平面平晶检定中若干问题的探讨

本对平面平晶检定中如何实现二截面转位，以及条纹弯曲量与条纹间隔比值的取定，干涉条纹数目的取定等有争议的问题进行分析，探讨。     

平晶检定时干涉条纹的快速调整方法与平面度计算

在平面等厚干涉仪上检定平晶工作面平面度时,需要在被检区域调整出3到5条干涉条纹,依据测量原理和计算公式求出被检平晶工作面的平面度.文章重点分析干涉条纹的快速调整方法与标准平晶平面度的正确引用方法.     

温度对平晶平面度影响的定性分析及相关问题探讨

在测量平晶工作面的平面度时,温度不仅对平晶平面度的大小有影响,而且直接影响对平晶表面形状（凹凸）的判断。文章给出了温度对平晶平面度影响的实例分析,并提出了两种平晶表面形状判断的辅助方法,且对JJG28—2000《平晶》检定规程中平晶表面形状判断方法进行了必要的补充说明。     

浅析环境温度对检定平晶平面度的影响

本文针对检定平晶工作面平面度的时候,由于环境温度变化对平晶平面度测量的影响,对其进行了分析,并同时通过相关实验得出结论,即在检定温度范围内,温度的变化会影响平面度的量值大小,旨在为从事相关工作的技术人员提供参考依据。     

平晶检定中值得注意的两个问题

平晶是目前工厂中用来检定某些计量器具工作面平面性或平行性的主要量具。由于受条件限制,许多厂至今仍沿用以标准平晶与被检平晶接触,用观察干涉带弯曲的方法来检定平晶的平面性。这种检定方法容易出现以下两种现象: 1.检定时被检平晶和标准平晶光胶住了     

解除平晶检定中光胶与堆积物的办法

平晶是目前工厂中用来检定某些计量器具工作面平面性或平行性的主要量具。由于受条件限制,许多厂至今仍沿用以标准平晶与被检平晶接触,用观察干涉带弯曲的方法来检定平晶的平面性。这种检定方法容易使平晶表面出现光胶和堆积物的现象。解决的办法是: 1.光胶现象的解除由于标准平晶的重量或由于检定时施加的压力,使标准平晶与被检平晶发生光胶现象一被检平晶与标准平晶粘住无法分开。为了脱开光胶的平晶,可用酒精灯火焰烘烤平晶柱面(注意,应一边烘烤一边转动,时间不宜太长),使平晶间残留的空气和水受热膨胀,减弱表面分子间的吸力,直至出现细而多的干涉带时用两手便可拔开。     

平面镜在千分尺检定中的利用

用平行平晶(或平行平晶组合体)检定千分尺平行度时,操作者不仅要注意保证平晶工作面与两测量面充分接触,头部及上身还须在平晶两侧左右移动来观察,计算测量面出现的平沙带条数。由于头部,上身要左右移动来观察,手持不易平稳,影响检定结果。如果我们在检定时利用日常生活用的平面镜,可以使操作方便,提高工作效率,获得准确的检定结果。现将使用方法简介如下: 检定时,首先将平行平晶(或平行平晶组合体)放置在工作台上,平面镜放置在平行平晶的左侧,注意调整好观察位置。然后手持千分尺使两测量面与平晶工作面充分接触,观察、计算测杆测量面出现…     

平行平晶平面度测量结果的不确定度评定

本文依据JJG29-2000《平晶检定规程》,使用平面等厚干涉仪,对平行平晶平面度的不确定度进行了分析,给出了完整的不确定度评定过程,为平行平晶平面度校准提供了完善的不确定度评定方法。     

巧检外径千分尺平行度

用平行平晶检定外径千分尺（以下简称干分尺）时，将千分尺的网测量面与平行乎晶相接触，并调整好手行平晶使其接触点在同一侧。记录两测量面上出现的干涉条纹数，然后以两测量面干涉条纹数之和乘以（波长），即争行度一干涉条纹数之和Xtr。要注意的是，千分尺平行度的确定，要用一组平行平晶（共四块）分别去检定，以其中所产生的干涉条纹数最多的为准。在具体操作时，要注意平行平晶的工作面是否与两测量面充分接触。在观察干涉条纹时，要将于分尺翻转l扭y，才能观察到另一测量面的干涉条纹。为此，笔者在检定时，在工作台上放一块平面镜…     

光波干涉法检定量具平面性及尺寸应用

平品是目前用来检定汁量器具工作面平面性或平行性的主要量具。本文简要介绍了利用平晶和光波干涉法检定量具平面度和平行性的示值误差的方法。     

基于移相式激光干涉仪的平晶平面度测量方法分析

平晶的平面度计量主要应用激光平面干涉仪和移相激光干涉仪,本文通过分析比较了两种方法的优劣。对高精度平晶进行了检测,介绍了基于移项激光干涉仪的测量原理及方法,并进行了不确定度分析,以验证该方法满足平晶检定规程,方法可行。     

平面平晶平面度测量结果的不确定度评定

文章介绍了平面平晶平面度测量常用的方法之一:用等厚干涉法,测量工作平晶平面度时的误差来源、类型、不确定度合成方法及各分量对测量结果的影响程度.     

