一种选择折叠计数状态转移的BIST方案

提出了一种选择折叠计数状态转移的BIST方案,它是在基于折叠计数器的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,并通过选定的存储折叠距离来控制确定的测试模式生成,使得产生的测试模式集与原测试集相等.既解决了测试集的压缩,又克服了不同种子所生成的测试模式之间的重叠、冗余.实验结果证明,建议的方案不仅具有较高的测试数据压缩率,而且能够非常有效地减少测试应用时间,平均测试应用时间仅仅是类似方案的4％.     

一种多X值输入下测试覆盖率损失的预测方法

在集成电路的设计和测试过程中,黑盒模块,未初始化的时序单元,时钟域交叉和A/D转换器的错误行为等情况常常会导致电路中未知值X的出现.电路中X值的传播会严重影响故障的激活和敏化,降低测试覆盖率.针对电路多个输入为X值的情况,本文提出了一种的基于极端随机树算法的测试覆盖率损失的预测方法.通过对电路进行仿真分析,区域划分,提取结构特征等步骤提取出数据集,训练出高准确率高稳定性的预测模型,达到快速分析多点X值输入下电路测试覆盖率损失的目的.实验结果表明,本文模型的平均预测准确率达到了94.47%,相比于同类方法增加21.71%.单个电路的预测结果最低为89.03%,最高为99.99%,表明了本文预测模型具有很好的稳定性.     

f—CaO智能快速测定仪

介绍一种新的测定水泥熟料中 f-CaO 含量的智能快速测定仪,采用电导分析法,即测量溶液中的电导值,以求得溶液中某一物质的浓度。由单片机组成智能快速转换仪表系统,完成电导率与 f-CaO 含量的测量、转换以及显示、实现快速准确地测定水泥熟料中 f-CaO 的百分含量。     

一种小型系统邮箱电路的设计

本文介绍一种采用８１５５芯片，实现双ＣＰＵ系统的邮箱电路，该电路结构简单，操作方便。既可满足系统Ｉ／Ｏ扩展，又能兼顾邮箱功能实现。     

基于片上网络的容错通信方法

本文提出了一种基于片上网络的容错通信算法。若NoC中出现路由器或者链路故障,将导致NoC不能有效地进行通信。本方案为每个路由器的输出端口配置输出状态寄存器,标识出输出端口所连接的路由器或链路的故障状态,从而建立起一个新的容错模型,在路由时采用新的可重构路由算法避免这些故障的路由器和链路,从而达到保证NoC有效通信的目的。本文在5×52D-Mesh结构上仿真了所提出的方案,统计了数据传输时延,实验结果表明,与现有方案相比,这种方法能够在保证容忍NoC中路由器和链路故障的前提下,获得较低的通信时延。     

WiNoC中无线节点和无线链路级拥塞避免的高效路由器设计

无线片上网络中,无线网络拥塞可以分为无线节点级的拥塞和无线链路级的拥塞,这两种拥塞都会造成网络性能下降.针对无线节点和无线链路级拥塞,本文设计了一种拥塞避免的高效无线路由器,首先提出了节点级的拥塞避免机制,无线节点通过广播本地拥塞信息相互感知拥塞程度,避免向拥塞程度较高的无线节点发送数据包;其次提出了链路级拥塞避免机制,在无线接口中设计了并行FIFO,允许无线接口以流水的方式,在单个时钟周期内传输一个拥塞信息数据包和三个数据微片,数学建模证明使用并行FIFO至少降低50%无线信道竞争频率,从而避免了无线链路级拥塞,提高了无线资源利用率.实验表明本文方案相较普通无线路由器增加了少量的面积,但是在网络整体性能、无线路由器性能以及功耗方面都取得了不错的优势.     

基于折半划分的测试数据压缩方法

提出了一种新的测试数据压缩方法，它能有效地压缩测试数据。首先将整个测试集划分成若干定长块，对非全0/1块，使用折半的方法划分；对全0/1块，使用标记位来表示划分的次数。与传统的编码压缩方法相比，它只需要记住数据块被折半划分的次数就可表示其长度，同时还具有硬件解压结构和通信协议简单的优势。     

基于部分相容的动态LFSR重新播种方法

提出了一种基于部分动态LFSR重新播种的改进方法,利用向量的部分相容原理来减少需要编码的确定位的个数,提高数据压缩率。并使用时钟测试来减少生成测试向量所需的时间。实验结果表明,与目前国际同类编码压缩方法相比,该方法提高了编码效率,节约了测试时间。     

数据块前向相容标记码的测试数据压缩方法

提出一种类似于字典索引的编码压缩方法,将与参考数据块相容的测试数据块用"1"标记来压缩测试数据,解压体系结构只需要一个有限状态机和一个与数据块等长的循环扫描移位寄存器.与在Golomb码和FDR码中所需要的与测试向量等长的循环扫描移位寄存器相比,该方法的硬件开销较小.实验结果表明,该方法可以有效地压缩测试数据,且效果优于Golomb码和FDR码.     

基于边沿延时翻转的绑定前硅通孔测试方法

硅通孔（Through-Silicon Via,TSV）在制造过程中发生开路和短路等故障会严重影响3D芯片的可靠性和良率,因此对绑定前的TSV进行故障测试是十分必要的.现有的绑定前TSV测试方法仍存在故障覆盖不完全、面积开销大和测试时间大等问题.为解决这些问题,本文介绍一种基于边沿延时翻转的绑定前TSV测试技术.该方法主要测量物理缺陷导致硅通孔延时的变化量,并将上升沿和下降沿的延时分开测量以便消除二者的相互影响.首先,将上升沿延时变化量转化为对应宽度的脉冲信号;然后,通过脉宽缩减技术测量出该脉冲的宽度;最后,通过触发器的状态提取出测量结果并和无故障TSV参考值进行比较.实验结果表明,本文脉宽缩减测试方法在故障测量范围、面积开销等方面均有明显改善.