多变量灰色模型MGM（1,n）在电磁继电器特性参数分析中的应用研究

触点电接触特性参数的变化可以反映触点电接触性能的变化,以 HH52P 电磁继电器为例进行电接触特性参数检测试验,监测了触点动态接触电阻、静态接触电阻、弹跳时间、稳定时间等特性参数,提取与触点动作次数灰色关联度大的参数建立触点电接触特性参数多变量灰色预测模型。利用试验数据分析了多变量灰色模型的预测精度,并与单变量预测模型对比。结果表明,进行灰色关联度分析之后进行建模的多变量灰色模型能够更好地描述触点电接触特性参数变化情况。     

常用触点材料表面腐蚀物微动电特性研究

针对常用连接器触点材料(镀金、镀镍、镀锡),研究工业环境对其表面的腐蚀性及对触点微动电特性的影响。经过长期室内自然暴露后,镀金、镀镍、镀锡表面生成了离散的呈岛状分布的腐蚀产物。在腐蚀产物上进行了微动实验,发现在自然腐蚀产物的表面初始电阻高于通常的失效标准(10 mW),有的甚至达到1 W。当岛状腐蚀产物在微动过程中被逐渐磨掉后,接触电阻也由跳动渐渐降低至有效值。而当磨损碎屑堆积在微动痕迹附近,或接触表面之间嵌入尘土颗粒,或者在接触区内的腐蚀产物经微动后反而被挤压得更致密时,接触电阻会升高,甚至开路,造成电接触失效。腐蚀产物在微动中的去除与腐蚀物形貌及其机械特性直接相关。     

计算机键盘开关用复合弱电触点材料的研制

本文简述了键盘开关用Ａｕ／Ａｇ／ＱＳｎ８－０．３复合弱电触点材料的研制工艺，产品经装机试验，寿命超过１２００万次，接触电阻小于１０ｍΩ，完全可以替代德国进口产品，满足了键盘开关用复合弱电触点材料国产化的要求。     

开关通断显示器

开关通断显示器是一种能直接显示触点开关(或熔丝)通断状态的新型电子器件.开关通时,两端电压为OV(接触电阻忽略不计);开关断时,开关两端有一定的电压降.利用开关通断的这一特点,通过电子电路识别,并用绿、红两只发光二极管来显示其通断状态,这就是开关通断显示器.其电路原理如图1所示.     

远距离三线RTD—实现系统精确测量

在用多路三线电阻式温度检测器(RTD)进行系统检测时，为保证测量精度，需消除误差电压。此误差电压是由流过多路复用器接触电阻的RTD感应电流产生的，通过合理设计即可消除。因为RTD远离监测系统，设计时必需考虑导线上的电阻电压降引起的误差。图1给出了不产生附加误差的任意多个三线RTD监测电路。图1所示为8个RTD的监测电路图，其中每个RTD有四个单刀单掷CMOS开关与其相连：SW1a~SW1d与RTD＃1相连，依此类推， SW8a~SW8d与RTD＃8相连。与每个RTD相连的四个开关不会出现同时打开或关闭状态。图1中ADG711包括四个开关，因…     

触点初始接触电阻的分布特征与寿命相关性研究

为实现用初始信息来预测继电器产品的寿命,在继电器电寿命试验的基础上,提出用核概率密度估计法和多项式拟合法对触点初始接触电阻的分布特征进行分析,并研究了初始接触电阻与寿命的相关性。研究结果表明:各个继电器初始接触电阻的变化趋势不同,起伏不定。当初始接触电阻连续出现大电阻值后,即使接触电阻随后重新回到正常值,继电器仍会很快发生失效,寿命较短;继电器初始接触电阻拟合曲线的最大值与寿命之间呈现近似线性关系。     

通信系统中“电触点”对信号传输的影响

通信系统中电触点不良会造成对信号传输的影响。根据电接触理论结合高频传输的特点, 建立了电触点的物理模型, 研究发现当接触电阻大于传输线特性阻抗的两倍时, 接收端得到的信号幅度将减小一半以上（Ａ＜ １／４）, 从而将产生误码, 因而应尽可能减小接触阻抗     

