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11.
基于NEC单片机的压力变送器系统   总被引:1,自引:0,他引:1  
系统以NEC单片机为内核单元,将压力信号放大后送入单片机,采用过采样理论、分段线性化的方法对差压曲线进行采样,通过查表的方式获取压力值,并通过16位D/A和V/I外围电路将差压值转换为4~20 mA的电流,采用IIC接口将系统控制字和压力值存储与EEPROM中,并且通过IIC接口实时将压力数据显示在LCD上。测试结果表明,系统功耗低、精度高、便于携带、性能稳定、可靠性高。  相似文献   
12.
13.
在TFT-LCD平板表面缺陷检测中,一维DFT方法非常有效,空间域图像中周期Δx作为关键参数之一,需要准确地获取。传统的Δx的获取是通过人工手动计算得到的,为了自动获取Δx,设计了自动周期选取算法,利用数学统计对一维无缺陷图像进行处理,通过提取峰值位置、排序、计算间距和统计次数,得到准确的Δx。搭建了TFT-LCD平板检测实验系统,实验对不同长度(N=256、320和400)、不同分辨率(8.1、9.5和10.7μm/像素)、不同光照下的图像进行处理,能够准确地获取Δx,准确率达100%。将选取的Δx应用于缺陷检测中,系统可以准确检测出缺陷区域,证明了该选取方法具有良好的实用性和鲁棒性。  相似文献   
14.
针对视觉探头的数控机床在位测量系统,以AutoCAD为开发平台,利用其最新的二次开发工具.NET API,使用C#编程语言,研究开发了一套计算机辅助测量(CAI)系统,该系统主要包括测量元素提取和识别、测量路径规划、测量NC代码生成、测量过程仿真、数据处理和测量结果比对等功能模块。在该CAI系统中,可根据测量任务,通过图形交互的方式生成优化的测量路径,并将其转换为驱动数控机床对工件进行自动测量的NC代码,然后对测量过程进行实时动态模拟,确保测量过程的正确性和安全性,并将测量值与设计值进行比对,提供测量报告。相关实例表明,该CAI系统能有效地提高测量效率,缩短产品的制造周期。  相似文献   
15.
基于频域分析的光学相干显微镜中的色散补偿   总被引:1,自引:0,他引:1  
董敬涛  卢荣胜 《中国激光》2012,39(1):116003-246
提出基于频域分析的色散补偿方法,对光学相干显微镜的干涉信号进行快速傅里叶变换,得到频率幅值极大值对应的平均波数,将提取的解包裹后的相位以平均波数为中心做多项式拟合,得到二阶色散系数。实验中,通过在参考臂中插入不同厚度的色散介质来引入两个干涉臂色散介质的光程差,并求得相应的二阶色散系数。通过最小二乘线性拟合,证实了二阶色散系数和色散介质的相对厚度具有很好的线性关系。根据该线性关系,可以在参考臂中插入适当厚度的色散介质来完全补偿干涉系统的二阶色散。  相似文献   
16.
稳压电源自动测试系统设计   总被引:2,自引:0,他引:2  
稳压电源是雷达各个分系统的重要部分,它直接决定了雷达是否能正常工作.为了解决雷达稳压电源传统指标测试效率低和准确率不高的问题,提出了自动测试的系统设计方法,介绍了稳压电源自动测试系统的组成和功能,阐述了自动测试系统完成测试的过程和数据处理方法,并与传统测试方法进行了比较,展示了自动测试系统的优越性.  相似文献   
17.
为实现线结构光视觉传感器的优化设计,建立了线结构光视觉传感器的像面点与被测空间物体上对应点之间的数学模型,该模型反映了空间被测点与传感器结构参数之间的相互关系.然后基于此模型对线结构光视觉传感器的测量误差进行了分析,得出了线结构光传感器各参数与测量精度之间的关系.在对各设计参数综合分析的基础上,提出了线结构光传感器最优结构参数判据,并给出了优化线结构光传感器结构参数的实例.  相似文献   
18.
精密测量中零件热变形系数研究   总被引:4,自引:0,他引:4  
本文提出了零件热变形系数的概念,初步研究了现代高精度测量中热变形系数与热膨胀系数之间的关系以及对测量精度的影响,指出了传统的热变形误差计算方法严重不足之处,阐明了形体边界条件在零件高精度热变形计算中的影响问题。  相似文献   
19.
介绍了应用广泛的Hough变换检测圆的基本算法,并根据实际被检测对象作了改进,在此基础上,提出了基于视觉检测技术的薄板零件上孔心距的测量方法.该方法能动态、实时、在线检测,抗干扰能力强,精度合适,可达到生产要求.  相似文献   
20.
采用视频引伸计对试样进行轴向拉伸试验时,通过跟踪试样表面两根标线的移动来计算标线之间的距离变化,从而得到试样的拉伸变形。当拉伸时产生非拉伸方向的移动或夹具与试样打滑时,传统标线检测方法会丢失要跟踪的标线、或者偏离标线,引起测量误差。本文在测量材料微应变性能时,采用快速归一化互相关算法对标线进行跟踪,提出了1/8降采样方法来加快矩形框跟踪速度,达到跟踪的实时性要求。同时本文采用双曲正切函数拟合得到亚像素边缘点,在试样表面检测标线边缘,从而完成标线距离的测量。最后本文设计了软硬件系统。实验证明,本系统在保证测量实时性的前提下,实现了亚像素边缘检测。测量最大偏差不超过0.005 mm。  相似文献   
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