基于挠性基板的高密度IC封装技术

挠性印制电路技术迅速发展,其应用范围迅速扩大,特别是在IC封装中的应用受到人们的广泛关注。挠性印制电路在IC封装中的应用极大地推动了电子产品小型化、轻量化以及高性能化的进程。针对具体应用对象,文章分别介绍了挠性基板CSP封装、COF封装以及挠性载体叠层封装的基本工艺、关键技术、应用现状及发展趋势,充分说明了挠性印制电路和高密度布线对高密度IC封装的适用性。基于挠性基板的IC封装技术将会保持高速的发展,特别是挠性叠层型SIP封装技术具有广阔的应用前景。     

挠性基板材料简介

应用于IC封装（Integrated Circuit,集成电路）的FPC（F1exible Printing Circuit,挠性印制电路）称为挠性基板。随着电子产品向高密度、小型化、高可靠性方向发展,挠性基板因其优良的弯折性能,可实现三维互连的优点,已广泛应用于军事航天、医疗、汽车及消费类电子等领域。     

挠性印制电路技术市场分析

挠性印制电路技术发展到现在，差不多在我们工业、生活的很多领域中都找到了用场。挠性印制电路，特别是刚一挠结合型印制电路技术，为电子产品的高密度封装与互连、三维结构装配等诸多方面，解决了刚性印制电路板、电缆、接插件式的传统装配方法所无法解决的问题。移动电话、数码相机等电子产品市场的快速发展为其开拓着良好市场前景：还有系统智能化、高分辨率显示器件在设计上的轻便、新颖性要求，也需要三维封装、也需要挠性印制电路。事实正在进一步证明，挠性印制电路会为电子整机提供理想的封装互连方案，而移动电话、数码相机等电子产品的市场需求，也将为挠性印制电路板及相关产品、产业展现可喜的商机。     

挠性印制电路技术市场分析

挠性印制电路技术发展到现在，差不多在我们工业、生活的很多领域中都找到了用场。挠性印制电路，特别是刚．挠结合型印制电路技术，为电子产品的高密度封装与互连、三维结构装配等诸多方面，解决了刚性印制电路板、电缆、接插件式的传统装配方法所无法解决的问题。移动电话、数码相机等电子产品市场的快速发展为其开拓着良好市场前景；还有系统智能化、高分辨率显示器件在设计上的轻便、新颖性要求，也需要三维封装、也需要挠性印制电路。事实正在进一步证明，挠性印制电路会为电子整机提供理想的封装互连方案，而移动电话、数码相机等电子产品的市场需求，也将为挠性印制电路板及相关产品、产业展现可喜的商机．     

COF技术—未来封装技术的主流

随着电子产品的小型、轻量化及多功能化的发展，特别是半导体芯片的高集成化与高I／O数的迅速发展，导致封装技术向芯片级封装的发展。对于高密度挠性电路的到装，未来市场的主流即是采用COF封装。本文概述了高密度的IC封装形式，COF封装的特点以及COF的三种连接方式。     

日本新型挠性覆铜板的品种与性能

2004年间，在世界范围的PCB技术进展中，技术开发工作表现得最为活跃的，是表现在挠性印制电路板(FPC)及挠性基板材料(FCCL等)方面。“FPC的基础技术，是挠性覆铜板等原材料制造技术和设备制造技术。——FPC用的基板材料的技术发展，在整个FPC技术发展历史上，起到十分重要的推动作用”(引自日本住友电工印制电路公司技术部部长柏木修二氏语)。     

挠性基板制造工艺

应用于IC封装(Integrated Circuit,集成电路)的FPC(Flexible Printing Circuit,挠性印制板)称为挠性基板。随着电子产品向高密度、小型化、高可靠性方向发展,挠性基板线路制造工艺也从传统的减成法发展到半加成法,同时,一些新型的薄型挠性基板及埋嵌器件挠性基板也逐渐应用于航天、医疗及消费类电子等领域[1]。     

声表面波器件小型化技术发展概述

以EPCOS生产的声表面波(SAW)芯片级封装和晶圆级封装为例,介绍了声表面波器件小型化发展的趋势.着重介绍了声表器件芯片级封装技术发展的各个阶段器件的结构特点.详述采用倒装、贴膜和晶圆键合技术将声表面波器件的尺寸减至最小及后续声表面波器件组件化封装的趋势.     

高密度FPC的最新技术动向

概述了采用改良的减成法、全加成法和半加成法制造的高密度挠性印制电路(FPC)的最新技术动向。     

微系统与中规模器件的封装技术设计

文章主要论述了微机电系统(MEMS)和微系统诸如微传感器、驱动器和微流体元件的电机封装技术、封装等级和封装技术相关的问题.首先陈述并讨论了典型的MEMS产品诸如微压传感器、加速度计和微泵;微电子封装和微系统封装技术,重点阐述芯片级封装技术和器件级封装技术问题.芯片级封装技术主要涉及芯片钝化、芯片隔离和芯片压焊;器件级封...     

微波QFN芯片的SMT技术研究

QFN封装的微波芯片采用一种较新的封装形式,这种封装体积很小,特别适合高密度印刷电路板组装.着重介绍微波QFN芯片的表面组装技术,从QFN的封装形式、PCB的焊盘设计、组装工艺、QFN焊点检测及QFN器件的返修等方面加以详细论述,并对针QFN芯片总结出一套完整的组装技术.     

