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为了实现时序电路状态验证和故障检测,需要事先设计一个输入测试序列。基于二叉树节点和树枝的特性,建立时序电路状态二叉树,按照电路二叉树节点(状态)与树枝(输入)的层次逻辑关系,可以直观和便捷地设计出时序电路测试序列。用测试序列激励待测电路,可以验证电路是否具有全部预定状态,是否能够实现预定状态转换。 相似文献
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用于协议一致性测试序列生成的状态规范化算法 总被引:3,自引:0,他引:3
这篇论文提出了一种方法,把EFSM描述协议的广泛性和FSM测试序列生成方法的成熟性有机的结合起来,较圆满地解决了测试序列的可执行性、观察性、控制性问题,同时兼顾了数据流和控制流的全面测试。这种方法是基于两边靠拢的思想,一方面将非确定性的EFSM向确定性的DFSM规范化,另一方面修改FSM的测试序列生成算法,使之能够同时测试数据流,也即能够处理输入、输出原语的参数问题。在本文中讲述了第一步的工作,提出了由EFSM到DFSM的规范化算法和其概念的严格定义,建立了用于算法描述和实现的EFSM向图概念。同时选择了一个较能完全体现EFSM特点的Q.921协议讲述了其实现 相似文献
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不同以往通过重构电路行为实现可逆有限状态机方法,本文提出了一种可逆有限状态机的电路结构.该电路主要包括次态与输出计算电路以及状态预置与采样锁存电路两部分,且提出的可逆有限状态机电路中不存在独立的可逆触发器,但可以实现可逆JK,D,T等触发器功能.同时,文中也提出了基于该可逆有限状态机电路的可逆时序电路综合方法,并用实例进行了验证.相比于基于行为重构的可逆有限状态机的综合方法,本文提出的综合方法可以避免原始状态机的逆状态机的求解和增加额外的信号位,从而使得综合过程变得更加简单. 相似文献
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文中以给出的一个状态机为例,然后用异步时序状态机的设计方法得到最终的电路,最后用Verilog语言描述其电路并在modelsim上进行逻辑测试,测试结果表明所设计的电路是正确的。 相似文献
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In this paper we propose a method for synthesizing sequentialcircuits to reduce the number of gates and flip-flops by removingboth combinationally and sequentially redundant faults. In order toremove sequentially redundant faults these faults are converted intocombinationally redundant faults by using retiming techniques and thecombinationally redundant faults can be removed by using a testpattern generation method for combinational circuits. To simplify agiven circuit retiming is utilized for two purposes in thismethod. One is to find sequentially redundant faults and another is toreduce the number of flip-flops and gates. Before and after eachretiming the combinationally redundant faults are removed.Experimental results for ISCAS 89 benchmark circuits show that thismethod can remove many of sequentially redundant faults and canreduce a large number of gates and flip-flops. 相似文献
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Automatic test pattern generation (ATPG) remains one of themost complex CAD tasks. Therefore, numerous methods were proposed tospeed up ATPG by using parallelism. In this paper, we focus onparallelizing ATPG for stuck-at faults in sequential circuits bycombining fault and search space parallelism. Fault parallelism isapplied to so-called easy-to-detect faults. The main task of thisapproach is to find a best-suited partitioning of the fault list,based on dependencies between faults. For hard-to-detect faultsleft by fault parallelism, search space partitioning is applied,integrating depth-first and breadth-first search. Since a smalltest set size is mandatory for a cheap test and fault parallelismincreases the number of test patterns, test set compaction is donein a post-processing phase. Results show that our approach is notonly capable of achieving potentially superlinear speedups, but alsoimproves test set quality. The parallel environment we use consistsof a network of 100 workstations connected via ethernet. 相似文献
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该文在三值电路三要素理论的基础上提出了三值动态和静态广义时序机理论。首先找出三值状态图和电路方程间的关系,该关系既适用于静态电路,又适用于动态电路。对静态电路文中推导出各型三值触发器完整特性方程,它描述了触发器全时刻的行为,用以代替常规特性方程,使三值同步和异步时序电路统一。对动态电路该文用电容代替触发器存储三值信息,实现三值动态时序电路(特别是三值同步动态时序电路,属于非触发器式的时序电路)。因动态电路和静态电路主要差别是负载行为,故此可以在三值电路三要素理论和广义时序机理论下统一三值动态和静态,同步和异步时序电路。 相似文献