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The fracture behaviour and morphologies of high-strength boron steel were investigated at different temperatures at a constant strain rate of 0.1 s-1 based on isothermal tensile tests. Fracture mechanisms were also analyzed based on the relationship between microstructure transformation and continuous cooling transformation(CCT) curves. It is found that 1) fractures of the investigated steel at high temperatures are dimple fractures; 2) the deformation of high-strength boron steel at high temperatures accelerates diffusion transformations; thus, to obtain full martensite, a higher cooling rate is needed; and 3) the investigated steel has the best plasticity when the deformation temperature is 750 °C. 相似文献
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无源光网络(Passive Optical Network,PON)作为当今接入网的主要技术解决方案,具有带宽使用效率高、传输距离远、抗干扰能力强等特点.通过研究PON技术的发展动态,本文首先归纳了各种PON技术的产生背景和应用特点,整理出各技术间的连接关系及主要标准;其次介绍了PON技术的帧结构,并对带宽、波长、传输模式等PON技术的主要参数进行了汇总;然后将国内外研究热点进行划分,围绕媒体访问控制协议、帧结构、动态带宽分配算法、节能机制等关键技术,阐述了其研究现状及在PON中的重要作用;最后对PON技术的发展趋势进行了展望. 相似文献
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In this paper we investigated the BER performance of DS-CDMA using various chip-waveforms, which include three time-limited chip-waveforms and two band-limited chip-waveforms. Closed-form formulae were derived for evaluating the achievable bit-error rate performance with the aid of the standard Gaussian approximation, when communicating over a Nakagami-m channel. The time-limited waveforms impose a low implementational complexity, since they maybe over sampled and read from a look-up table. However, they are outperformed by the frequency-domain raised-cosine waveform as well as the optimum waveform specifically designed by Cho and Lehnert for achieving the lowest possible bit error rate 相似文献
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采用溶剂热法制备了硅基介孔分子筛材料,较系统地考察了晶化温度、晶化时间及焙烧温度等因素对其结构的影响,并利用N2吸附手段进行了表征.结果表明,晶化温度和晶化时间能明显影响硅基介孔材料的结构,而过高的焙烧温度易导致介孔结构的塌陷. 相似文献
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采用超高真空电子束蒸发法制备了新型高 K栅介质-非晶 ZrO2薄膜. X射线光电子能谱 (XPS) 中 Zr3d5/2 和 Zr3d3/2 对应的结合能分别为 182.1eV和 184.3eV, Zr元素的主要存在形式为 Zr4+,说明薄膜由完全氧化的 ZrO2组成 ,并且纵向分布均一.扩展电阻法( SRP)显示 ZrO2薄膜的 电阻率在 108Ω@ cm以上,通过高分辨率透射电镜( HR- XTEM)可以观察 ZrO2/Si界面陡直,没有 界面反应产物 ,证明 600℃快速退火后 ZrO2薄膜是非晶结构.原子力显微镜( AFM)表征了薄膜的 表面粗糙度,所有样品表面都很平整,其中 600℃快速退火样品 (RTA)的 RMS为 0.480nm. 相似文献