Evaluation of the Delamination in a Flip Chip Using Anisotropic Conductive Adhesive Films Under Moisture/Reflow Sensitivity Test

Anisotropic conductive adhesive films (ACFs) have been used for electronic assemblies such as the connection between a liquid crystal display panel and a flexible printed circuit board. ACF interconnection is expected to be a key technology for flip chip packaging, system-in-packaging, and chip size packaging. This paper presents a methodology for quantitative evaluation of the delamination in a flip chip interconnected by an ACF under moisture/reflow sensitivity tests. Moisture concentration after moisture absorption was obtained by the finite element method. Then, the vapor pressure in the flip chip during solder reflow process was estimated. Finally the delamination was predicted by comparing the stress intensity factor of an interface crack due to vapor pressure with the delamination toughness. It is found that the delamination is well predicted by the present methodology.     

提高倒装芯片组装速度的在线测试

倒装芯片是一种性能价格比良好的互连技术 ,要求采用富有创新的操作 ,以满足KGD的测试方法和操作工艺的需要。在基片上贴装好以前应立刻进行测试以确保能够起作用的管芯才能被装配入到倒装芯片或者说印刷电路板上面。在线测试设备是一种能够满足这些性能要求和价格要求的设备     

A Novel Design Structure for WLCSP With High Reliability, Low Cost, and Ease of Fabrication

Wafer level chip scale packaging (WLCSP) has some advantages, such as real die size packaging, high electrical performance, and low manufacturing cost. However, because the mechanical reliability of a large die can not be guaranteed due to the coefficient of thermal expansion (CTE) mismatch between silicon and organic printed circuit board (PCB), WLCSP technology is still not fully accepted. We have developed a new solder joint protection-WLCSP (SJP-WLCSP) structure with a delamination layer interposed between the top layer of the chip and the bottom insulating layer of the metal redistribution traces. The stress on the solder joints can be released by the cracks forming in the delamination layer, which protects the solder joints from cracking. Since the cracking of the delamination layer is irrelevant to the electrical circuits of the packaging, the packaged integrated circuits (IC) device remains functional. One of the possibilities for processing the SJP-WLCSP was implemented and validated successfully in the SiLK-wafer samples. The board level packaging samples, using the daisy chain resistance measurement passed 1000 cycles of the temperature cycling testing.     

产品导向的先进封装设计

在日益激烈竞争的电子工业中,高成本效益、高可靠性的电子封装方案不单是电子产品发展的主要驱动力,甚至往往成为当中的促成科技(EnablingTechnology),用于轻巧、细小的无线电/可携带式消费性电子产品中尤见适合。其中更理想的性能效益(cost/performanceratio)、更短的产品开发周期、集多功能于一身的消费性电子产品亦是崭新科技应用的主要原动力。要达到以上目标,相关的微电子封装方案与焊接技术的进步是不可或缺的:例如从金属线焊接技术发展到倒装芯片技术,及至近年的晶圆级封装技术;从外围焊接(peripheral)发展到数组焊接(area-array);从陶制基版发展到有机基版;从单芯片封装发展到复芯片封装的构装方案等。事实上,系统级封装比一般的封装方案拥有一定的优势。在报告中首先概述最近在系统级封装的发展情况与应用。另外,借此报告突显出跟供应链有关产业之间的密切协调是达到有效而迅速地执行系统级封装的关键。最后,在报告中进一步详述一个集顶尖封装设计、分析及可靠性评估技术的服务中心的好处,及如何对工业界从事原型设计发展到大量生产的协助。     

Transition of MCM-C applications to MCM-L using rigid flex substrates

Rigid flex circuits have historically been used in military and high-end performance electronic packaging to improve reliability, reduce weight and save space. This type of interconnect offers higher reliability and a tighter form factor when compared to more conventional interconnect techniques. Improvements in printed circuit fabrication processes and laminate materials have made possible unique opportunities for high density rigid flex circuitry. Recently MCM-L or laminate based multi chip modules have been gaining in popularity as a lower cost packaging alternative to traditional MCM-C or ceramic substrate based multi chip modules. This paper describes the steps taken to redesign existing modules from MCM-C technology to MCM-L(F). Several actual products that have been redesigned from ceramic substrate technology to laminate based packaging using rigid flex as the enabling technology are shown. Data is presented on thermal dissipation, mechanical reliability, electrical performance, and thermal reliability of the laminate substrate as well as assembly information.     

BGA封装技术研究

介绍了 BGA技术的研究现状 ,着重从芯片互连、基板材料及封装设计等方面讨论了该技术的发展前景。     

激光微孔加工技术在印刷线路板生产中的应用

在印刷线路板(PCB)加工业中，微孔加工技术一直是制约该丁业发展的主要因素之一，人们对体积小、功能强、性能稳定的产品需求不断推动这项技术的发展。介绍了激光技术在微孔加工方面的应用，阐述了微孔加工的机理、设备、工艺方法及所涉及到的PCB板材料。     

倒装芯片组装集成电路开封方法

倒装芯片组装集成电路的结构与常规封装不同,导致现行开封技术不完全适用于倒装芯片组装集成电路。对不同封装形式的倒装芯片组装集成电路结构分析,找出目前制约开封技术的关键因素。以陶瓷及塑封封装倒装芯片组装集成电路为例,运用热风枪、高温预处理、机械应力及化学腐蚀等方法,提出了一套适用性强、效率高的综合性倒装芯片组装集成电路开封工艺技术,并通过实例进行验证和总结。通过运用该技术可以有效解决倒装芯片组装集成电路的开封问题,为后续标准的修订及破坏性物理分析提供依据和帮助。