基于边界扫描的板级测试向量自动生成

针对现有测试向量存在的不足,提出一种可施加到电路板扫描链上的测试向量自动生成方法,该方法利用被测电路的网络表文件和边界扫描描述语言文件,获取器件互连关系、边界扫描信息及扫描链路结构,结合测试算法生成板级测试向量,根据扫描链数目及连接关系将其扩展并生成可施加到扫描链上的链路级测试向量。实验结果表明,该方法能检测被测电路中多条扫描链的固定0、固定1、短路和开路故障,为测试系统提供了实用高效的测试向量。     

单片机测试向量生成技术研究

集成电路测试是保证产品质量的重要手段,如何检测MCU类复杂大规模集成电路是测试的难点。文章分析了目前单片机测试向量获取的几种方法,并在此基础上提出了一种单片机测试向量生成的新方法,通过将单片机测试向量分成测试激励和测试响应两部分,测试激励部分通过编写专用脚本软件将汇编程序转换成ATE专用测试向量,测试响应部分的测试向量则通过ATE的匹配功能来完成,从而成功地实现了对单片机的测试。     

基于多扫描链的内建自测试技术中的测试向量生成

针对基于多扫描链的内建自测试技术,提出了一种测试向量生存方法。该方法用一个线性反馈移位寄存器（LFSR）作为伪随机测试向量生成器,同时给所有扫描链输入测试向量,并通过构造具有最小相关度的多扫描链克服扫描链间的相关性对故障覆盖率的影响。此外该方法经过模拟确定难测故障集,并针对这外难测故障集利用ATPG生成最小确定性测试向量集。最后丙依据得到的最小测试向量集来设计位改变逻辑电路,利用们改变逻辑电路控制改变扫描链上特定的值来实现对难测故障的检测,从而实现被测电路和故障完全检测。     

基于内建自测试的测试向量生成方法

内建自测试(BIST)方法是目前可测性设计(DFT)中最具应用前景的一种方法。BIST能显著提高电路的可测性,而测试向量的生成是关系BIST性能好坏的重要方面。测试生成的目的在于,生成可能少的测试向量并用以获得足够高的故障覆盖率,同时使得用于测试的硬件电路面积开销尽可能低,测试时间尽可能短。本文对几种内建自测试中测试向量生成方法进行了简单的介绍和对比研究,分析各自的优缺点,并在此基础上探讨了BIST面临的主要问题和发展方向。     

覆盖状态内部分枝的测试向量生成

提出一种能兼顾状态内部分杜的状态覆盖方法．在状态内部分枝树的终端结点处添加状态转换语句，将原先的单个转换分成多个转换分枝；从而实现对原先的状态转换进行扩展，使得用传统的状态测试方法就能够覆盖到状态内部的分枝．为了准确描述该过程，文中给出了分枝扩展的形式化方法．在此基础上，给出一个测试向量生成算法：遍历状态转换有向图；依状态间转换条件生成测试向量；依遍历顺序收集测试向量．通过对ITC99-benchmark中时序电路的试验表明，本文方法是有效的．     

PLA测试集自动生成系统PLATSG

1.引论 PLA宏单元越来越频繁地在VLSI设计中采用,其测试亦越显重要。尽管自动测试生成总是相当耗时和困难的,但我们可以利用PLA的规整性去研制强有效的算法。目前,已提出了许多PLA的测试生成方法,但PLA的测试生成终因其特殊性依然没有较好     

测试集自动生成方法中的可执行化研究

自动生成的测试集是可执行的才具有实用意义。讨论了在测试集自动生成系统TUGEN中实现的参数化可执行化算法。分析了该算法的效果,不足及其原因;讨论了可执行化处理中所涉及谓词可满足性问题的复杂度和测试路径可执行性问题,并在此基础上进一步提出并实现了“可执行参数”的算法,克服了前一算法的不足,提高了TUGEN的实用性和执行效率,在进行了讨论分析后,以实例进行了对比和说明,并对今后的研究方向进行了展望。     

基于Add-in的代码自动生成技术的研究

VB的Add—in技术提供了扩展VB开发环境的接口。文章论述了基于VBAdd—in技术的可视化代码自动生成系统的设计方法，该系统的实现与应用可以简化软件的开发过程。加快软件的开发速度，提高代码的重用率。     

基于边界扫描的板级互连测试及测试向量生成

针对现有测试向量的不足,该文介绍了边界扫描的基本原理和结构并且分析了测试算法,重点论述了在互连测试中向边界扫描单元预装测试向量和提取响应的方法,最后提出了一种可施加于电路板扫描链上的测试向量生成方法。实验结果表明,该方法思路清晰,能够检测被测电路板中多条扫描链的固定0、固定1、短路和开路故障。     

基于BCB的文档自动生成技术

文档自动生成技术是办公自动化系统中的核心技术之一,本文针对文档自动生成技术中的五个要点即Word的动态连接、图形的自动加载、文字的自动生成、表格的自动生成和框图的自动构建,着重介绍了在Borland C Builder(BCB)编译环境下编程实现的详细过程,并给出了一个具体应用实例.     

