具有自动功能的新型坐标测量机用经济型测座

Renishaw最新推出了RTP20（“绕杆式”）紧凑型测座。它是一种独创的配有集成测头传感器的经济型测座，具有机动测座系统的功能及优点。它基于Renishaw现有的MH20i测座，能够进行15°为增量的自动重复定位，配用集成的TP20触发式测头，为自动坐标测量机提供了一个灵活的触发测头系统，将显著提高测量能力。     

具有自动功能的新型坐标测量机用经济型测座

Renishaw最新推出了用于自动坐标测量机（CMM）的RTP20紧凑型测座。这种低价位经济型测座具备”机动”测座的功能，配有集成的TP20触发测头。[第一段]     

具有自动功能的新型坐标测量机用经济型测座

世界领先的坐标测量机传感技术供应商Renishaw推出了RTP20（“绕杆式”）测座。它是一种独创的配有集成测头传感器的经济型测座，具有机动测座系统的功能及优点。新型RTP20测座允许集成的测头利用A轴和B轴以15。为增量移动，具有168个可重复定位的空间位置，只需对每一测尖位置进行一次标定即可。避免了昂贵、费时的重新标定程序，确保了快速的零件检测能力。用户能够很容易接近待测特性，确保测头以最佳角度对工件进行精确测量，优化了系统性能。     

一种坐标测量机用新型高精度触发式测头

<正>坐标测量机(简称CMM)已经在工程测量中得到日益广泛的应用,原因之一是采用触发式测头,不但易于操作,而且可进行动态测量,避免了停机时间,从而大大提高了测量效率。     

测头是座标测量机可靠检测的关键

测头系统是座标测量机的一个基础部件。本文介绍了触发式测头的性能和特点,分析了它的误差来源,阐述了在使用触发式测头时提高其测量精度的一些技巧和选购时应考虑的要点。     

坐标测量机精度及其评定方法研究

本文分析了ISO10360－2坐标测量机性能评定标准，并对一些影响坐标测量精度的因素作了分析，给出了一些单项测试结果和两种测量机的部分测试结果。     

坐标测量机高精度测头技术

介绍了坐标测量机高精度测头的研究发展现状;分析了接触方式,光学方式,扫描方式测头的优缺点,研究了日本松下公司研制的高精度测头测量原理;基于原子力微探针的基本原理,设计了一种新型的坐标测量机测头,指出了采用原子力准接触技术是测头向高精度发展的方向之一。     

三坐标测量机触发式测头误差分析

通过对三坐标测量机中广泛使用的触发式测头的简化模型进行受力分析,通过对测头模型预行程变化的定量分析,得到影响预行程的因素.     

Renishaw推出一系列新型测量产品

为进一步支持并服务于日益增长的中国市场,世界著名的计量产品制造商Renishaw公司推出一系列创新性的测量设备,OMP60紧凑型触发式测头和可进行高速刀具破损检测的新型刀具检测系统.     

三坐标测量机测头的测球半径补偿误差的计算

介绍了三坐标测量机的发展与测量头的分类 ,结合实例重点分析了触发式测头的测球半径补偿误差的产生原因、计算方法和预防措施     

Renishaw测头与TIMAX数控钻铣床上的联机应用

论述加装Renishaw OMP40测头在TIMAX数控钻铣床的应用原理及可行性,提出了将Renishaw测头用于TIMAX数控钻铣床上的测量方法。开发了TIMAX数控钻铣床的测量功能,实现了测量自动化。     

Renishaw测头在SCARA工业机器人上的应用

论述加装Renishaw OMP40测头在SCARA型工业机器人的应用原理及可行性,提出了将Renishaw测头在SCARA型工业机器人上用于测量的新方法.开发了SCARA机器人的测量功能,实现了测量自动化.     

SmartScope Flash1550多传感测头测量机

美国OGP公司（Optical Gaging Products Inc．）的SmartScope Flash1550测量机在SmartScope Flash1500的基础上扩展了X轴行程,测量范围（X,Y,Z）达到（1240&#215;1500&#215;200）mm。     

纳米三坐标测量机接触式测头触发控制

为高灵敏度纳米三坐标测量机(nano-CMM)接触式测头提出了一种高精度高效率的触发控制策略。该策略使用了一种自行研制的4-DVD接触式测头,工件接触测头产生的微小变形会导致测头产生灵敏度极高的触发信号。系统使用超声波马达整合不同驱动模式,实现了高速逼近和低速触发的有效结合。触发过程使用了二次触发策略,即第一次触发获得接触位置的范围,第二次触发用极低的速度,详细记录触发点附近的触发信号,并通过线性拟合的方式求得信号曲线转折点,即为触发位置。该方法解决了驱动分辨率和行程大小的矛盾。实验结果显示:该方法可以有效地避免测头系统的塑性形变,触发位置的重复性可在10 nm以内。结果表明,本文提出的nano-CMM接触式测头触发控制策略在保证精度和稳定性的前提下,表现出了良好的控制效率。     

微纳米三坐标测量机测头的研究进展

根据微纳米三维测量的发展和研究现状,首先归纳了三维微纳米测头的技术要求并进行分类,然后对国内外微纳米CMM测头的研究进展进行了介绍和比较,指出了各种类型测头需要解决的问题。针对这些测头的局限性,探讨了正在研究的新型三维谐振触发方法和触发测头。最后对微纳米三坐标测头的研究与开发趋势进行了总结和展望。     

三坐标测量机测头半径补偿技术及应用

对三坐标测量机(CMM)的测头半径补偿技术进行了深入研究,通过对三坐标测量机测头半径的二维和三维补偿技术的探讨以及相应的测量实例分析,论证了两种补偿技术的可行性,并说明了各自的特点及应用场合,指出了测头补偿技术的核心问题与关键技术,从而可以准确快速地得到被测点相应的坐标值.     

新型ZEISS CONTURA坐标测量机

<正>来自ZEISS更加广阔的平台CONTURA,可以提供更加灵活、可靠和严格的质量保证。除了测量范围更加广泛以外,最新的一代更加精密还提供一个大的光学传感器包。优秀的扫描技术、CALYPSO参考软件和高度协调的综合概念,使ZEISS CONTURA在同类产品中稳固了其作为标准的地位。