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为了模拟复杂回波信号,设计一种程控阵列信号源;下位机采用数字信号处理芯片TMS320VC5502作为信号源的硬件平台核心,结合DDS技术采用软件编程的方法实现信号源的输出;通过设计通信接口以及定义通行协议,上位机通过操作PXI-6508模块,实现对阵列信号源的程控输出;实验表明,该阵列信号源能同步触发输出96路阵列信号,也能单独输出一路或几路信号,样点率达400kSa/s,输出信号种类有正弦波、方波、三正弦叠加波和调频波等波形。 相似文献
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阐述了将混合蛙跳算法应用在时序电路自动测试生成的实现方法和结果;根据时序电路自身的结构特点,构造了测试生成的混合蛙跳表达方式,设计了自动测试生成离散混合蛙跳模型,通过群体中青蛙间的合作和竞争产生的群智能指导快速优化收敛;最后,根据国际标准时序电路进行了验证试验;结果表明,与同类算法相比,该算法获得了较小的测试集和较高的故障覆盖率。 相似文献
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路径分配是NoC设计流程中的两个关键步骤之一;路径分配的结果对NoC系统的性能尤其是通讯延时有着很重要的影响;多约束条件下的NoC路径分配问题是NP完全问题,要求出其最优解比较困难,目前常用的方法是利用启发式算法求得其较优解;文中提出一种基于云自适应遗传算法的NoC路径分配解决方案,该算法利用云模型对传统遗传算法加以改进,采取新的方法自动调整遗传算法过程中的交叉概率pc和变异概率pm,将适应度与云模型的3个参数Ex、En、He相互结合,从而达到优化遗传算法的目的;将此算法应用于2D-Mesh拓扑结构的NoC中,以平衡链路负载和联合优化为实验目标,以优化静态通讯分配结果;实验证明,文章所采取的算法在平衡链路负载和联合优化方面均取得了良好的效果。 相似文献
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本文论述了将粒子群算法应用在时序电路自动测试生成的研究结果。结合时序电路的特点,构造测试生成的粒子表达方式,建立自动测试生成离散粒子群速度-位置模型,通过群体中粒子间的合作与竞争产生的群体智能指导优化搜索。针对国际标准时序电路的验证结果表明,与同类算法相比,该算法可以获得较高的故障覆盖率和较小的测试矢量集。 相似文献
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针对三维片上网络(3D NoC)中IP核并行测试任务复杂、测试效率较低的问题,结合3D NoC测试的特点建立了一种时间Petri网模型,将变迁激发序列作为并行测试任务规划方案。为了获得最短的测试时间,设计拆分编码,在测试路径分配基础上进行顺序调度优化,采用两级递阶蝙蝠算法对变迁激发序列集进行搜索,将测试资源合理有效的分配给各IP核。仿真结果表明,所提模型可以有效地描述3D NoC测试规划问题,算法能够以较大的收敛概率迅速收敛到最优解,缩短了测试时间,提高了测试效率。 相似文献
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高等教育从精英教育向大众化教育的转变,要求高等院校必须深化学科建设与教学改革。作为高等院校重要组成部分的基层单位,其改革的成功与否会直接影响到整个学校的改革。为此,我们就基层的教学改革环境建设,提出建立一个以"教授治学"为核心的良好的教育生态圈,要求教师不断从事革新和变革的工作,从而为保证和提高扩招后的教学质量打下基础,以适应经济建设发展的需要。 相似文献
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SoC(system on chip)中的测试封装(test wrapper)设计是个NP hard问题,针对该问题提出了一种采用MOFA(multiobjective firefly algorithm)的三维测试封装扫描链设计方法,使得封装扫描链均衡化以及使用TSV(through silicon vias)资源最少,从而达到IP核测试时间最小化和TSV费用最少的目的。本算法基于群体智能,通过实施个体位置更新操作进行寻优,从而实现三维测试封装扫描链的多目标优化设计。以ITC'02 Test benchmarks中的典型IP核为实验对象,实验结果表明本算法相比NSGAII(nondominated sorting genetic algorithm II),能够获得更好的Pateto最优解集。 相似文献
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数字微流控生物芯片的稳定性和安全性在生化实验中具有很高的要求,为保证实验结果的准确,需要对芯片进行检测。通过分析芯片结构、实验液滴的路径,提出一种基于粒子群算法的针对数字微流控芯片灾难性故障在线测试路径优化方案。通过自适应调整算法惯性权值,设置算法的收敛速度因子和解的聚集程度因子,将收敛速度和局部解聚集程度可视化改进算法。增加液滴移动序列的交换机制,在芯片的约束条件下规划测试液滴的移动路径,从而缩短测试路径长度。仿真实验选择15×15阵列模型、7×11阵列模型、7×7阵列模型进行仿真实验,结果表明,该方案完成了对芯片的测试,提高了算法收敛速度,并有效缩短了测试路径,提高测试效率。 相似文献
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光片上网络(photonic network-on-chip,PNoC)是下一代片上网络互联的趋势和典范,MRR(microring resonator)是PNoC中的关键器件,然而由于制造缺陷,且MRR对温度波动高度敏感,MRR极易发生故障,如何检测MRR故障是十分重要并亟待解决的问题。针对该问题提出了一种基于故障检测图的MRR故障检测方法,将n端口的光路由器建模为完全加权有向图并且建立MRR故障模型,通过完全加权有向图与故障模拟,确定基于MRR故障模型和故障检测图的故障检测方法。实验结果证明,在单故障和双故障模拟下,该方法均能够获得满意的故障覆盖率。 相似文献