触点镀金材料的自然腐蚀和电接触特性研究

由于国内环境污染严重,镀金表面经过长期室内自然暴露后生成了大量呈岛状离散分布的腐蚀物。腐蚀物由处于中心的腐蚀核及环绕的腐蚀晕圈组成,腐蚀核下是微孔。在镀金表面的腐蚀物上进行微动试验,发现较薄的腐蚀晕圈同样会造成高且波动的接触电阻,随微动周期增加,腐蚀物被推开后电阻降低。加大接触正压力,初始接触电阻降低,波动减弱,较少微动周期后电阻降为正常值。由于腐蚀晕圈远大于腐蚀核在表面覆盖的面积,因此腐蚀晕圈上的高电阻及其不稳定性造成电接触失效概率大大提高。     

基于计算机并口的继电器电触点材料性能检测系统

新型铜基电接触材料可被用来作为银基电接触材料的替代产品,对其工作进行客观的预测与评估,是产品应用与发展的关键环节。为了检测触头材料元件的使用寿命与性能及电流之间的关系,针对电触点接触材料特性,设计出一套多通道、低成本、界面友好的电触点接触特性检测系统,并配合专门设计的操作软件,调用WINIO函数操作计算机并口,实现自动检测和数据采集分析的功能,从而获取电触点材料的寿命特性曲线。     

长寿命、多用途的簧片开关和继电器

在讨论有关开关的话题时,簧片开关常常为人们所忽视。基本的簧片开关结构是一个两端引出引线的玻璃管。在玻璃管内的两根引线构成电触点结构。这些引线或触点相互间的隔离气隙为0.001英寸。电流或电压的通断控制通过磁场实现。今天所使用的大多数簧片开关,其玻璃管长度范围是10mm~20mm,直径约为2mm。Hasco公司近来销售的一种簧片开关,其基体材料是镍/铁,其上镀有金和铑。为了确保循环寿命达到数千万次的水平,或者保证数年的储藏期,制造者要用特殊工艺对引线进行处理,除去各种杂质。这可以避免玻璃管中的引线间出现接触电阻。触点密封在充满…     

一种无触点电接点压力表的实现

电接点压力表在其控制开关处易产生电火花致使开关触点炭化和腐蚀,从而影响其使用寿命和可靠性差。针对普通电接点压力表这一缺陷,提出一种无触点电接点压力表的设计方案。通过改变传统机械触点控制开关的结构,采用全电子化无触点开关可消除仪表在工作过程中产生的电火花,延长仪表的使用寿命,提高仪表的开关速度和可靠性。普通电接点压力表经改装后进行试验,测试结果验证了此方案的可行性。除一般场合外,该方案还可直接用于易燃易爆等特殊场合。     

毛刷电接触对的接触电阻研究

基于R.holm电接触理论建立了毛刷电接触对的接触电阻模型。采用有限元仿真确定了毛刷电接触对在插拔过程中只有弹性变形,并得到了接触电阻模型中的M值为1/2,进行了毛刷电接触对不同插拔深度上的接触电阻试验,通过试验数据拟合确定了毛刷电接触接触电阻模型中的K值为248。进行了毛刷、麻花针、线簧孔接触对在不同插拔深度的接触电阻对比试验,得到了毛刷电接触插拔深度的最优范围为2~2.2 mm,进行了毛刷电接触在2~2.2mm插拔深度时接触电阻寿命试验,基于接触电阻寿命曲线提出了预插拔工艺以提高接触电阻及插拔力的稳定性。毛刷电接触接触电阻研究为毛刷电接触的扩展设计、制造提供了参考。     

计算机不能冷启动的故障检修

有一台计算机最近出现不能冷启动的故障，打开计算机电源开关后，计算机不能立即启动进人系统，需等待十几分钟或更长时间才能恢复正常工作。首先怀疑可能是电源按钮开关接触不良所引起故障，但用万用表检查电源开关触点后，发现开关触点接触良好，再检查电脑硬件的各个接插件，均接触良好。再重点检查计算机开关电源部分，先用替换法，用好的开关电源组件更换原开关电源组件，打开计算机电源开关，电脑工作正常，故障确认在原开关电源部分。将拆下的有故障的开关电源接上假负载，即在SV与12V各接人5V0．3A、12VO．3A电珠，需注意开关电…     

