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本文对高热导率电绝缘材料氧化铍进行了分析测试 ,包括对高纯氧化铍粉末的纯度及内含有害杂质的精确测定 ,可对氧化铍陶瓷片的微观结构、晶相、缺陷的分析检测等 ,并对原料不纯和工艺条件控制不当而导致的失效情况进行了分析研究。氧化铍是一种性能极优的高导热绝缘材料 ,它的高频损耗低 ,是制造大功率输能窗、大功率行波管螺旋线夹持杆的首选材料 ,也广泛用作大功率半导体器件的热沉材料、集成电路陶瓷基片和电真空器件的封装管壳。对原材料的纯度进行精确测定 ,可降低成本和损耗 ;对成型、排胶、烧结过程中不同工艺条件下生产的氧化铍陶瓷… 相似文献
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当今电子器件的发展趋势是高密度、多功能、快速化和大功率 ,因此散热问题成为影响功率衰退和器件寿命的关键因素。氧化铍陶瓷的热导率比三氧化二铝陶瓷高一个数量级 ,这是其最为可贵的特性 ,氧化铍陶瓷具有介电常数低、介质损耗小、抗热冲击性好等特点 ,是高频大功率薄膜电路基板的首选材料。薄膜电路导体材料为金 ,金的电阻温度系数小 ,对陶瓷基板有良好的附着性 ,另外为提高金与氧化铍之间的附着力 ,采用镍铬合金作为过渡层[1~ 3 ] 。材料和方法样品为 18mm× 10mm× 0 6mm的氧化铍陶瓷电路基片 ,制作电路的工艺流程为 :基片予处… 相似文献
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采用扫描电子显微镜(SEM)结合X射线能谱仪(EDS)对Sm2Co17型钐钴永磁合金时效处理过程中的显微结构与成分的变化进行分析,揭示该类永磁合金的显微结构在时效过程中随着时效温度和时间的改变而变化的规律,明确正常样品的典型显微结构SEM照片。此方法较光学显微镜的显微结构结果更加准确直观,较透射电子显微镜则有制样简单和分析快速的特点,在产品质量控制中应用效果显著。 相似文献
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采用扫描电子显微镜和X射线能谱仪对掺杂MnZn功率铁氧体断面进行了分析和表征.对比研究了各掺杂剂在微结构中的分布情况,并探论其在微结构形成过程中的作用及对电磁性能的影响.结果表明,掺杂剂在显微结构中的存在形式可分为四类:(1)掺杂剂进入晶格.其阳离子半径和电负性与Mn、Zn、Fe的离子半径相当,发生阳离子置换,如TiO2、CeO2等;(2)富集于晶界.掺杂剂阳离子半径较大,常偏析于晶界处,如CaO、Bi2O3等;(3)一部分进入晶格,一部分滞于晶界.如SnO2、V2O5、MoO3等;(4)掺杂剂与气孔伴生存在,偏聚于晶粒内部较浅的缩孔中,如Nb2O5、P2O5等. 相似文献