无线传输中一种基于节能的多位纠错算法

在分析基于循环冗余校验码纠正单比特错误和基于CRC/BCH混合编码方法的基础上,提出了一种多位纠错算法,在一定的信噪比范围内分析了算法的纠错性能和对吞吐量的改善情况,算法降低了传输数据的误码率和误帧率,提高了系统的吞吐量.对纠错算法的能耗进行了分析比较,与ARQ方案,BCH纠错方案的能耗进行了对比,在一定的范围内算法有较高的能量利用率.     

一种支持大规模数据的多维可视化分析框架

以Hadoop为代表的可扩展大规模数据库难以进行多维可视化分析。为此,设计基于B/S架构的可视化分析框架Bizard。数据模型通过封装底层数据接口以支持业界多维数据访问协议XMLA,从而在展现层易于接入支持XMLA的传统分析工具,同时采用视图物化技术提高分析性能,利用互联网技术丰富用户分析体验。实验结果表明,该框架能在高达千万条记录级的数据上进行多维可视化分析。     

基于高斯混合模型的无线局域网定位算法

目标定位是无线局域网提供位置服务的基础。该文围绕无线局域网目标定位中的定位精度和实时性2个QoS指标,对基于RSSI的定位技术进行研究,提出一种基于高斯混合模型的无线局域网定位算法。该算法由离线训练和在线定位2个阶段组成,采用GMM对RSSI进行建模,降低了系统定位误差,并减少了定位阶段的运算量,提高了定位的实时性。仿真实验结果表明,该算法具有较好的定位精度和实时性。     

基于JTAG仿真的ARM Linux设备Bootkit检测技术研究*

ARM Linux嵌入式设备正遭受着日益严重的Bootkit威胁。针对传统检测技术对Bootkit检测的局限性,提出了一种基于JTAG的固件底层检测方法。该方法以基本块级跟踪和循环识别构成的系统跟踪优化算法为基础,利用跟踪系统的启动过程中记录到的信息,对Bootloader引导阶段和内核启动阶段进行监控,从而实现对ARM Linux嵌入式设备Bootkit的分阶段检测。实验结果表明,以跟踪优化算法为基础的Bootkit分段检测技术不仅极大提高了跟踪效率,亦有效检测出了Bootkit的存在,达到了预期效果。     

众核与Spark结合的高速流量监测系统

互联网应用的广泛普及导致了互联网流量的高速增长,这给网络运营商运营带来了巨大挑战,传统的流量监测系统的性能和可扩展性已经无法满足运营商的需求.本文尝试将众核技术与Spark相结合,基于校园网流量,提出了众核与Spark结合的高速流量监测系统.其中,众核处理器负责高速的流量采集、处理以及流量日志生成;Spark平台负责存储流量日志数据,并对其进行高速并行分析;Web Server负责数据的可视化.本文以校园网DNS流量为监测对象充分验证了该方案的可行性与扩展性.     

基于并行技术和流水线的LMS自适应滤波算法

针对现有自适应滤波算法中数据处理效率低的问 题,提出了基于并行技术和流水线的最小均方误差（Least mean square,LMS）自适应滤波算法。该算法构建基 于并行技术的多输入多输出滤波器结构,成倍提高系统滤波处理速度;设计基于流水线的LMS 自适应滤波权系数求解方法,有效改善了权系数计算效率。最后利用现场可编程门阵列(Field programmable gate array,FPGA)对该算法进行了验 证,结果表明,对于四级并行流水线四阶LMS自适应滤波器,其数据处理速率提高了约8倍,在相同的数据处理速率下,其功耗可降低约84%,从而提高了LMS自适应滤波处理速率,降低了系统功耗,实现了高速、超高速数据流的实时自适应滤波 处理。     

一种二次样条保单调Hermite插值方法

提出一种保单调的二次样条Hermite插值方法。该方法在研究总结其他二次样条插值方法的基础上,通过设定适当的结点斜率保证了插值曲线的单调性,并且给出了算法的严格证明;该算法在一个给定的点列上进行了验证,验证结果表明该算法可以得出连续、平滑的插值曲线,具备较为优秀的性能。     

存储级并行与处理器微体系结构

随着处理器和主存之间性能差距的不断增大,长延迟访存成为影响处理器性能的主要原因之一.存储级并行通过多个访存并行执行减少长延迟访存对处理器性能的影响.文中回顾了存储级并行出现的背景,介绍了存储级并行的概念及其与处理器性能模型之间的关系;分析了限制处理器存储级并行的主要因素;详细综述了提高处理器存储级并行的各种技术,进行了...     

一种高效SMP Cache一致性协议及其实现技术的研究

结点控制器是并行多处理机计算机系统设计中除CPU外的最复杂部件,随着设计工艺水平的提高,它的功能也日益增多。文章将深入介绍SMP多处理机系统结点控制器设计中的一种高效Cache一致性协议以及实现方面的关键技术。     

透绝缘层内窥透视集成电路法中Lock-in的应用

提出一种新的在扫描电子显微镜中非接触无损透过半导体和集成电路表面绝缘层显微内窥透视检测掩盖在其绝缘层下面的半导体的缺陷和集成电路微结构的检测法(简称透表法)和用此法所观测到的图像。同时,本文还介绍了在此新检测法中Lock-in的应用。