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《电子科技文摘》2003,(5)
Y2002-63335-3672 0309235应用 Hankel 数据矩阵奇异值分解的超声非破坏评价数据的分析=Analysis of ultrasonic non destructive eval-uadon data using singular value decomposition of theHankd data matrix[会,英]/HanshaW,T.C.& Hsu,C.S.//Proceedings of the 2001 lmerican Control Con-fefence Vol.5 of 6.—3672~3677(HE) 相似文献
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《电子科技文摘》2006,(7)
0616779转换开关不完全可靠的热贮备系统可靠性模型〔刊,中〕/章治本//中国电子科学研究院学报.—2006,1(1).—39-43(G)0616780提高企业质量管理体系运行有效性的探讨〔刊,中〕/孔安妹//西安工程科技学院学报.—2006,20(1).—123-127(C)0616781服装缝制车间作业时间研究〔刊,中〕/孔凡栋//西安工程科技学院学报.—2006,20(1).—46-49(C)为解决某制衣厂缝制车间劳动效率偏低的问题,调查分析了该企业一条生产线的作业时间,找出劳动效率偏低的原因。根据数据统计分析结果,提出改善方案,如系统化的车间布局与物流设计,建立完善的质量管理体系,… 相似文献
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《电子科技文摘》2002,(6)
SPIE-Vol. 3993 0210260SPIE会议录,卷3993:老化材料与复合材料的非破坏性检验=Proceedings of SPIE, Vol. 3993: Nondestruc-tire evaluation of aging materials and composites Ⅳ〔会,英〕/SPIE-The International Society for Optical Engi-neering. -294P. (E) 本会议录收集了在加州新港滩召开的老化材料与复合材料非破坏性检验会议上发表的30篇论文,内容涉及复合材料非破坏性检验,光纤声辐射传感器与检 相似文献
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《电子科技文摘》2006,(1)
IELDVD060:9322:29630-279 0600066 在高级复氧化物CMOS工艺中定标p-MOS场效应晶体管STI感应置信度的影响=The impact of STI induced reliabilities for scaled p-MOSFET in an advanced multiple oxide CMOS technology[会,英]/Chung,S. S.//Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2004.IPFA 2004.Proceedings of the 11th International Symposium on the.-279-282(A) 相似文献
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《电子科技文摘》2001,(2)
Y2000-62493 01018172000年 IEEE 电子器件质量设计会议录=2000 IEEE1st international symposium on quality electronic design[会,英]/IEEE Computer Society.—IEEE,2000.—524P.(EC)本会议录收集了于2000年3月20~22日在加州召开的电子质量设计会议上发表的93篇论文,内容涉及可靠性与可制造性设计.闭合制造环节,电子迁移失效统计模型。新型工艺与器件技术,设计质量与电子设计自动化工具,低功率测试。新型工艺对设计质量的冲击,质量定义与测量学。 相似文献
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