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拍长和折射率是表征保偏光纤产品性能的重要指标,随着保偏光纤在光纤通信和光纤传感等领域的广泛应用,对拍长和折射率参数的准确测量十分重要。基于白光干涉技术研制了保偏光纤拍长测量装置,通过测量保偏光纤上两个应力点之间的几何长度和对应耦合点之间的光学长度,实现了拍长的高精度测量,重复性优于4μm。基于数字全息显微层析成像技术,研制了保偏光纤折射率测量装置,通过记录不同旋转角度下的数字全息图,经滤波反投影处理后重建保偏光纤的二维横截面的折射率分布,实现了折射率的高精度测量,重复性优于10-4。 相似文献
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由电子41所研制的红外焦平面阵列相对光谱响应测试系统采用单光路标准替代法进行测量,系统组成灵活并可扩展,配合自行研制的图形发生器,偏置,时钟驱动、数据采集子系统,可以满足不同被测器件的需要。 相似文献
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主要介绍了一套高精度光纤色散测试系统,系统采用频域相移法测量光纤的零色散波长以减小系统误差的影响,其零色散波长测量不确定度达到了0.11nm(k=2)。 相似文献
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基于N光子纠缠量子成像的分辨率优势,设计了一种通用的多光子纠缠N00N态的超分辨量子成像系统,理论上成像分辨率可实现■倍的增加,成像系统的分辨率得到大幅提升。针对N00N态探测效率过低的问题,利用光学质心测量方法,保留所有探测情况,在不需要所有光子到达空间同一点的情况下,通过光子计数和适当的后处理,实现了任意数量光子下成像分辨率的提高。相较于N光子吸收方案,该方法的理论效率增加了DN-1(假设有D个像素)。所提方案可以产生具有高保真度和高稳定性(数天内保持稳定)的N00N态,有利于拓展N00N态的应用范围。所设计的系统在超分辨量子成像领域中具有较好的应用价值。 相似文献
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介绍了一种新型的单模光纤模场直径测试系统,它采用国际推荐的基准测试方法-远场扫描法,具有测量精度高、速度快、抗干扰能力强和操作简单的特点,既可用于实验室中,也适合在工厂环境下使用,能够替代同类进口产品。 相似文献
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