继电器触点接触电阻偏大的失效机理研究

本文用试验的方法研究了继电器触点接触电阻增大的失效机理.试验中分别用扫描电镜和X射线能谱仪观察失效样和正常样的触点形貌并分析触点表面的元素成份,再用红外光谱仪验证了触点污染物的来源.根据试验的分析结果,讨论了触点失效的机理,并提出了改进的建议和可行的措施.本文对继电器失效的理论和模拟研究具有较大的参考价值,同时为改进触点材料和工艺制造过程提供试验依据.     

一种L～Ka波段的双边多触点型RF MEMS单刀六掷开关

目前通讯、导航等领域对单刀多掷开关有广泛的需求，而此类开关存在体积大、工作频带窄、插入损耗大、隔离度低等问题。文章设计了一种串联接触式双边多触点型RF MEMS单刀六掷开关。开关的下电极上设有三个圆形触点，远端连接有喇叭状过渡带，其上是带有带状孔的“X”形上电极，通过减小接触电阻和耦合电容来改善射频性能。经HFSS软件仿真优化，该开关工作频率可覆盖L～Ka波段，且在26.5 GHz下，插入损耗≤0.3 dB,隔离度≥37 dB,性能良好，尺寸为1.05×1.05×0.5 mm³。结果表明，设计的单刀六掷开关射频性能具有较大优势，同时满足小型化的要求，因此在L～Ka波段的导航、认知无线网络以及微波测试等领域具有较大的应用前景。     

砷化镓基毫米波MEMS开关表面工艺研究

研究了砷化镓基毫米波MEMS开关的表面工艺方法,包括MEMS开关的工艺流程中的牺牲层技术、结构层技术、触点技术、薄膜电阻技术。重点阐述了以光敏聚酰亚胺作牺牲层和以电镀金作结构层的工艺制作方法。形成了砷化镓RF MEMS开关表面工艺流程,制作出了RF MEMS开关样品。开关驱动电压为60 V,35 GHz时的插入损耗<0.2 dB,隔离度>18 dB。     

开关通断显示器

开关通断显示器是一种能直接显示触点开关(或熔丝)通断状态的新型电子器件。开关通时,两端电压为0V(接触电阻忽略不计);开关断时,开关两端有一定的电压降。利用开关通断的这一特点,通过电子电路识别,并用绿、红两只发光二极管来显示其通断状态,这就是开关通断显示器。其电路原理如图1所示。图中,A、B两端接电源(交流或直流),S为开关,K为继电器(或其它用电器)。虚线框内的部分是开关通断显示器,第①脚接开关S始端,第②脚接开     

连接器失效成因探讨

借助实际案例,通过外观目检、金相切片和扫描电子显微镜（SEM）等物理分析手段,研究了连接器互联电阻变大导致连接器失效的成因。结果表明：公端负极触点与母端金属片没有很好地接触在一起,间隙略微偏大,长期使用过程中,连接器接口偏大可能导致接触电阻增大,该处温度升高发烫,触点金属熔融并伴随一定程度的氧化,进而导致触点发黑,接触电阻进一步增大,最终导致连接器失效。     

降低继电器功耗的模拟开关

设计师们常常把继电器用作电气控制的开关。与晶体管不同,继电器开关的触点是与控制输入端电隔离的。然而,继电器线圈中的功耗会使继电器在电池供电的应用场合中失去魅力。你只要增加一个能使继电器在较低电压下工作的模拟开关,便可降低这一功耗(图1)。     

便携式通讯终端中电触点磨损的研究

分析了便携式通讯终端中PCB镀金电触点的表面磨损情况。连接器簧片与PCB触点之间相对运动造成的磨损加剧了污染,是造成接触失效的主要原因之一。磨损过程为先粘结再擦伤,最后镀金层被磨穿。磨损碎屑被逐渐推到磨损区端部与尘土、摩擦聚合物混合聚集在一起。触点表面磨损的主要方向和磨损区尺寸取决于触点的配合结构。研究结果为建立便携式通讯终端中镀金电触点失效模拟奠定了基础。