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本对亚微米MOSFET在漏雪崩恒流应力(DAS)条件下热载流子注入引起的退变现象做了实验研究,实验结果表明:在一般的恒流应力条件下,栅氧化层中由空穴注入形成的空穴陷阱电荷对器件特起主要影响作用,恒流应力过程中,任何附加的电子注入都可使器件退变特性发生明显变化。实验结果还证实,漏雪崩应力期间形成的空穴陷阱电荷可明显降低器件栅氧化层的介质击穿特性。 相似文献
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基于脉冲涡流红外热成像技术的缺陷特征提取与分析是无损检测领域的研究热点之一。该文提出一种新的脉冲涡流红外热图像特征提取算法并用于强化缺陷信息。该算法主要包括基于熵梯度的显著热图像选择、局部稀疏图像分离以及局部稀疏图像融合3个部分。对比于常用的两种脉冲涡流红外热成像数据特征提取算法——独立成分分析算法和鲁棒主成分分析算法,实验结果表明,该算法可以更好地强化有意义的缺陷信息并抑制包含噪声的背景区域。 相似文献
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目前表面检测技术已经比较成熟,但对精密表面下的细小缺陷却没有理想的检测手段。本文作者根据间歇式脉冲激励电涡流,以及法拉第磁光效应使反射光的偏振面发生偏转的原理,提出了一种磁光/涡流显微成像技术,日标是实现对亚表面细小缺陷的可视化无损检测。 相似文献
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