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对悬式绝缘子用锑锡半导体釉进行了系统的工艺试验,阐明了锑锡半导体釉的导电机理,指出在半导体釉配方一定的条件下,釉层厚度和烧成温度是影响釉层电阻率的主要因素. 相似文献
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研究分析了悬式绝缘子瓷件头部微裂纹缺陷的结构特征 ,探讨了缺陷产生原因 ,结果表明 ,这种缺陷产生的主要原因是练泥机中心部位挤制不实 ,瓷件制造过程中施加不均匀负荷 ,出烘水分控制不当所致。采取了解决开裂问题的相应措施后取得了良好的效果。 相似文献
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悬式绝缘子孔内微裂纹的原因分析与解决措施 总被引:1,自引:0,他引:1
对窑后悬式瓷件出现的孔内微裂纹缺陷,在检验时就其产生的原因进行了分析,并根据生产实践,采取了一些相应的解决方法及措施,提高了产品合格率。 相似文献
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从产品结构和生产工艺等方面分析了XP-70悬式绝缘子短期劣化的原因,提出了克服短期劣化的措施,并强调指出,最有效的方法之一是采用高强度配方. 相似文献
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从生产工艺和伞形设计两方面入手分析了XWP-70耐污悬式产品下伞裙开裂的原因,并提出了克服措施。 相似文献
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盘型悬式绝缘子自动胶装机的设计包括机械系统设计和气压传动控制设计。基于厂家对产品胶装装配质量的要求,采用单工位、平开气手指、气体振动器组合胶装装配方案。技术关键一是振动头实现小振幅和较高频率,二是要保证钢脚、瓷件和铁帽胶装必须达到一定的同轴度。胶装机电气控制系统采用三菱可编程逻辑控制器FX1S为主机。在设计中采用了一些特定的结构如双弹簧随动振动系统,加强振动效果并增加缓冲作用。经计算验证此设计能满足单班生产率≥400头的要求。 相似文献
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盘形悬式瓷绝缘子的在线检测 总被引:1,自引:1,他引:0
讨论了检测盘形悬式瓷绝缘子的火花间隙法、电压分布法、测量绝缘电阻法、航测法和地面初判法。认为采用火花间隙法和电压分布法检测绝缘子,有漏检、误判等现象;采用在线绝缘电阻法进行测试,可靠性较高。同时指出,航测法和地面初判法是今后在线检测的发展方向。 相似文献
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根据湿法成型的生产实践,分析指出杂质(布套纤维)、半成品开裂、压模不致密、泥料收缩不同等是导致悬式绝缘子工频火花试验击穿率高的原因。阐述了采取加强回收泥的使用管理,购买高质量的棉布制作布套,提高泥料的可塑性,严格控制烘房的湿度等措施后,可以提高产品的合格率。 相似文献
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对比分析了干法生产的252kV四级和三级污秽棒形支柱瓷绝缘子的工艺特点,认为四级污秽棒形支柱瓷绝缘子产生花釉缺陷的原因是:伞间距小、伞伸出大,施釉操作时坯体旋转,伞根部位暴露不完全,釉浆很难喷到伞根部位。在保证产品机械性能、电气性能和冷热性能的前提下,将大伞根厚度由22.67 mm减小到17.61 mm,小伞根厚度由20.07 mm减小到15.66mm,大伞与小伞之间杆径直线距离增加2.64mm、小伞与大伞之间杆径直线距离增加2.69mm,两伞之间距离由67.76mm增加为70.11mm;爬电距离增加(用一组伞作为对比)5.61mm;杆径未变化;伞间最小距离70.11mm;伞间距和伞伸出之比0.926;大小伞伸出之差17.5 mm;伞倾角17°。实验证明伞形结构优化后,为施釉操作创造了条件,瓷检合格率明显提高,较好地解决了花釉缺陷问题。 相似文献
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分析了等静压干法成型棒形产品的上釉缺陷,认为釉裂缺陷的主要原因是施釉工艺问题。提出了在釉中引入聚乙稀醇(PVA)溶液方法。试验结果表明,釉料的粘度明显下降,在施釉过程中,釉料雾化效果提高很多。为了克服人工喷釉的缺陷,提出了使用自动上釉上砂机和改进喷涂方式的设想。 相似文献
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针对大型瓷件掉伞及伞内裂的问题,分析了该缺陷的产生是由于光坯伞根部位出烘水分过低及坯件上釉时吸湿过大所致。指出应合理控制出烘水分、釉浆密度及上釉时间,避免坯件上釉时吸水过急过多,浸完釉后坯件先进烘房干燥再喷釉以减缓吸水膨胀应力。生产结果表明,采取措施以后,瓷检合格率提高了42%。 相似文献
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瓷件下端开裂是造成220kV空心瓷绝缘子烧成过程中报废的最主要缺陷之一。生产实践表明,在满足产品设计要求的前提下,尽量减少台阶的高度,可减少因收缩不同在台阶与主体结合部位产生的轴向剪切应力,有效地解决了下端开裂问题,使空心瓷绝缘子的瓷检合格率提高到92%以上。 相似文献