聚乙烯样品源γ自吸收校正的MC模拟

介绍了一种放射性样品检测的γ射线自吸收校正方法。对聚乙烯为介质的均匀体源样品进行了无损透射测量和发射测量实验,并使用MCNP程序对透射测量和发射测量过程进行模拟,由透射测量得到样品对多个能量γ射线的线衰减系数,拟合得到线衰减系数随能量变化的特征方程,从而获取发射γ射线在样品中的线衰减系数以及自吸收校正因子,结合发射γ射线的探测效率,计算得到校正后的样品活度。验证实验表明:样品校正活度相对误差均在6%以内。     

铀基体中~(237)U208keV γ射线发射率的精确测定

运用高比放射性177Lu及主要γ射线能量(208.3664keV)与237U208.000keVγ射线的高度近似性,对U样品中208keVγ射线发射率测量中的自吸收效应,进行了校正。通过测量几何的安排,使级联γ射线的合峰效应可忽略。此法可用于高原子序数物质中低能γ射线发射率的测定。     

NaI(T1)晶体端窗厚度的实验测定

在计算NaI(Tl)晶体的效率时,多是只考虑NaI(Tl)晶体本身而忽略包装外壳的影响。但在实验测定NaI(Tl)晶体的效率时,晶体端窗对γ射线的吸收往往又不可忽略,特别是在低能区,这种吸收尤为重要。如果准确知道晶体包装皮厚和氧化镁层厚度,则对γ射线的吸收校正是容易的。但是,一般生产晶体的厂家并不给出数据,即使给出,也不能代表晶体的实际皮厚。因此,用实验方法测定NaI(Tl)晶体端窗厚度是必要的。     

铀生产工艺设备中滞留量测量的自吸收校正方法

实现铀生产工艺设备中滞留量的准确测量是核材料衡算与控制过程的一个关键点。由于γ射线的自吸收效果显著,工艺设备几何结构特殊,无法采用常规校准方法进行数据处理。本文开展该情况下的自吸收校正方法研究,在物料厚度、介质成分、几何参数不确定的条件下,初步建立了自吸收二维校正模型。模拟样品验证表明,建立的自吸收二维校正模型满足铀生产工艺设备滞留量测量的需求。     

能量色散X射线分析中对中厚靶的吸收校正

本文讨论了在能量色散X射线荧光分析中影响准确定量的厚靶基体吸收效应,着重研究了中厚靶的吸收校正方法。以头发样品为例,分别介绍了采用辐射体测得吸收校正系数和化学加入法测得经校正后的相对灵敏度等方法,建立了正确分析中厚靶样品的定量方法和计算程序。比较各种修正方法之间的一致性好于5％。     

可移动式高分辨率分段γ扫描现场测量装置的研制

描述了１台用于核设施、核材料现场测量的可移动式高分辨分段γ扫描装置。本装置用７５Ｓｅ和１６９Ｙｂ作为透射源测量样品对γ射线的透射率，采用近立体角三维自吸收校正模型计算样品自吸收校正系数ＣＦ（ＡＴ），较准确计算出样品对γ射线的自吸收校正量。本装置适合于准确测定中低密度非均匀核返料和核废物中核材料含量或裂变产物的含量，对２３５Ｕ硝酸铀酰均匀介质的盲样，测量结果与控制电位库仑测定的标准值之偏差小于１．４％。     

高效率低本底HPGer谱仪体源效率刻度和土壤样品分析

文章介绍了高效率低本底HPGe γ谱仪的水体源效率刻度和土壤样品的分析方法。用~(152)Eu,~(241)Am和~(60)Co混合水体标准源及一组单能γ射线水体标准源,测定了~(152)Eu和~(60)Co γ射线符合相加校正因子、土壤相对于水的样品自吸收校正因子及U,Th,Ra,K某些γ射线干扰的校正因子。用单能γ射线水体标准源和土壤标准源分别检验了体源效率刻度的准确性及土壤样品分析方法的可靠性。测量结果与参考值符合得很好。     

用双能X射线测量双组分物质的质量厚度

通过加吸收片的方法,获得样品在给定高压下的X射线等效能量,可用来测量该样品的质量厚度.本文讨论了测量双组分样品质量厚度的方法,发现在实验的双组分样品厚度范围内,用单组分样品的等效质量衰减系数代替双组分样品中该组分的质量衰减系数来计算双组分样品的质量厚度,具备可行性,测量结果的误差在5%以内.测量实物鱼体,求解出鱼体的软组织和骨组织的质量厚度,进一步证明在双组分样片厚度不大的情况下,这种测量方法的现实可行性.     

同步辐射反射法测定液体结构方法研究

用北京同步辐射装置4W1C光束线Huber五圆测角仪反射法测定液体结构的实验方法.以Na2SO4溶液的散射实验为例,简单介绍了样品池构造、散射几何布局、样品准直、扫描条件和扫描方式;详尽叙述了实验散射强度数据的校正方法,如样品池窗口净吸收、空气散射、偏振校正、吸收校正和几何校正等;演示了溶液结构函数和径向分布函数的计算方法,包括Compton散射强度和乱真峰的扣除技巧.研究表明,用同步辐射反射法获得了高质量的X射线散射数据.     

X射线荧光分析的α系数法校正

X射线荧光分析中对厚靶基体的吸收增强效应必需进行校正。α系数法是应用得很广泛的一种校正方法。本文在Lachance-Traill数学模型的基础上增加了待测元素对其自身的特征X射线荧光强度影响的校正项。 假定某样品的基体中含有N种元素,它们的含量及X射线的相对强度分别为C_1,C_2……C_N及R_1,R_2……R_N,其中第i种元素的含量可根据下列半经验公式计算