边界扫描测试算法的分析与优化

伴随着电子技术和边界扫描测试技术的飞速发展,新的边界扫描测试算法也在不断涌现；而边界扫描测试的算法,一般都是指在互联模型的基础上,边界扫描测试向量的生成算法；生成合理的测试向量集可以以最短的测试时间来覆盖尽可能多的故障；从对一些常用的边界扫描测试算法进行了粗略的分析,到后来对等权值算法和二进制计数算法进行了详细的分析,通过引入和分析边界扫描测试算法的定理、公式以及推论等,分别提出了等权值优化算法和权值递加算法；与优化前的算法作为比较,等权值优化算法降低了征兆混淆出现的概率,而权值递加算法同时降低了征兆误判率和征兆混淆率；综合分析,新的算法更好的权衡了测试向量集的完备性指标和紧凑型指标。     

边界扫描测试优化算法--极小权值-极大相异性算法

ＩＥＥＥ１１４９．１边界扫描机制是一种新型的ＶＬＳＩ电路测试及可测试性设计方法,在边界扫描测试过程中,生成合理的测试向量集是有效应用边界扫描机制对电路系统进行测试的关键。在分析现有边界扫描测试生成算法的基础上,提出了一种极小权值－极大相异性算法。该算法可以在确定边界扫描测试向量集的紧凑性指标的前提下,生成故障诊断能力相当优化的测试一集。仿真试验表明,该算法的性能优于现有的类似算法。     

适用于高级数字网络测试的边界扫描芯片特性研究

为解决高级数字网络交流耦合/差分的故障检测问题,对高级数字网络测试边界扫描标准(IEEE1149.6)进行了研究;针对符合IEEE1149.6标准的典型元件,基于测试结构和测试指令两个方面,简要阐述了高级数字网络的边界扫描测试原理;并对典型元件进行了特性参数分析与测试结构仿真;仿真结果表明:1149.6结构芯片可以实现对交流耦合差分通道中测试信号的边沿检测;最后通过实际的电路测试实验,给出了电路测试设计方法,为熟知边界扫描技术的设计者提供了有价值的参考.     

基于JATAG边界扫描的在线导通测试算法

ＪＴＡＧ边界扫描机制是用于在线导通测试的新技术，利用ＪＴＡＧ可以在数分钟内查出复杂插件和系统的全部导通故障。     

基于边界扫描技术的测试性优化方法研究

针对基于边界扫描测试技术对集成电路测试复杂的问题,提出了贪婪算法和图的色素理论算法;贪婪算法是指在测试网络与器件之间建立一个矩阵模型,通过局部最优解来寻找全局最优解的一种算法;图的色素理论是借助图的色数理论和技术,通过图形绘制网络与器件的关系,从中寻找最少着色方案的一种算法;实验结果表明,贪婪算法和图的色素理论两种算法的应用都能够较好地解决电路板测试性复杂性和测试性完备性问题,具有很强的实用性,可用于复杂数字电路板测试。     

基于边界扫描测试的电路单元测试性设计研究

针对基于边界扫描的超大规模集成电路单元的特点,论述了测试性设计需要重点考虑的一些问题,研究了如何保证经过测试性设计后的电路单元测试最有效的难题;在详细研究电路单元测试性定量和定性指标的基础上,提出了新的测试性评价体系和测试性量化指标;提出新的测试时间度量及测量方法,与以往的方法相比测试方法简单,易于验证;此外,文中还给出了能够获得良好测试性设计效果的边界扫描电路单元的扫描链路设计方案.     

基于边界扫描的板级互连测试及测试向量生成

针对现有测试向量的不足,该文介绍了边界扫描的基本原理和结构并且分析了测试算法,重点论述了在互连测试中向边界扫描单元预装测试向量和提取响应的方法,最后提出了一种可施加于电路板扫描链上的测试向量生成方法。实验结果表明,该方法思路清晰,能够检测被测电路板中多条扫描链的固定0、固定1、短路和开路故障。     

基于边界扫描的电路板测试性优化设计

基于边界扫描的电路板测试性设计中，迫切需要解决“测试性改善程度一定时，如何权衡设计使得设计复杂性最小”的问题，本文首先深入分析了该问题，证明它是一个NP－ 完全问题，然后基于贪婪策略提出了求解问题的优化算法，仿真实验表明，该算法能够得较优化的电路板测试性设计方案。     

