BaTiO3基PTC陶瓷Ca掺杂的扫描电镜研究

对ＢａＴｉＯ3基ＰＴＣ陶瓷进行替代掺杂 ,合适的掺杂量会改善ＰＴＣ效应、室温电阻、耐压性能。当掺杂合适的Ｃａ ,可使晶粒尺寸变小 ,均匀性提高 ,从而大大改善其ＰＴＣ材料耐压性能[1] 。对需改善耐压性能的产品 ,可采用此方法。本研究利用ＴＮ5 40 0能谱仪和ＤＸ -3扫描电镜对掺杂Ｃａ的ＢａＴｉＯ3基ＰＴＣ陶瓷进行观察分析 ,研究掺杂Ｃａ与ＰＴＣ陶瓷微观结构关系 ,Ｃａ在晶粒、晶界分布情况及其分布与耐压性能 ,瓷体表面状况的关系。此研究有助于改善ＰＴＣ耐压性能和调控ＰＴＣ生产工艺。使用ＴＮ5 40 0能谱仪及ＤＸ -3电镜在工作电…     

多层共烧元件界面研究的现状与展望

通过调研国内外多层陶瓷元件界面的研究现状,并结合自身工作,分析了在制备过程中多层陶瓷元件界面所存在的关键问题及其难点:共烧匹配性、扩散、结合性能等,提出了相应的控制措施,展望了其发展方向.并介绍了主导烧结曲线(MSC)、有限成分法(FEM)等相关的理论模型.这些都是有效控制界面品质,获得高性能多层陶瓷元件的关键.     

行波管用阴极表面黑斑现象的电子显微分析

针对行波管用阴极表面异常的黑斑现象,利用扫描电镜( SEM)和X射线能谱仪(EDS)对阴极的不同微区进行了对比分析,查找黑斑产生的原因,并对其对阴极发射性能造成的影响进行了探讨.结果表明,行波管内真空度下降,阴极中的发射物质与空气中的水汽和氧气反应,随着工作时间的延长,最终导致黑斑的出现.黑斑的出现严重影响阴极的发射性能,这对行波管的封装可靠性提出了较高的要求.     

稀土钴永磁体微观分析案例及图谱库的设计与实现

在长期的稀土钴永磁材料研制和微观分析测试工作中,积累了大量分析研究案例和典型图谱。针对这些资料的有效存储和合理利用问题,利用Access为后台数据仓库,C#为开发语言,设计开发了稀土钴永磁体微观分析案例及图谱库,并将典型案例从材料、工艺、质量、失效、分析测试方法和其它等方面进行分类整理后添加入库。该数据库的建成和使用,实现了方便、快捷的数据查阅和更新,有助于在后续研制生产过程中快速解决相关问题,提高工作效率。     

多层陶瓷电容器流延瓷膜的原子力显微镜分析

电介质资料流延膜的制作是生产多层陶瓷电容器（MLC）的关键工序，流延膜的平整度，致密性，表面形貌等是影响MLC的性能和可靠性的关键因素之一。原子力显微镜（AFM）可不经导电处理直接观察电介质瓷膜的表面微结构。AFM作为表面形貌观察手段，一般被用来分析晶粒尺寸小和表面平整的样品，一般被用来分析晶粒尺寸小和表面平整的样品，对于大晶粒和粗糙表面的成像质量并不理想。在我们以前粗糙表面的AFM成像研究的基础上，     

原子力显微镜激光光路调整方法

ＣＳＰＭ 930ｂ型多功能扫描探针显微镜经常需要进行手动激光光路调整。该仪器使用说明书[1] 介绍的调整方法可操作性差、手续繁琐、过程冗长 ,且难以判断激光束是否准确照射到微悬臂针尖背面的镀金层上 ,往往造成误判而导致微悬臂针尖被撞断裂。而且 ,按照原有方法操作者需要长时间全神贯注观察激光斑 ,使用者眼睛极易疲劳甚至造成损伤。笔者使用该仪器过程中 ,对光路调整方法进行了大量试验 ,摸索出了一套操作方便 ,容易准确判断针尖位置的有效方法。现总结交流如下。调整方法ＣＳＰＭ 930ｂ扫描探针显微镜ＡＦＭ部分激光光路如图 1所示。…     

Sm_2Co_(17)型永磁材料铸锭金相与成分分析

对两种冷却模具得到的Sm2Co17型永磁材料铸锭进行了全面取样并进行金相与成分分析,确定了该类铸锭中存在富铁钴、富钐铜以及富锆三种析出相,并明确了其相对位置关系和分布规律,对该类材料的研究提供了重要的参考。     

快速和半定量粘土矿物测定法在内华达Cortez金矿中的应用

近年来,利用航空和地面反射率测量方法定性地圈定贵金属矿床周围的热液蚀变岩问题引起了人们的广泛注意,但应用这种技术对蚀变矿物进行定量圈定还没有详细地研究过。本文讨论了用反射率辐射测量法进行粘土矿物识别和定量分析的可能性,并研究了综合光谱的反旋卷的计算机计算方法。用 X射线衍射(XRD)分析了艾伯塔、萨斯喀彻温、安大略和内华达的53个岩石和土壤样品中的粘土矿物,对分析结果与放射性测量法进行了有益的比较。     

微波电路元件中InPbAg合金焊点失效分析

针对微波电路芯片焊接脱落问题,分析了InPbAg合金焊点的微观结构及成分,研究了InPbAg焊料芯片焊接的失效模式.找出了芯片脱落的主要原因:金膜表面污染、划痕、浸润不良、焊接气氛保护不足及应力导致焊点的结合强度不够致使芯片脱落.根据分析提出了改进意见,较好地解决了InPbAg合金焊接芯片脱落问题,支撑了微波电路的生产工艺.