航空设备的测试性设计和验证技术概述

介绍了航空设备的测试性、测试性设计、测试性验证评估等,分析提出了国内航空设备测试性设计与验证技术现状以及存在问题的技术原因.     

基于边界扫描的电路板测试性优化设计

基于边界扫描的电路板测试性设计中，迫切需要解决“测试性改善程度一定时，如何权衡设计使得设计复杂性最小”的问题，本文首先深入分析了该问题，证明它是一个NP－ 完全问题，然后基于贪婪策略提出了求解问题的优化算法，仿真实验表明，该算法能够得较优化的电路板测试性设计方案。     

网络测试数据存储MIB设计与实现

传统基于文件存储的大规模网络测试系统存在设计复杂、实时性差等不足．本文设计并实现了一个用于存储网络测试数据的管理信息库．基于该管理信息库存储数据的测试系统，使用标准的简单网络管理协议通信，可降低测试数据读写设计的复杂性，并保证测试数据传输的实时性，解决了网络测试系统文件存储方式存在的不足．     

新一代地空导弹武器系统测试性要求与指标分配

针对新一代地空导弹武器系统的特点，论述了测试性的重要性，认为测试性是一种设计特性，必须从武器系统研制开始就要加以考虑，并贯穿于整个寿命周期。提出了测试性的具体定性要求和定量要求，讨论了测试性指标的分配问题。     

开关级扫描设计方法研究

本文针对门级扫描设计存在的面积、速度和测试时间问题，给出了一种开关级扫描插入方法，较好地解决了门级扫描设计面临的面积和速度问题，改进了测试时间问题。该方法对门级扫描设计有指导意义。     

装备测试性工程技术现状与新进展

装备测试性工程技术起源于20世纪80年代,是先进测试技术与系统工程紧密结合的产物。该技术经过40余年的发展逐渐成熟,在测试性需求分析与分配、测试性建模与方案优化设计、机内测试（Built-In Test,BIT)与自动测试系统（Automatic Test System,ATS)设计、测试性试验与评估等方面形成了较完善的理论体系,并在各型装备中得到了普遍应用,取得了较大的军事和社会效益。今后测试性基础研究和应用探索究竟该如何开展,未来发展方向是怎样的,是亟需深入探讨的问题。在对测试性工程技术的产生背景与需求、概念与内涵、发展历程、关键技术现状与新进展进行剖析的基础上,指出了目前测试性工程技术研究存在的问题和今后研究突破的方向。     

基于嵌入式内核SOC IDDQ可测试设计方法

由于电路门数增大和晶体管亚阈值电流升高，导致电路的静态漏电流不断升高，深亚微米工艺SOC(系统芯片)IC在IDDQ测试的实现方面存在巨大挑战．虽然减小深亚微米工艺亚阈值漏电开发了许多方法，如衬底偏置和低温测试，但是没有解决因为SOC设计的规模增大引起漏电升高的问题．首先提出了SOC设计规模增大引起高漏电流的可测试性设计概念．然后制定了一系列适合于SOC的IDDQ可测试设计规则．最后提出了一种通过JTAG指令寄存器控制各个内核电源的SOC IDDQ可测试设计方法．     

VLSI芯片的可测试性、可调试性、可制造性和可维护性设计

CMOS器件进入深亚微米阶段，VLSI集成电路（IC）继续向高集成度，高速度，低功耗发展，使得IC在制造、设计、封装，测试上都面临新的挑战，测试已从IC设计流程的后端移至前端，VLSI芯片可测试性设计已成为IC设计中必不可少的一部分，本文介绍近几年来VLSI芯片可测试性设计的趋势，提出广义可测试性设计（TDMS技术）概念，即可测试试性，可调试性，可制造性和可维护性设计，并对可调试性设计方法学和广义可测试性设计的系统化方法作了简单介绍。     

测试性验证技术与应用现状分析

阐述了测试性验证技术在新型装备PHM设计中的重要性,分析了测试性验证相关的国内外军用标准,归纳了相关军用标准在适用性方面存在的不足之处,指出应该建立测试性验证专用标准指导测试性验证工作。调研了国内测试性验证技术的应用情况,从测试性试验和测试性评估验证两个方面分析了测试性验证技术在实际应用中遇到的问题,并进一步确定了测试性验证标准中应该提供的内容,为测试性验证技术研究和标准的制定奠定了良好的基础。     

舰用柴油机测试性指标分配方法研究

针对传统层次分析法存在的评分语言的不确定性、判断矩阵一致性验证困难和测试性分配差距大等问题,文中提出一种改进的模糊层次分析法对舰用柴油机测试性指标进行分配;采用三角模糊数互补矩阵对专家评分中存在的不确定语言形式进行量化处理,应用改进层次分析法建立一致性判断矩阵,最后采用迭代分配法对舰用柴油机的测试性指标进行分配;该方法稳定、合理、准确,不需要人为进行调整验证,为下一步的测试性建模设计分析奠定了基础。