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通过电子显微分析,发现在热等静压的TiAl-V-Si合金中有大量的硅化物沿层状结构的相界面析出,这些硅化物为Ti_5Si_3相,通常为近六角形的薄片.Ti_5Si_3相与层状结构基体相(α_2和γ相)间具有如下的固定取向关系[0001]_(Ti_5Si_3)//[0001]_(Ti_3Al),(3120)_(Ti_5Si_3),//(1010)_(Ti_3Al)[0001]_(Ti_5Si_3)//[111]_(TiAl),(4150)_(Ti_5Si_3)//(110)_(TiAl) 相似文献