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氮掺杂氟化非晶碳薄膜的拉曼光谱结构研究 总被引:1,自引:0,他引:1
以CF4、CH4和N2的混合气体为源气体,采用PECVD技术,在不同源气体流量比下制备了α-C:F:N薄膜。对制备的薄膜进行了真空退火处理,并对退火前后的薄膜进行了拉曼结构分析。拉曼分析表明:α-C:F:N薄膜是由sp2和sp3混合结构组成的非晶碳薄膜;随源气体流量比的增大,α-C:F:N薄膜中sp2键的含量增加,交联结构加强,薄膜的热稳定性得到提高;对低流量比下沉积的薄膜,退火处理可以提高其热稳定性。 相似文献
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分别使用两种结构不同的氟化碳材料(CFx-A、CFx-B),电解液LiPF6、LiBF4以及锂带制备5 Ah的18650型圆柱电池,利用XRD、SEM、EDS等测试技术对材料的形貌结构进行表征分析,并对电池进行恒功率恒流放电测试,研究了不同的电解液、氟化碳材料、环境温度和高温贮存时长对电池电化学性能的影响。试验结果表明,LiBF4与氟化碳材料的匹配协同效果较好,但LiBF4性能的发挥受温度影响较大,环境温度从50℃下降到-20℃时,比容量下降约25%~35%。相较于CFx-A,CFx-B的层间距和比表面积较大,Li/CFx-B电池具有更高的放电电压,较好的倍率性能,但容量偏低;而Li/CFx-A电池的放电平台更平稳、容量更高、高温贮存性能更好,但倍率性能较差。 相似文献
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利用氧化物陶瓷工艺制备MnZn功率铁氧体。研究了不同预烧温度下铁氧体粉料的相变及其对铁氧体结构和性能的影响。结果表明,当预烧温度升高至880℃时,粉料中生成了明显的尖晶石相Zn1-xMnxFe2O4。随着预烧温度的升高,烧结试样的密度(d)、起始磁导率(μi)、饱和磁感应强度(Bs)和电阻率(ρ)均先升高后降低,功率损耗(Pcv)先降低后升高,均在880℃预烧时达到最优点:密度、起始磁导率、饱和磁感应强度和电阻率分别达到最高值4.86g/cm3、2570、528mT和6.6?·m,功率损耗降至最低值369kW/m3。因此,在880℃下预烧的粉料活性适中,烧结后能获得均匀致密的微观组织和优良的电磁性能。 相似文献
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以间苯二酚(R)、甲醛(F)为原料,盐酸作催化剂,通过添加嵌段共聚物F127作致孔剂,利用溶液协同自组装和炭化处理制备多孔炭材料。采用扫描电镜、透射电镜和N2吸附分析不同F127加入量制得的多孔炭材料的形貌和孔隙结构,并利用直流充放电、交流阻抗技术和循环伏安法测定以上述多孔炭材料为电极的双电层电容器(EDLC)的电化学性能。结果表明:酸催化下的酚醛树脂基体网络结构在炭化过程中较好地保留了F127形成的微相结构,不同F127加入量制得的多孔炭材料比表面积在640~700 m2/g。F127/R为1.3时制得的多孔炭材料比表面积为701.2 m2/g,孔容为0.54cm3/g,其中中孔孔容0.362 cm3/g,中孔率达67.04%;在30%KOH电解质溶液中低电流密度(1 mA/cm2)充放电时的比电容为165 F/g,电流密度增大20倍,容量保持率为95%,经过5 000次循环,容量保持率达94%以上,具有良好的大电流充放电性能和循环性能。 相似文献
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研究设计了基于SVPWM控制策略的电流转速双闭环异步电机调速系统。本文在异步电机调速系统中在逆变电路和整流电路之间加一个Zeta电路,提高了系统整体的供电能力,更好的适应了负载变化。同时双闭环的反馈数据选择电机较容易测得的转子电流和转速,通过TMS320F28335转换成磁链和角速度,提高了系统的控制精度。根据电压空间合成矢量跟随空间磁链的控制策略,确定电压空间矢量大小、相位。理论分析中,依据电压空间矢量模型和假定的开关函数,算出在各扇区的IGBT的分配时间。研究最后给出负载Matlab的V-I仿真图,验证了设计的合理性和有效性。 相似文献
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Ning-Xin Zhang Yi Yang Xiao-Ming Wu Tian-Ling Ren Li-Tian Liu 《Integrated ferroelectrics》2013,141(1):315-322
ABSTRACTA series of microphone cells based on integrated PZT thin films were fabricated by typical MEMS process. The thickness of back silicon as a load of the vibrating diaphragm was controlled by changing ICP (Inductive Coupling Plasma) etching time and power. Concaved diaphragms with different radius were formed due to the balanced tensile stress among the multi-layer films structure. The remnent and saturated polarization strength of microphone cells decreased with the increased deformation of diaphragm. The phenomenon was explained as the weakening of mechanical-electrical coupling in piezoelectric thin films in stressed state. 相似文献
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