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物理不可克隆函数(Physical Unclonable Functions, PUF)是一种用于保护集成电路芯片安全的新方法。传统的基于振荡器的PUF在产生响应过程中振荡器的振荡频率固定不变,因此存在着被攻击的隐患。该文提出一种新的利用多频率段的PUF(Multiple Frequency Slots based PUF, MFS-PUF)来解决这个问题,通过可配置的振荡器,每产生一位响应,振荡器的振荡频率便发生转移。在每一种振荡频率下,由于不可避免地制造差异,振荡器之间的频率会有微小差别,这些略有差异的频率组成了一个频率段(frequency slot),整个系统中则存在着多个频率段。各个频率段之间随机转变,相比于传统的基于振荡器的PUF,系统输入输出响应对(Challenge-Response Pairs, CRPs)的值更大,也更加不可预测,这使得攻击者使用建模攻击的复杂度大大增加,在保证了自身性能的同时增强了本身的安全性。 相似文献
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扫描结构在给密码芯片增加可测性的同时也可能被不当使用为旁路攻击路径,使密码芯片的密钥信息泄露.为解决这个问题,提出一种前馈异或安全扫描结构.首先将异或安全扫描寄存器引入扫描结构中,该结构对测试图形进行输入?输出线性变换,实现对测试图形的硬件加密;然后分析了该结构的安全性并给出其测试图形生成算法.实验结果表明,文中提出的安全扫描结构能抗击基于扫描结构的旁路攻击和复位攻击,并保留了传统扫描结构的高测试覆盖率. 相似文献
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当半导体工业进入到超深亚微米时代后,标准单元的设计面临着新的挑战.由于亚波长光刻的使用,图形转移质量将严重下降.在这种情况下,以集成电路的可制造性作为目标的"可制造性设计"方法在标准单元设计中变得至关重要.本文分析了超深亚微米与纳米工艺条件下标准单元设计中遇到的一些典型可制造性问题,提出了相应的新设计规则和解决方案,完成了实际90nm工艺下标准单元的可制造性设计工作.同时,文中提出了包括光刻模拟、测试电路组等技术在内的单元可制造性设计和验证的流程. 相似文献
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针对劳动密集型企业内迁选址问题,综合应用网络层次分析法(ANP)、证据理论(D-STheory)以及理想点法(TOPSIS)来进行厂址的选择决策。其中ANP主要刻画厂址评价指标之间的复杂关系及权重计算,D-STheory用于处理不完全信息条件下多个评价者对不同候选厂址的不同评价方案的信息融合,而理想点法(TOPSIS)则结合D-STheory用于最终候选厂址的排序。研究结果表明,基于ANP/D-S/TOPSIS的劳动密集型企业内迁选址决策方法不仅在理论上有所集成创新,而且在实际应用中可以有效解决劳动密集型企业内迁选址的诸多问题。 相似文献