（2／3）d范围内平晶平面度测量方法分析

在JJG28-2000平晶检定规程中,对平晶有效直径d范围内的平面度和（2／3）d范围内的平面度均有规定的要求。但该规程附录D中的计算公式和图示并不是平晶有效直径d范围内的平面度测量方法,且没有给出（2／3）d范围内的平面度测量方法,该文将对此问题进行分析,最后给出了符合现行规程要求的新测量方法,补充了计算公式。     

改装钠光等厚干涉仪为激光平面干涉仪

最近,我们用现成的几个光学零件,并设计制成了一个简单的平晶吊架,将中国计量科学研究院标准计量仪器厂生产的钠光等厚干涉仪改装成激光平面干涉仪。经实用证明:它实现了非接触检验平晶,避免了划伤;获得了对比度良好的干涉条纹;特别是,利用此仪器可以迅速调出沿检测平晶任意直径方向上的干涉条纹,这对快速检出平晶各方向的不平度提供了可能性;并且改装所耗的工作量不大。     

小经验两则

1.一种观察干涉带的方法检定千分尺两测量面的平行度时,将平行平晶水平放置于检定桌上,在平晶左端不远处与平晶轴线垂直方向立放一面镜子。检定员左手持千分尺尺身,右手拧动棘轮,当千分尺两测量面与平晶工作面接触时,透过平晶观察千分尺左端测量面(即固定测砧测量面)上的干涉带情况;再从镜面上观察千分尺右端测量面(即微分丝杆测量面)上的干     

平晶平面度综合测量方法探讨

在JJG28-2000平晶检定规程中,对平晶有效直径d范围内的平面度和(2/3)d范围内的平面度均有规定的要求.本文将对此问题进行分析,最后给出了符合现行规程要求的新测量方法,补充了计算公式.     

PG15-J4型激光平面干涉仪的数字化改造

本文研究对中国科学院上海光学精密机械研究所生产的PG15-J4型激光平面干涉仪进行数字化改造,通过加装CCD相机,将干涉图像采集到计算机中,然后对采集到的图像进行滤波、细化等处理,并按照JJG 28—2000《平晶检定规程》对图像处理后得到的条纹进行计算,得到被测平晶的平面度。经实验验证,改造后的干涉仪满足了对?150mm以下的一、二级平晶的检定要求,适用于计量部门对平晶进行检定。     

平面平晶工作面平面度测量结果的不确定度评定

平面平晶工作面平面度的测量是平面度测量中最重要的测量之一,但目前对于平面平晶工作面平面度测量结果的不确定度评定却是仁者见仁、众说不一。因为此评定过程需要运用实际测量数据,下面以Φ100mm平面平晶工作面平面度的测量结果为例进行不确定度评定。     

再论立式移相平面干涉仪

文章首先指出移相平面干涉仪普遍存在的问题,即该仪器测量平面度时存在量值不统一的问题,其测量不确定度与其测量重复度极不相匹配,主要是该仪器给不出其标准平晶在相应各点的多截面平面度偏差,无法进行修正,而是用控制标准平晶的平面度的峰谷值小于1/10或1/20个干涉条纹来保证其质量;文章还指出一种新开发的立式移相平面干涉仪与一般的移相平面干涉仪同样存在标准平晶的平面度偏差不能进行修正的问题;文章最后提出该仪器提高测量不确定度的改进方法。     

用平行平晶和量块检定千分尺平行性的误差比较

在千分尺检定规程(JJG21-81)中,千分尺两测量面的平行度检定有如下规定:测量上限至100mm的千分尺两测量面的平行度用平行平晶检定,也可用量块进行检定.但是,用平行平晶和用量块作此项检定时,检定误差是不一样的。下面试举例说明。 用平行平晶进行检定,其误差主要有基准件平行平晶平行度误差。根据检定规程,尺寸至90mm的平行平晶平行度误差1μm,考虑千分尺面积只有平行平晶面积的1/25,因此此项误差为1/25μm。另外还有读数误差,因为小于一条干涉带的误差就无法读出。此项误差为0.3μm,考虑平行平晶两面读数,因此此项误差为2次。 而用量块进…