基于UML时序图的集成测试序列自动生成

该文研究了基于UML时序图的集成测试序列自动生成方法。该方法分析了时序图的语义信息并添加语义约束规约生成可测试模型,从中提取相关信息生成有限状态机;然后使用Wp方法构造测试序列;最后使用中国邮递员算法对Wp方法进行改进生成最优测试序列。该方法生成的测试序列长度相对较短,并能充分满足测试用例覆盖需求。     

基于标号变迁系统的测试集自动生成

首先,依据ISO89646的定义,阐述了协议一致性测试的基本概念,然后,介绍标号变迁系统（LTS）的形式化理论的定义和基本性质,利用LTS,给出测试例、测试集以及测试生成的形式化定义,第3,表述了实现关系在测试生成中的地位和作用,定义了输入输出系统,并在输入输出系统以及△变换的基础上引入实现关系ioco,根据实现关系ioco给出了一个测试集自动生成算法,该算法能很好地适用于递归的LTS。     

数模混合电路互连测试矢量自动生成的实现

测试矢量的自动生成研究一直都是板级边界扫描互连测试中的重点,针对数模混合被测电路的不同结构类型,特别是多扇出类型结点相连的复杂情况,建立了具有代表性的互连结构测试模型;在此模型的基础上提出可进行完备性测试矢量的自动生成算法并用软件加以实现;利用该算法,对实际DEMO板上的芯片进行了互连测试,测试结果表明该算法满足板级边界扫描互连测试的矢量自动生成要求。     

无回溯并行多路径搜索测试向量生成算法

无回溯并行多路径搜索算法（NBMP）在生成测试向量过程中生成基于原始输入端奇异立方和与原始输出端关联的传输立方,并利用生成的奇异立方和传输立方生成测试向量。算法在实现过程采用无须回溯和多路径探索策略。通过分析和实验结果证明算法时间复杂度近似为线性。算法对ISCAS85基准电路中规模最大的8个电路进行实验,将实验结果与传统算法进行比较,结果表明NBMP算法故障覆盖率优于传统算法。     

数字电路自动测试生成实用化软件

介绍了针对ATE应用和TPS开发的需要首次在Windows NT平台上研制的一套数字电路诊断测试数据自动生成的实用化软件系统OCTOPUS100。该软件与已有的ATPG软件相比具有成本低,有利于推广等优点。该软件具有灵活性、实用性和通用性,经实验与试用表明有很高的实用价值。     

基于树型模型的黑盒测试用例自动生成

软件测试是保证软件质量的重要手段,尤其是自动化测试可以提高测试效率,降低成本.测试用例的自动获取尤其是黑盒测试用例的自动生成是软件测试的关键和难点.在借助边界值和等价划分等数学原理得到的典型值的基础上,结合自定义的树型模型设计了全面覆盖算法和快速搜索有效用例算法两种面向不同方面的算法.并通过在假设的模型下运用两种算法进行测试数据的生成与测试结果的对比.测试结果表明两种算法各有其自身的优势,有可适用的测试场合、轮次.     

PASCAL语言结构测试的测试数据自动生成技术的研究与实现

软件工程的一个重要问题是研究软件测试.针对Pascal语言的特点,我们研制了一个为Pascal模块测试生成测试数据的工具PTGS,本文介绍PTGS的结构及其实现.     

基于UML活动图的测试用例自动生成方法研究

基于UML活动图对系统测试的方法进行研究。针对活动图半形式化特性,给出了活动图的形式化描述及测试覆盖准则的定义。重点分析并发活动的顺序及排列,引入人机动态交互的方法在测试场景生成算法上加以约束,避免了测试场景集数量爆炸,使自动化生成测试用例可行性有一定提高。最后,讨论了从测试场景到测试用例的方法,从而为UML活动图的自动化测试提供了系统的、有效的、可行的方法。     

基于正则表达式的测试数据自动生成技术

软件测试是提高软件可靠性、保证软件质量的重要手段。数据自动生成是测试自动化的重要组成部分。提出一种基于正则表达式的测试数据自动生成技术,生成的数据应该具有随机性、可控制、可定义、有意义、无错误等特性,特别是对大字段／专有类型等特殊类型的支持,可以解决目前测试数据自动生成存在的问题,具有良好的扩展性。     

基于通信协议的接口测试用例自动生成框架

为了实现对软件配置项和软件系统的接口测试的测试用例自动生成,建立了基于通信协议的接口测试用例自动生成框架,对该生成框架的输入模型和算法集合进行研究。提出了基于通信协议的接口测试用例生成框架的输入模型,并在输入模型中建立数据帧之间的一级关联矩阵和数据帧内字段间的二级关联矩阵。以输入模型为基础,说明发送端和接收端的接口测试用例自动生成算法。结合实际项目中的通信协议,介绍了如何将通信协议信息转换至输入模型,如何通过算法集合自动生成测试用例集。实验结果表明：基于通信协议的接口测试用例自动生成框架生成的接口测试用例可以替代人工生成的接口测试用例,极大地提高了软件接口测试工作的效率。