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填充聚苯硫醚复合材料的磨损机理研究 总被引:3,自引:0,他引:3
采用热压法制备了聚四氟乙烯-氧化钨单一及双填充聚苯硫醚复合材料,采用往复摩擦磨损试验机考察了复合材料的摩擦磨损性能,采用扫描电镜考察复合材料的磨损机理。结果表明,在往复摩擦磨损条件下,聚四氟乙烯-氧化钨双填充聚苯硫醚复合材料的摩擦磨损性能较好,且其磨损机理明显不同于单一填充聚苯硫醚复合材料。填充无机化合物颗粒一般均能有效改善聚合物的摩擦学性能[1~2]。推荐的无机填料最佳体积分数通常为30~35%。作为一种高温性能较好的热塑性塑料,聚苯硫醚尺寸稳定性较好,在高温下同无机物质的粘结较好,在常温下具有较高的硬度和较好… 相似文献
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我们以在高定向裂解石墨表面获得的纳米结构为例,对利用电子束方法和加热氧化方法制备的纳米结构的特征进行了对比分析,并结合材料的输运性质探讨纳米结构的加工机制。 相似文献
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扫描电镜研究喷焊层组织及磨损机理崔振铎姚韩雅静(天津大学分析中心,天津300072)本文利用扫描电镜研究了的二步法氧-乙炔火焰喷焊Ni基自熔合金粉末层的显微组织及磨损机理。喷焊层厚度2mm,硬度HRC55。喷焊层的显微组织是由Ni基固溶体,Cr、N... 相似文献
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聚四氟乙烯填充聚醚醚酮及其复合材料的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
PEEK具有优良的综合性能,自60年代研制成功后,PEEK及其复合材料得到了广泛的应用。本文利用PEEK的良好机械性能和高耐热性,PTFE的低摩擦系数,加入助剂改进加工工艺,通过共混制备PEEK/PTFE合金,用纤维增强提高其力学性能,开发出一种工艺性好,能注射成型的无油润滑、耐高温、低摩擦材料。结果表明,该材料不仅保持了良好的机械性能,而且具有良好的摩擦磨损性能。实验方法PEEK粉料在150℃下预干燥4h以上,按一定比例与PTFE粉和其它助剂混合,利用双螺杆挤出机造粒,设置温度为330~360℃,然后将干燥粒料注射成试样,进行力学性能测试,… 相似文献
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硅灰石填充UHMWPE基复合材料的干滑动磨损 总被引:1,自引:0,他引:1
超高分子量聚乙烯 (UHMWPE)是一种新型工程塑料 ,分子量一般在 1 5 0万以上 ,与普通聚乙烯具有相同的分子结构。它具有耐磨损、耐腐蚀、耐冲击、自润滑、摩擦系数小、耐低温等优良特性。却存在表面硬度低、强度低、耐热性能差、有蠕变性等缺点[1~ 3] 。本文研究的重点是硅灰石填充UHMWPE的干滑动磨损性能及机理。实验部分试验所用UHMWPE的分子量为 2 5 0万。采用乙烯基三乙氧基硅烷和NT -1 0 5酞酸酯偶联剂进行表面处理。经过偶联剂表面处理的硅灰石与UHMWPE按一定的比例装入V形混料机进行充分混合 ,然后装入模… 相似文献
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SiC表面氢化研究 总被引:2,自引:0,他引:2
该文提出6H-SiC ( 0001)/SiO2间过渡层的概念和过渡层结构,通过分析过渡层与HF溶液的反应机理,建立湿化学处理中的SiC表面氢化模型。模型以氢钝化SiC表面悬挂键,降低SiC表面的界面态密度,消除了费米能级钉扎,获得理想的SiC表面。将此模型用于SiC/金属接触的SiC表面处理,在100℃以下制备了理想因子n=1.2~1.25的肖特基结和比接触电阻=510-3 cm2~710-3 cm2的SiC欧姆接触,其优点在于不仅避免了欧姆接触800~1200℃的高温合金,而且改善了肖特基接触的电学特性。SiC表面模型与实验结果吻合较好。 相似文献
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K. A. Jones M. A. Derenge P. B. Shah T. S. Zheleva M. H. Ervin K. W. Kirchner M. C. Wood C. Thomas M. G. Spencer O. W. Holland R. D. Vispute 《Journal of Electronic Materials》2002,31(6):568-575
The SiC wafers implanted with Al were capped with AlN, C, or AlN and C and were annealed at temperatures as high as 1700°C
to examine their ability to act as annealing caps. As shown previously, the AlN film was effective up to 1600°C, as it protected
the SiC surface, did not react with it, and could be removed selectively by a KOH etch. However, it evaporated too rapidly
at the higher temperatures. Although the C did not evaporate, it was not a more effective cap because it did not prevent the
out-diffusion of Si and crystallized at 1700°C. The crystalline film had to be ion milled off, as it could not be removed
in a plasma asher, as the C films annealed at the lower temperatures were. A combined AlN/C cap also was not an effective
cap for the 1700°C anneal as the N or Al vapor blew holes in it, and the SiC surface was rougher after the dual cap was removed
than it was after annealing at the lower temperatures. 相似文献
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SiC MESFET工艺技术研究与器件研制 总被引:2,自引:1,他引:2
针对SiC衬底缺陷密度相对较高的问题,研究了消除或减弱其影响的工艺技术并进行了器件研制.通过优化刻蚀条件获得了粗糙度为2.07 nm的刻蚀表面;牺牲氧化技术去除刻蚀带来的表面损伤层,湿氧加干氧的氧化方式生长的SiO2钝化膜既有足够的厚度又保证了致密性良好的界面,减小了表面态对栅特性和沟道区的影响,获得了理想因子为1.17,势垒高度为0.72 eV的良好的肖特基特性;等平面工艺有效屏蔽了衬底缺陷对电极互连引线的影响,减小了反向截止漏电流,使器件在1 mA下击穿电压达到了65 V,40 V下反向漏电流为20μA.为了提高器件成品率,避免或减小衬底缺陷深能级对沟道电流的影响,使用该工艺制备的小栅宽SiCMESFET具有195 mA/mm的饱和电流密度,-15 V的夹断电压.初步测试该器件有一定的微波特性,2 GHz下测试其最大输出功率为30 dBm,增益大于5 dB. 相似文献