纳米分辨近场光学显微成象技术现状

介绍了纳米分辨近场光学显微成象技术现状,近场光学显微成象技术大体可分为小孔扫描近场光学显微镜（Ａ－ＳＮＯＭ）、无孔径用射扫描近光学显微镜（Ｓ－ＳＮＯＭ）和光子扫描隧道显微镜（ＰＳＴＭ）三种基本类型,除介绍这三类近场光学显微镜简要成象原理、现状和各自特点外,还重点介绍了大连理工大学纳米成象技术研究组ＰＳＴＭ的研究进展,即ＰＳＴＭ消假象数值模拟和实验研究结果,其实验空间分辨首次达到２．８ｎｍ线扩展函数     

利用镀银膜的四面锥尖实现纳米尺度聚焦光斑的数值模拟

利用（FD）^2TD方法对全镀金属膜四面锥尖端近场的光增强分布进行了数值模拟,结果表明在平行光束从全镀金属膜四面锥底面入射条件下,尖端近场可以获得纳米尺度的聚焦光斑,并且光场可以得到较大的增强。     

纳米分辨PSTM光学显微镜

本文介绍PSTM成象原理；指出第一代PSTM中存在假象，介绍消除假象的图象分解PSTM发明专利；最后，分析PSTM的特点和预测纳米分辨PSTM光学显微镜产业发展前景。     

近场拉曼技术发展概述

本文介绍了一种新兴的超分辨光谱技术——近场拉曼散射技术。结合国内外的有关近场拉曼的文献,详细介绍了其实验和理论发展近况,针对近场拉曼的特性,分析了近场拉曼的光谱特点。     

PSTM 用于Al_2O_3光波导薄膜的研究

利用光子扫描隧道显微镜 (PSTM)检测研究 Al2 O3光波导薄膜及其制备工艺。分析了不同温度条件下采用离子束增强沉积工艺制备的 Al2 O3光波导薄膜 PSTM图像。结果表明 :适当的增加基片的温度可以减小散射损耗 ,改善 Al2 O3光波导薄膜的性能     

光子扫描隧道显微镜光子隧穿可视化数值模拟

提出了一种新的入射波设置“三波法”,即将光子扫描隧道显微镜(PSTM)系统中的入射波、全内反射波和透射的隐失波同时设置为时域有限差分(FDTD)计算区域的入射源,克服了PSTM中应用FDTD所遇到的存在样品台(分层界面)和全内反射等困难。给出了PSTM中探针针尖与样品相互作用和光子隧穿的物理图像。模拟了PSTM探针等高扫描过程。给出了PSTM图像,比较了单光束照射与π对称照射等高度扫描曲线的不同,前者有一定的偏移,后者可纠正偏移。     

PZT电滞曲线和回零偏差的测量及其对扫描成像的影响

本文利用迈氏干涉法测量压电陶瓷扫描头（ＰＺＴ）的电滞曲线和灵敏度因子。作出了ＰＺＴ的电滞曲线,得到了灵敏度因子,测出了由电滞特性造成的扫描头不同电压正负回零偏差,讨论了ＰＺＴ的电滞特性对样吕形貌图像的影响及减小的方法。     

磁控溅射生长CdxZn1-xO薄膜的表面形貌、结晶特性和光学性能研究

本文采用射频反应磁控溅射方法,在Si（100）上制备了不同Cd含量的Cd,Zn1-xO的薄膜。利用电子探针（EPMA）、原子力显微镜（AFM）和X射线衍射（XRD）对薄膜的成分、表面形貌和晶体结构进行系统表征。结果表明：CdxZn1-xO（0≤x≤0.179）薄膜具有C轴择优取向,随着Cd含量增加,薄膜半峰宽（FWHM）变大,表面粗糙度增加,当x=0.108时出现相分离。透射光谱测试表明,通过调节Cd含量实现了对Cd,Zn1-xO的薄膜能带的调节。     

多层系统周期样品PSTM消假像微扰近似

本文利用一级微扰近似方法对三层系统（样品台－样品－空气）表面周期起伏样品采用π－对称双激光束照射得到等强度和等高度扫描的数值模拟近场强度图像。通过与单激光束照射图像比较,作者看到双激光束照射下的一级微扰图像能够除去由样品表面起伏的微扰而产生的动量局域偏移,也可减少由表面倾角引起的假像。此三层系统起伏样品能够较真实地模拟实验,对PSTM的实际探测有一定的指导意义。     

镀银膜光探针尖与银粒子间场增强最佳条件的FDTD模拟研究

本文利用时域有限差分法(FDTD)模拟了在p极化平面波侧向照射下,扫描近场光学显微镜镀银膜四面锥形探针扫描直径30纳米银球"热点"处的电场增强因子及最佳条件.我们得出了膜厚和探针与银球之间间隙的最佳条件:间隙3纳米时最佳膜厚为20～50纳米,此时的场增强因子最强为70左右;膜厚30纳米时,间距1纳米增强因子最强为298.