基于边界扫描的微处理器功能测试算法

针对实现了边界扫描可测试性设计的微处理器的特点, 提出了一种改进的微处理器功能测试算法。应用该算法我们成功地完成了３２ 位 Ｒ Ｉ Ｓ Ｃ 芯片 Ｌ Ｓ８５３２ Ａ 的测试     

基于边界扫描技术的TAP接口研究

边界扫描机制是一种新型的VLSI电路测试及可测试性设计方法。该文在研究边界 扫描体系结构和TAP接口控制器的基础上，在一个测试系统中，实现了基于JTAG规范的主TA P 接口设计。     

数模混合边界扫描技术的研究现状与进展

数模混合电路的集成度和复杂度不断提高,电路测试的难度越来越大,混合信号边界扫描技术的推出为数模混合电路的测试提供了一种有效解决方案;文章以近年来国内外有关的文献报道为依据,对目前混合信号边界扫描技术的测试规范及测试方法进行系统的归纳,重点对该技术的新应用、新进展和发展动态进行详细介绍;针对混合信号边界扫描技术应用过程中遇到的实际问题提出了急需研究解决的主要关键技术,最后总结了该技术的发展方向和应用前景。     

边界扫描测试技术及其应用

边界扫描技术是一种完整的、标准化的可测性设计方法，它提供了对电路板上元件的功能、互连等进行测试的一种统一方案，极大地提高了系统测试的效率。本文详细介绍了边界扫描测试的原理、结构，讨论了边界扫描测试技术的应用。     

基于边界扫描的测试技术

鉴于工程实践中对边界扫描技术的忽视,分析了它在实际使用中存在的误区,介绍了边界扫描接口的定义及其具体硬件结构,阐述了边界扫描的工作原理。并分析总结了其用于实际测试中的作用与优点,提出了对边界扫描测试进行优化时需要注意的方面．以利于更好地普及应用。     

基于边界扫描的测试技术

鉴于工程实践中对边界扫描技术的忽视,分析了它在实际使用中存在的误区,介绍了边界扫描接口的定义及其具体硬件结构,阐述了边界扫描的工作原理。并分析总结了其用于实际测试中的作用与优点,提出了对边界扫描测试进行优化时需要注意的方面,以利于更好地普及应用。     

基于JTAG边界扫描的在线导通测试算法

ＪＴＡＧ边界扫描机制是用于在线导通测试的新技术，利用ＪＴＡＧ可以在数分钟内查出复杂插件和系统的全部导通故障。本文介绍了基于ＪＴＡＧ导通测试的基本思想，提出了一个有效的基于ＪＴＡＧ的在线导通测试算法。     

一种基于扫描链阻塞技术的低费用测试方法

为进一步降低测试功耗及测试应用时间,提出一种基于扫描链阻塞技术且针对非相容测试向量的压缩方法.该方法考虑前后2个测试向量之间不相容的扫描子链,后一个测试向量可以由扫描输入移入若干位以及前一个测试向量的前若干位组合而成.实验结果表明,该方法能够有效减少测试应用时间,提升效率.     

扩展相容性多扫描树的设计

针对实际电路具有多个扫描输入的情况,设计出一种新的具有多个扫描输入的扫描树结构,该结构能有效降低测试应用时间和平均测试功耗。实验结果表明,当有两个扫描输入时,测试应用时间最高可降低52.4%,平均功耗最高可降低60.8%。     

基于SQLite的边界扫描互连测试矢量生成设计

互连测试是边界扫描技术的主要内容之一,在分析IEEE1149.1的基础上,给出一种基于嵌入式开源数据库SQLite的边界扫描测试系统中互连测试矢量生成的设计;利用SQLite数据库中存储的被测电路的扫描链路信息和器件等信息,得到扫描粗链并进一步形成扫描细链;利用可测网络信息结合测试算法产生测试矢量;最终将测试矢量在扫描细链上对扫描单元赋值即得到扫描链的互连测试矢量集;测试结果表明,该设计可快速生成测试矢量而缩短测试时间,具有较好的应用前景.