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热辅助光诱导衰减(LeTID)作为一种不可忽视的太阳电池效率衰减现象,其衰减机制和相关缺陷形态的演变过程亟需澄清。针对p型多晶硅钝化发射极局域接触(PERC)太阳电池,研究在不同光照强度下的衰减规律,光照促进了衰减-再生反应的进行,衰减程度随光照强度减小而增大。对衰减起主导作用的是由LeTID过程中产生的体内深能级缺陷导致的SRH复合,该缺陷中心的电子与空穴俘获截面之比k 值在33~37范围内,而对衰减影响较小的浅能级缺陷可能是k 值在0.1~1.0之间的Fe—B复合物。 相似文献
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