共查询到18条相似文献,搜索用时 140 毫秒
1.
690合金的晶界特征分布及其对晶间腐蚀的影响 总被引:1,自引:1,他引:0
运用扫描电子显微镜(SEM)、电子背散射衍射(EBSD)和取向成像显微技术(OIM)研究了690合金的晶界特征分布及晶界特征分布对晶间腐蚀性能的影响。低∑CSL(coincidencesitelattice,∑≤29)晶界比例高(72.5%)时会出现大尺寸的晶粒团簇,团簇内部晶粒互有∑3°取向差关系。当低∑CSL晶界比例低(46.7%)时,这种晶粒团簇的大小和内含酗“晶界数量都降低。运用Palumbo—Aust标准统计晶界特征分布时,大尺寸的晶粒团簇之间的随机晶界的连通性几乎不会被打断;但运用Brandon标准统计时,这些随机晶界连通性明显被一些相对偏差较大的低∑CSL晶界打断。低∑CSL晶界比例高的样品比低∑CSL晶界比例低的样品明显耐晶间腐蚀。 相似文献
2.
3.
4.
冷轧无取向硅钢再结晶退火过程的EBSD分析 总被引:4,自引:2,他引:2
采用EBSD手段分析了低碳低硅(0.003%C、0.3%Si)冷轧硅钢试样在740℃加热保温6s~360s退火过程中微区取向的演变规律。结果表明:{111}〈110〉取向的再结晶晶粒在变形的{111}〈112〉取向晶粒的晶界处形核,同时{111}〈112〉取向的再结晶晶粒在变形的{111}〈110〉取向晶粒的晶界处形核,并在{111}〈112〉取向冷轧剪切带上形成{011}〈100〉取向再结晶晶粒。在一定的退火温度下,合理控制保温时间有利于提高{100}面织构的占有率。 相似文献
5.
6.
本文采用扫描电子显微镜( SEM)及电子背散射衍射( EBSD)技术对经30%压下量冷轧的双相不锈钢UNS S32304在1050℃下退火的显微组织转变进行了原位追踪。结果表明,轧制变形后,两相的变形抗力具有明显差异,奥氏体塑性变形量较比铁素体大;经1050℃真空退火2 min后,两相晶内取向差的变化表明铁素体较比奥氏体发生了更大程度的回复;再经1050℃真空退火5 min后,样品中两相晶粒取向与其初始取向具有较大差异,表明发生了以再结晶为主并伴有少量相变反应的组织变化。 相似文献
7.
利用扫描电子显微镜(SEM)、电子背散射衍射(EBSD)技术和取向成像显微(OIM)软件研究了Ni基690合金中不同类型晶界处碳化物的形貌。不同类型晶界处析出碳化物的形貌有很大区别,在孪晶的非共格界面(Σ3i)附近,棒状碳化物向两侧晶粒内部生长,而类似的棒状碳化物只向Σ9晶界一侧的晶粒内部生长。Σ3i与Σ9晶界附近的棒状碳化物的生长方向与基体晶粒的{111}面平行。晶界上析出的碳化物尺寸随着Σ值的升高而明显增大。在相同的腐蚀条件下,晶间腐蚀的痕迹随着Σ值的升高变得严重。 相似文献
8.
9.
10.
11.
12.
采用金相、SEM、XRD和EBSD等分析方法,对双相不锈钢管N元素偏聚区域组织进行成分及结构的分析.结果表明:双相不锈钢管有100μm宽的带状N元素偏聚区,中心开裂,该区域基本为奥氏体单相组织,内部晶粒粗大且为等轴晶,以Σ3重位点阵(CSL)晶界为主,出现频率约为40%.而远离偏聚区中,铁素体奥氏体双相组织的相比例正常,奥氏体晶粒细小呈条状,也以Σ3晶界为主,出现频率降为27%.N偏聚区奥氏体与正常区奥氏体组织均可形成<111>∥RD及<110>∥ND方向的织构,但偏聚区奥氏体织构强度较之正常区域弱. 相似文献
13.
14.
15.
本文采用SEM和EBSD等显微分析技术研究了一种N80油套管调质处理(Q&T)前后焊缝组织的演变规律。实验结果表明,经调质处理N80套管焊缝中心区的{101}〈101〉织构明显增强,而热影响区从较弱的{101}〈101〉织构变为较强的近{111}〈101〉织构。并且,焊缝和热影响区组织中取向差角小于10°的小角度晶界和大于50°的大角度晶界数量显著增加,而介于10°-50°之间的晶界数量下降。调质处理前焊缝和热影响区中晶粒尺寸分布较为均匀,而调质处理后主要以小尺寸晶粒为主。 相似文献
16.
17.
Qing-Tang Jiang Matt Nowell Brendan Foran Aaron Frank R. H. Havemann Vijay Parihar R. A. Augur J. D. Luttmer 《Journal of Electronic Materials》2002,31(1):10-15
The microstructures of Cu lines in damascene trenches annealed at temperatures from room temperature to 425°C using both rapid
thermal processing (RTP) and furnace annealing were investigated using an array of characterization techniques including transmission
electron microscopy (TEM), focused ion beam, scanning electron microscopy (SEM), and electron backscatter diffraction-orientation-imaging
microscopy (EBSD-OIM). It was found that the final grain sizes strongly depend on the annealing process used; RTP generated
larger grains than furnace annealing. The Cu line electrical resistance correlated with grain size differences observed for
RTP and furnace anneals. The ramping rate, not the annealing time, played the critical role in the grain growth process. In
either case, a high density of Σ3 coincident site lattice (CSL) twin boundaries was observed in the Cu lines. Forty-five percent
of the grain boundaries measured were found to be Σ3 CSL twins, which are differentiated from random high-angle boundaries
by having preferred electrical and diffusion properties. The minimum feature dimension of width or height of the damascene
trenches limited the average grain size. Prior to the trench height limitation, the average grain size increased linearly
with the trench width. The Cu (111) texture became stronger as the trench width increased up to 0.5 μm; for wider trenches,
the texture did not increase further. 相似文献
18.
两种实验合金(DD00和DD0WR)被设计用于阐明难熔元素W/Re对镍基单晶高温合金再结晶行为的影响。对比DD00合金,加入W/Re的DD0WR合金的再结晶形核阶段被延长,晶粒长大速率减慢,这也意味着DD0WR合金的再结晶行为明显受到抑制。通过透射电镜(TEM)明场像观察,随着热处理时间地延长,DD0WR合金的位错密度消除得更慢。结合TEM中扫描透射电子显微探测器(STEM)和X射线能谱仪(EDS)观察发现,在DD0WR合金中,位错和晶界处有W/Re元素富集。据此可知,对于DD0WR合金,由于难熔元素W/Re在位错和晶界处富集,阻碍了位错运动和晶界迁移,有效地抑制了再结晶的发生。 相似文献