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考虑大容量存储器测试的严格性和测试时间的可行性,对16K位以上的存储器用N~(8/2)次型测试图案是非常必要的。本文结合某测试系统,分析了实现N~(8/2)型图案的可行性,给出了三种移动对角线走步的程序流程。其中指计法可得到最少的空操作。也给出了行列走步测试程序流程。由于LSI8测试系统结构的限制,不能方便地实现行列乒乓和行列跳步写恢复图案。给出了列跳步的程序流程,但是有约N~(8/2)次空操作。行乒乓只能通过CPU干预将行、列地址互换的办法实现。并给出了列跳步写恢复的程序流程。由于地址编码器位数的限制,LSI8测试系统不能实现邻位打扰图案。根据LSI8测试系统实现N~(8/2)次型图案的局限性;对存储器图形发生器的要求进行了讨论。 相似文献
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众所周知,自七十年代初著名的1103MOS存储器问世以来,MOS存储器取得了迅速的发展,国外已经大量地采用MOS RAM作为计算机的主存。近几年来国内的一些半导体制造厂家也已小批量生产集成度为1024×1 相似文献
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D_2EHDTPA萃取钯的研究 总被引:3,自引:0,他引:3
介绍在盐酸介质中,用二(2-乙基己基)二硫代磷酸萃取钯的条件,用连续变化法和饱和容量法测定萃合物的组成,通过红外光谱和核磁共振谱研究萃取反应的机理。 相似文献
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文中分析了半导体MOS随机存贮器RAM的测试特点和产生失效的原因及类型(软失效和硬失效)。并且分析了易于产生失效的外界条件。以及如何在筛选测试中选择对器件灵敏的测试图型,并指出在高温条件下对器件采用临界定时测试及边界失效曲线的测试方法和优点,以及对器件测试的严格性。 相似文献
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本文介绍了对MOS随机存储器几种常用的测试图案和测量方法,分析了下雨检验法的图案规律性,提出了用逻辑线路产生下雨检验标准码。详细地讲述了用硬件实现这些测试方法和复杂图案的具体线路。 相似文献
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本文着重分析LSI通用测试系统图形发生器的特点。该测试系统的算法图形发生器与随机逻辑图形发生器共用一个指令控制器,从而允许这两种图形混合使用,增加了一种压缩图形数据的能力。图形发生器的时钟分级、三态控制和选通屏蔽等由实时控制位控制。分析了算法图形发生器各个主要部件的功能,以及逻辑设计的一些主要特点。 相似文献