出了更大挑战,为了使依赖硬件结构的装箱过程不断适应芯片结构变化的过程,提出一种基于CSP图匹配的装箱算法CSPack.用配置库来描述芯片可编程逻辑块的各种电路功能,根据配置库并利用CSP图匹配算法进行电路匹配,找出满足约束的子电路,并以指令的形式将子电路映射到可编程逻辑块内.该算法已经应用于复旦大学自主研发的FPGA芯片FDP2008软件流程的装箱模块中,且针对不同芯片系列只需修改描述芯片功能配置的文件就能实现装箱.实验结果表明,与T-VPack算法相比,CSPack算法在时序性能上提升了6.1%,同时可减少1.4%的芯片占用面积.     

基于CREW遍历图的一种并行算法

针对串行算法模型下基于顶点遍历图的情况,提出了一种在CREWPRAM并行模型下遍历无向图的算法。该算法是找出无向图的一棵最短路径生成树,由向上和向下两条有向边替换最短路径生成树的每条边形成欧拉回路,运用欧拉回路技术计算前缀和,前缀和所对应的顶点即为遍历无向图的顺序。得出了该算法时间复杂度为O（n＋logn）的结论。     

CMOS电路开关级测试生成的一种新算法

本文提出了一种新的CMOS电路开关级测试生成算法,该算法以Hayes模型为基础,以开关级代数为工具,充分利用CMOS电路自身的特点,生成CMOS电路的完全测试集,这种算法较之于已有的算法简单而有效,检测CMOS电路的常开型故障需一对测试码,本文给出了一种简单的求一对稳健测试码的方法,基于这种算法,我们开发了一个测试自动生成软件。     

基于蚂蚁路径的时序电路故障诊断算法

提出了一种VLSI时序电路自动测试型生成(Automatic test pattern generation，ATPG)的新算法。传统ATPG算法采用局部状态转换图或收集门级电路的知识以及提取电路规则来解决时序电路ATPG的困难。本算法引入新的模型，着重解决了ATPG中的计算冗余问题。在蚂蚁路径模型的基础上，前向搜索得到了重建，故障点的前向传输和回溯归结到了单一路径之上．而该路径上可能分布着许多待测的故障点，从而改善了以往时序电路ATPG算法中搜索重复而导致的计算冗余问题，同时，最小测试向量的获取为数学定理所证明。最后在Benchmark电路上进行的与ILP算法的比较试验表明，本算法具备同样的故障覆盖率，且速度更快。     

模拟集成电路三维互连电容的改进层次式提取

层次式直接边界元方法可一次性计算出整个互连寄生电容矩阵,具有较高的计算效率．针对模拟集成电路的特点,对层次式三维电容提取的三维块切割方式、非均匀边界元划分和程序组织等方面进行了改进,显著地提高了算法的效率．数值实验表明,改进的层次式互连电容提取在保证高精度的同时,速度提高了数倍,适用于实际的模拟集成电路设计．     

基于蓝牙和传感器技术的油含水率测量系统

提出了基于蓝牙技术和电容式敏感元件的油含水率新型智能化测量系统,采用了蓝牙技术和C/U转换、U/f转换等设计。C/U转换包括由集成运放构成的正弦信号产生电路、缓冲电路和转换电路三部分。电路选用器件精密,工作稳定可靠。实验结果表明:系统能够准确地以全量程线性化刻度(0%～100%)显示。     

多孔平面的快速边界元划分

在 3D VL SI互连寄生电容的边界元素法计算中 ,多孔平面的边界元划分是十分困难的问题 .文中提出一种快速划分多孔平面边界元的方法 ,它可高效处理非正交几何边界形状 ,形成规则的梯形元 .与全局扫描线法相比 ,有较高的划分速度、计算速度与精度     

XDL网表的前向电路图生成算法

作为描述FPGA（Field Programmable Gate Array）电路网表的XDL（Xilinx Design Language）描述文件，不仅能用于解析抽取FPGA设计的Inst电路单元和Net电路信号，而且能用于构建FPGA电路网表中信号传播的前向电路图模型。采用有向超图来构建FPGA电路网表中信号的前向拓扑关系，其中FPGA电路单元的有效管脚表示为超图结点，管脚间的外部连线、管脚内的电路逻辑功能表示为有向超边。给出了XDL网表级电路描述文件编译所需的EBNF表达式，提出了基于有向超图的XDL网表的前向电路图生成算法，进行了算法的时空复杂度分析。在Windows平台下基于RapidSmith开源软件实现了前向电路图生成算法，并选用基于Virtex-4型号FPGA测试用例的XDL网表，生成相应的前向电路图以验证XDL网表的前向电路图生成算法的正确性和有效性。     

多次级高压变压器的分布电容

分布电容是多次级高压变压器固有的寄生参数,它直接影响电路的工作性能。本文从分布电容的产生机理出发,通过传统绕制和PCB迭绕两种工艺的比较,最后以实测波形来说明了分布电容对电路性能的影响。     

模拟电路仿真与故障字典生成方法

针对模拟电路故障诊断需求，对模拟电路仿真和故障字典生成的实现方法进行了研究。首先，设计软件实现总体结构，从软件界面层、运行层、数据访问层、数据层等方面搭建过程中需要的电路知识管理、工程管理、电路仿真设置、仿真运行、故障字典生成和辅助故障诊断等功能框架；进而通过创建被测电路仿真原理图、新建仿真工程、仿真设置、故障注入等详细设计，实现被测电路的功能仿真和故障仿真；然后根据仿真结果，利用故障字典生成器生成所有故障模式下的整数编码故障字典；最终辅助诊断功能，验证故障字典是否可用。通过对演示板12个故障注入后的仿真数据做故障字典生成训练，并完成了对实测数据的故障定位，验证了该方法的可行性，为模拟电路故障诊断提供了实用的测试方法和手段，具有较好的实用价值。