基于IDDQ测试的VLSI门内电阻式桥接故障仿真

为真实模拟集成电路中的桥接故障并评价测试集质量,提出一种基于静态电源电流(IDDQ)测试的逻辑电路门内电阻式桥接故障仿真算法.首先,针对该故障类型,提出一种覆盖率评价标准;其次,利用电路级故障注入与仿真方法构造基本逻辑门单元的故障字典;最后,通过在逻辑电路功能仿真中查询故障信息实现门级的故障仿真.仿真实验表明:相比于传统方法,所提方法能更好地反映测试集对真实桥接故障的覆盖效果,并具备良好的仿真效能.     

基于物理注入的模拟电路故障样本选取方法研究

针对当前电子装备测试性验证试验中故障样本选取缺少有效的定量化手段的问题,提出一种综合考虑故障率、严酷度、破坏性和注入费用的模拟电路故障样本选取方法.首先,基于层次分析、敏感性分析、元器件工作参数分析和注入费用分析等方法为上述4个要素分别建立定量模型;然后,构建了一个考虑上述4个要素的综合指标,用于描述故障样本的重要度,并以此作为故障样本选取的依据;最后,通过Pspice仿真对该方法进行了实验应用.仿真结果表明,所提方法可操作性强,适用于测试性验证的工程实践.