排序方式: 共有6条查询结果,搜索用时 0 毫秒
1
1.
2.
掺钕的钇铝石榴石Y_3Al_5O_(12)Nd(YAG/Nd)在位错密度较低时,晶体中心的高折射率心(核心)和色心是它的主要缺陷。用正电子寿命和多普勒增宽线形测量对YAG/Nd晶体进行研究,使用的寿命谱仪对~(60)Co的FWHM约为285ps,源~(22)Na约为10μCi,总计数为1×10~6,以三成分拟合,用Positronfit一Extended程序作数据处理。晶体样品1~#均匀性较差,2~#色心重,3~#和4~#均匀性较好。样品厚均为2mm,1~#、2~#、4~#经1400℃退火处理,降温速率为40℃/h.测量是沿晶体中心向边缘逐点进行。多普勒增宽线形S参数如图1所示。样品1~#的S参数变化无 相似文献
3.
对快速激冷(冷速>180K·s-1)99N82O-B2O3熔盐、B2O3、SiO2、V2O5和Na2O-TiO2熔盐的正电子湮没寿命谱作了测定。结果表明:非过渡金同氧化物的光学碱度A与相应的正电子寿命谱第一组分τ1有很好的线性关系A=0.173τ-1+0.060.据此求得过渡金属氧化物ZnO、TiO2和V2O5的A实验值分别为1.00、0.63和075。 相似文献
4.
5.
本文测定了45钢试样从820℃淬火并经200℃、400℃、600℃和740℃保温1小时后炉冷的正电子寿命谱。实验在一般的快慢符合正电子谱仪上进行。~(22)Na放射源的强度约为20μCi,仪器分辨率300ps左右,总计数约3×10~5。寿命谱的数据处理在微型计算机上进行,程序在单高斯函数拟合分辨函数的基础上作了近似处理,所得结果如图1所示。由图1可见,对于淬火试样,τ_1和τ_2的数值比减接近,I_2>I_1。随着回火温度的增加,τ_1减少I_1增加,τ_2增加I_2减少,这与回火温度增加位错密度和点阵静畸变减少以及空位集中形成空位团相关。 相似文献
6.
本文利用正电子对金属微观结构的敏感性,测定了在不同淬火条件下低碳钢的正电子寿命谱,分析了在A_(c3)以上不同温度加热淬火时,正电子寿命与淬火温度和组织的关系。实验在快慢符合正电子谱仪上进行,用~(60)Co测得的仪器时间分辨率约300ps,道宽44ps,源强约20μCi,谱搜集时间1×10~4秒,总计数3×10~5左右。用微机进行了数据处理,程序按最小二乘迭代法拟合实验谱,并在单高斯函数拟合分辨函数的基础上作了近似处理。配合定量金相法,分析了在两相区却热淬火时,铁素体与马氏体混合组织对正电子寿命的影响(图1—3)。按 相似文献
1