现代集成电路测试技术

本书是一部包括集成电路测试理论、测试方法、测试标准，各种类型调试系统，测试辅助设备和测试系统计量等内容的现代集城电路测试技术全书，具有全面性，系统性和实用性的特点。     

用计算机测试系统及辅助方法测试高压大电流功率驱动集成电路

本文介绍了5406、5407、TC4423、TC4424、TC4425等驱动集成电路的电性能参数,说明了对这类能输出高电压或大电流集成电路的测试原理,给出了以小型微型计算机测试系统为主,加以其它辅助方法进行这类电路包括高电压和大电流的全参数测试的方案.     

大规模集成电路测试系统

集成电路和电路板测试系统是测试仪器的最高水平,硬件和软件均属前沿产品,测试仪器供应商的数目超过千家,但全面集成电路和电路板供应商不到十家,仅从数量来看也是百里挑一的了。著名的厂家有Teradyne(泰瑞达)、Schlumberger(斯伦贝谢)、Advantest(爱德万)、Agilent(安捷伦)、GenRad等。产品的价位很高,一般十万美元以上,相应的开发生产费用也就更为可     

北京集成电路测试技术联合实验室成立

日前,北京自动测试技术研究所与中国科学院微电子研究所共同成立的北京集成电路测试技术联合实验室正式启动。北京自动测试技术研究所所长张东研究员介绍说,新成立的北京集成电路测试技术联合实验室,将整合北京市、中科院系统     

超高速数字集成电路的计算机辅助测试技术

介绍了超高速数字集成电路的计算机辅助测试技术（ＣＡＴ）,利用ＩＥＥＥ－４８８接口与多功能专用扩展板,采用ＥＳＢＡＳＩＣ测试语言编程,实现超高速数字集成电路物自动测试,提高了测试工作效率和测试精度。     

集成电路测试技术的应用研究

电子信息技术得到了很大的发展,从而促进了集成电路测试技术的广泛应用.因此,测试集成电路设计和制造的过程极其重要,要求相关工作人员对集成电路设计、制造的测试基本理论和方法必须熟练掌握,为高质量电子产品的生产提供保障.     

射频集成电路测试技术研究

射频集成电路(RFIC)是无线通信、雷达等电子系统中非常关键的器件，由于其高频特点，准确评估RFIC的性能具有相当的难度。文章以射频低噪声放大器(LNA)为例，运用微波理论，分析了RFIC典型参数，如S参数、带宽、PldB、OIP3以及噪声系数等的测试原理和测试方法，并对影响RFIC性能测试的主要因素进行了分析。最后，给出了一种LNA电路的测试结果。     

数字集成电路系统基本构成与测试技术研究

随着集成电路技术的飞速发展,集成电路的设计和制造也变得更加复杂。目前,数字集成电路系统成为研究的主流,并且在很多方面都表现出了较大的积极作用。相对而言,数字集成电路系统的优化速度较快,尤其是在基本构成和测试技术方面,会依据实际的需求而进行优化处理,满足客观工作的需求。在构成方面,需满足各个领域的要求。在测试技术方面,则要完成本质上的进步,确保数字集成电路系统可达到较多的功能效果,创造更大的价值。文章针对数字集成电路系统的基本构成、测试技术开展深入研究,健全工作体系。     

基于Ultra-FLEX测试系统的集成电路测试开发

在半导体技术高速发展的今天,对集成电路的测试要求越来越高,测试开发的难度、复杂度都在增加,如何应对当前集成电路的测试需求,成为测试开发者需要考虑的问题。Ultra-FLEX测试系统是新一代的测试系统,用以应对当今的测试需求。文章介绍了Ultra-FLEX测试系统的硬件资源,列举了部分模块及其功能和参数;描述了一般集成电路测试开发的流程,并以数字集成电路为例介绍了相关测试内容;介绍了Ultra-FLEX测试系统的软件环境,列举了测试程序构成要素以及各自功能;介绍了Ultra-FLEX测试系统的程序调试环境,测试系统提供的调试工具以及调试方法。     

VXI数模混合集成电路测试系统

1、简介《VXI数模混合集成电路测试系统》的开发,对于集成电路设计验证、集成电路测试都有着极其重要的意义。VXI总线测试系统由于其开放性、可扩展性及模块化结构使其应用广泛。该项目带动了国内集成电路     

数字集成电路测试系统逻辑测试单元分析

本文简要分析了数字集成电路测试系统中的逻辑测试单元。     

数字集成电路测试系统结构分析

本文介绍大规模数字集成电路自动化测试系统的基本构成。     

集成电路的CAT技术

集成电路(IC)研究与制造技术的迅猛发展已导致社会生产的飞跃性变革,集成电路的应用已渗透到工业、农业、国防以及人们日常生活乃至各个领域。近年来,专用集成电路(ASIC)的制造异军突起,成为IC生产的主流。但是,不论是通用IC还是ASIC,集成规模的不断增大,电路内部节点数以及输入输出信息量大幅度增加,对IC制造厂家提出了严峻的课题:如何迅速准确地检测芯片、如何以最少的测试矢量最多地反映内部节点的状态。本论文主要阐述了集成电路的CAT技术及其应用。     

模拟集成电路的测试与故障检测技术

本文综述了模拟集成电路的测试及故障检测等有关问题，首先介绍面向性能的测试方法，然后讨论故障模型和面向故障的测试方法，在介绍了模拟集成电路的可测性设计技术之后，讨论了利用电源监测进行故障检测的方法。     

大规模集成电路相关测试标准的剖析

集成电路测试是保证集成电路质量、发展的关键手段.CMOS器件进入超深亚微米阶段,集成电路继续向高集成度、高速度、低功耗发展,使得IC在测试和可测试性设计上都面临新的挑战.重点研究了纯数字信号、混合信号和片上系统测试的一些问题和相关标准,包括IEEE 1149.1-1990到IEEE 1149.6-2003,IEEE 1450,IEEE 1500,IEEE-ISTO Nexus 5001等测试标准.总结了集成电路测试标准的特点和最新进展,分析了这些标准在实际应用中存在的一些问题及其局限性,并对今后集成电路测试技术标准的发展给出了预测.     

M3000通用集成电路测试系统

电子元器件的测试工作,不仅对生产这些元器件的厂家来说非常重要,对于电子产品的生产和研制单位来说也同样重要。为了保证电子产品的质量和信誉、提高生产效率和降低生产成本,有必要在整机装备前对所有的各种元器件进行100％的测试筛选。 M3000通用集成电路测试系统非常适合于进行此项工作。