KPFM在电介质电荷行为研究中的应用

开尔文探针力显微镜（KPFM）是一种以纳米级分辨率对材料表面进行电势测量的重要工具,由于其对材料表面电荷的敏感性,近年来在电介质电荷行为研究中获得了广泛应用。本文介绍了KPFM的原理,归纳了KPFM应用于电介质中电荷行为的最新研究进展,重点分析了电介质中表面、界面电荷的扩散、迁移机制,还对KPFM在无机材料、纳米复合材料、铁电材料等典型电介质中的应用研究进行了综述。